高密度基因芯片的制作方法技术

本发明专利技术是一种高密度基因芯片的制作方法，更准确地说，是一种高密度寡核苷酸探针微阵列的制作方法。首先提出一种基因芯片上寡核苷酸探针的选择方法，即变长变覆盖探针优化选择方法，该方法保证所有探针的杂交解链温度最大程度地一致，可以较大程度地降低基因芯片杂交控制的复杂性，提高基因芯片检测结果的可靠性。此外，在本发明专利技术中还提出直接检测目标序列、检测特定位点突变及检测非特定位点突变的具体探针选择方法和探针布局方案。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种高密度基因芯片的制作方法，其特征在于：该方法是根据一个给定的目标核苷酸序列，采用变长变覆盖的方法选择一个覆盖给定目标核苷酸序列的探针集合，通过调节两个探针参数即探针长度和相邻探针之间的覆盖长度，动态调节探针的杂交解链温度Ｔ↓［ｍ］，使得探针集合中各探针满足杂交解链温度最大程度地相近或一致，从而形成基因芯片上的优化探针集合；对于多个目标序列，首先根据前面的方法得到检测第一个目标序列的探针集合，然后顺序处理其它目标序列，依此得到其它对应的探针集合，使得所有探针满足杂交解链温度最大程度地相近或一致；最后将探针排列在芯片上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙啸，陆祖宏，王晔，赵雨杰，
申请(专利权)人：东南大学，
类型：发明
国别省市：84[中国|南京]