用于检测巴氏杆菌耐药性的基因芯片制造技术

一种用于检测巴氏杆菌耐药性的基因芯片，涉及生物物质检测领域，它包括经过修饰的载玻片，该载玻片上固定一系列寡核苷酸点阵探针，其特征在于：所述载玻片为醛基修饰基片，预制合成的寡核苷酸探针点制于醛基修饰的玻片上，每条探针点４个重复；每个探针长度设计为１５－３０ｂｐ。本案以从巴氏杆菌中扩增得到的磺胺耐药基因ｓｕｌⅠ、ｓｕｌⅡ、链霉素耐药基因ｓｔｒＡ、ｓｔｒＢｙ、氯霉素耐药基因ＣａｔＢ２和四环素耐药基因ＴｅｔＧ等６种耐药基因为靶基因，构建了耐药基因的基因检测芯片。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于检测巴氏杆菌耐药性的基因芯片，包括经过修饰的载玻片，该载玻片上固定一系列寡核苷酸点阵探针，其特征在于：所述载玻片为醛基修饰基片，预制合成的寡核苷酸探针点制于醛基修饰的玻片上，每条探针点４个重复；每个探针长度设计为１５－３０ｂｐ。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：金天明，李向阳，段县平，刘海学，毛景东，武迎红，程汉良，张伟，
申请(专利权)人：天津农学院，
类型：实用新型
国别省市：12[中国|天津]