一种椭圆偏振术检测DNA芯片杂交的方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术是一种椭圆偏振术检测ＤＮＡ芯片杂交效率的方法及其装置。现有技术的检测方法多是将探针固定在基片上，去检测标记过的样品，这样的检测需要时间和等待，而且检测信号会随标记物信号的衰减而失去准确性。本发明专利技术用椭圆偏振仪检测ＤＮＡ芯片杂交效率，通过生物分子本身的光学性质，测得其椭圆偏振参数Ψ、Δ，定义与探针完全匹配的样品和只有探针存在时的芯片杂交效率分别为极大值和极小值，从而获得待测样品的杂交效率。本发明专利技术装置简捷，测量快速准确。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种椭圆偏振术检测ＤＮＡ芯片杂交的方法，椭偏光谱测量中两个椭偏参量是Ψ和Δ：ρ＝Ｒｐ／Ｒｓ＝（ｒ↓［ｐ］／ｒ↓［ｓ］）ｅｘｐ［ｉ（δｐ－δｓ）］＝ｔａｎΨｅｘｐ（ｉΔ），式中ρ为膜层的复反射比，Ｒｐ和Ｒｓ分别为光束倾斜入射时，ｐ偏振光和 ｓ偏振光的复反射率，ｔａｎΨ和Δ分别表示ｐ偏振光和ｓ偏振光的振幅比和相位差，由上式可得下式：ｔａｎΨ＝ｒ↓［ｐ］／ｒ↓［ｓ］ Δ＝δｐ－δｓ选择λ＝４５０－５５０ｎｍ范围测量，定义完全匹配的样品杂交效率是１００％，没有进行杂交反应的 探针的杂交效率是零，则杂交效率η＝｜Ψ↓［样品］－Ψ↓［Ｂ］｜／｜Ψ↓［Ａ］－Ψ↓［Ｂ］｜，其中Ψ↓［样品］是待测样品杂交后的Ψ测量值，Ψ↓［Ａ］是完全匹配序列杂交后的Ψ测量值，Ψ↓［Ｂ］是没有进行杂交反应的探针的Ψ测量值，若用Δ来计算，方法相同。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：符维娟，李晶，周仕明，周鲁卫，陈良尧，
申请(专利权)人：复旦大学，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]