接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请公开了一种接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括：获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；获取与该发射电流参数值对应的目标低噪值；根据该目标低噪值，对该接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；根据校正后的接近值进行接近状态的检测。本申请可以提高接近状态检测的准确度。

【技术实现步骤摘要】
接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备
本申请属于传感器
，尤其涉及一种接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
目前，绝大多数终端上都安装有接近传感器(ProximitySensor)。接近传感器包括信号发射端和信号接收端。其中，信号发射端可以为用于向外界发射红外线的LED灯。在终端进行通话时，接近传感器可以根据信号发射端向外发出的红外线来判断用户是否将终端贴近脸部。当判断出用户将终端贴近脸部时，终端可以进行熄屏。当判断出用户将终端远离脸部时，终端可以点亮屏幕。
技术实现思路
本申请实施例提供一种的接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备，可以提高接近状态检测的准确度。本申请实施例提供一种接近状态的检测方法，包括：获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值；根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；根据校正后的接近值进行接近状态的检测。本申请实施例提供一种接近状态的检测装置，包括：第一获取模块，用于获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；第二获取模块，用于获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值；校正模块，用于根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；检测模块，用于根据校正后的接近值进行接近状态的检测。本申请实施例提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上执行时，使得所述计算机执行本申请实施例提供的接近状态的检测方法中的步骤。本申请实施例还提供一种电子设备，包括存储器，处理器，所述处理器通过调用所述存储器中存储的计算机程序，用于执行本申请实施例提供的接近状态的检测方法中的步骤。本申请实施例提供的接近状态的检测方法、装置、存储介质及电子设备，终端可以先获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值，以及与该发射电流参数值对应的目标低噪值。然后，终端可以根据该目标低噪值对接收端输出的接近值进行校正，并根据校正后的接近值进行接近状态的检测。由于终端可以根据与接近传感器信号发射端的发射电流相关的参数对接收端输出的接近值进行校正，并根据校正后的接近值进行接近状态的检测，因此本申请实施例可以提高终端进行接近状态检测的准确度。附图说明下面结合附图，通过对本专利技术的具体实施方式详细描述，将使本专利技术的技术方案及其有益效果显而易见。图1是本申请实施例提供的接近传感器的接近检测示意图。图2是本申请实施例提供的接近状态的检测方法的流程示意图。图3是本申请实施例提供的接近传感器的接近检测的另一种示意图。图4是本申请实施例提供的接近状态的检测方法的另一流程示意图。图5是本申请实施例提供的接近传感器信号发射端发射电流参数的变化示意图。图6至图7是本申请实施例提供的接近状态的检测方法的场景示意图。图8是本申请实施例提供的接近状态的检测装置的结构示意图。图9是本申请实施例提供的接近状态的检测装置的另一结构示意图。图10是本申请实施例提供的移动终端的结构示意图。图11是本申请实施例提供的移动终端的另一结构示意图。具体实施方式请参照图式，其中相同的组件符号代表相同的组件，本专利技术的原理是以实施在一适当的运算环境中来举例说明。以下的说明是基于所例示的本专利技术具体实施例，其不应被视为限制本专利技术未在此详述的其它具体实施例。接近传感器可以在通话时，检测用户是否将终端贴近脸部。若检测到用户将终端贴近脸部，那么终端可以关闭显示屏的背光。若检测到用户将终端远离脸部，那么终端可以点亮显示屏。请参阅图1，图1为接近传感器的工作示意图。接近传感器10可以包括信号发射端11和信号接收端12。信号发射端11可以向外发射红外线(IR)探测信号，红外线探测信号可以穿过盖板20。当接近传感器10前方有障碍物时，红外线探测信号经障碍物反射后进入信号接收端12。信号接收端12在接收到红外线探测信号后，可以根据接收到的红外线探测信号的强度输出一个接近值。若该接近值大于一预定的阈值，则终端会判断出处于接近状态。若该接近值小于一预定的阈值，则终端会判断出处于远离状态。可以理解的是，本申请实施例的执行主体可以是诸如智能手机或平板电脑等的终端设备。请参阅图2，图2是本申请实施例提供的接近状态的检测方法的流程示意图，流程可以包括：在步骤S101中，获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值。比如，在接近传感器处于工作状态时，终端可以先获取接近传感器信号发射端有关发射电流的参数的当前值。例如，接近传感器的信号发射端为用于向外界发射红外探测信号的LED灯，那么终端可以先获取该LED灯有关发射电流的参数值。在步骤S102中，获取与该发射电流参数值对应的目标低噪值。比如，在获取到信号发射端有关发射电流的参数值之后，终端可以获取与该参数值对应的低噪值，即目标低噪值。也即，该目标低噪值是在该发射电流参数值条件下接近传感器的低噪值。需要说明的是，接近传感器的低噪值是指在外界没有任何物体遮挡时，接近传感器的信号接收端接收到的来自发射端的绕射值。如图3所示，接近传感器10的信号发射端11向外发射红外线探测信号，其中一部分红外线探测信号111穿过盖板20，发射到外界，由于外界没有任何遮挡物体，因此这部分红外线探测信号111不会被信号接收端12接收到。信号发射端11向外发射的红外线探测信号的另一部分112未穿过盖板20，而是在盖板20上发生反射并被信号接收端接收到。信号接收端12接收到的这部分红外线探测信号112后，会对应计算出一个接近值，这个接近值就是低噪值。可见低噪值会对接近传感器输出的接近值产生影响，低噪值是对接近值造成误差的一个因素。在步骤S103中，根据该目标低噪值，对该接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正。在步骤S104中，根据校正后的接近值进行接近状态的检测。比如，步骤S103和S104可以包括：在获取到与该发射电流参数值对应的目标低噪值之后，终端可以根据该目标低噪值对接近传感器的信号接收端输出的接近值进行校正，并根据校正后的接近值进行接近状态的检测。可以理解的是，在不同的发射电流参数值条件下，接近传感器具有不同的低噪值。在本申请实施例中，由于可以根据与接近传感器的发射电流参数值对应的目标低噪值去校正接近值，因此校正后的接近值是符合实际的接近值，误差很小。即，本申请实施例根据校正后的接近值进行接近状态的检测，可以提高接近检测的准确度。请参阅图4，图4为本申请实施例提供的接近状态的检测方法的另一流程示意图，流程可以包括：在步骤S201中，终端获取接近传感器信号发射端的发射电流值，以及每次进行电流发射的持续时长。比如，在接近传感器处于工作状态时，终端可以先获取信号发射端当前的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长。在步骤S202中，终端获取与该发射电流值以及该持续时长对应的目标低噪值。比如，在获取到信号发射端当前的发射电流值以及每次进行电流发射的持续时长后，终端可以获取与该发射电流值以及该持续时长对应的低噪值，即目标低噪值。需要说明的是，接近传感器的低噪值是指在外界没有任何物体遮挡时，接近传感器的信号接收端接收到的来自发射端的绕射值。如图3所示，接近传感器的信号发射端11向外发射红外线探测信号，其中一部分红外线探测信号111穿过盖板20，发射到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种接近状态的检测方法，其特征在于，包括：获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值；根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；根据校正后的接近值进行接近状态的检测。

【技术特征摘要】
1.一种接近状态的检测方法，其特征在于，包括：获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值；获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值；根据所述目标低噪值，对所述接近传感器信号接收端输出的接近值进行校正；根据校正后的接近值进行接近状态的检测。2.根据权利要求1所述的接近状态的检测方法，其特征在于，所述获取接近传感器信号发射端的发射电流参数值，包括：获取接近传感器信号发射端的发射电流值，以及每次进行电流发射的持续时长；所述获取与所述发射电流参数值对应的目标低噪值包括：获取与所述发射电流值以及所述持续时长对应的目标低噪值。3.根据权利要求2所述的接近状态的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：统计预设时间范围内接近状态检测出错的次数；若检测到所述次数达到预设数值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长。4.根据权利要求3所述的接近状态的检测方法，其特征在于，所述若检测到所述次数达到预设数值，则降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长，包括：若检测到所述次数达到预设数值，则获取与所述次数对应的预设幅度值；按照所述预设幅度值，降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长。5.根据权利要求3所述的接近状态的检测方法，其特征在于，所述降低接近传感器信号发射端的发射电流值和/或每次进行电流发射的持续时长，包括：获取终端的当前电量值；若检测到所述当前电量...

【专利技术属性】
技术研发人员：张海平，周意保，
申请(专利权)人：广东欧珀移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44