一种肖特基二极管高温反偏试验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种肖特基二极管高温反偏试验装置，包括实验主板，所述实验主板的下端设有支撑座，所述实验主板的上表面等距离设有预设数量的环形支撑板，所述实验主板的上表面等距离设有预设数量的通孔，且通孔分别位于预设数量的环形支撑板的内侧，所述实验主板的上表面还等距离设有预设数量的支撑柱，所述支撑柱的侧壁上对称开设有两个滑动槽，每个所述滑动槽的内部均等距离设有预设数量的插孔，每个所述支撑柱的外侧均套设有第一套环，所述第一套环的一侧设有连接块，本实用新型专利技术成本低，体积小，可以方便快捷的得知三极管/二极管在承受设定温度、设定电流下的最长工作时间，便于试验使用，可以分析产品性能，提高产品可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种肖特基二极管高温反偏试验装置
本技术涉及高温反偏试验设备
，尤其涉及一种肖特基二极管高温反偏试验装置。
技术介绍
现有的用于测试二极管、三极管的高温反偏试验装置由高温烘箱、偏置板、反偏电源、及其控制系统、显示系统等部分组成，该装置包括电源、主控制系统、辅助控制系统、计算机、显示器、接插件、偏置板、恒温室，集中一起，设备体积庞大，价格昂贵，对于安装场所要求进门大小和高度有特殊要求，所以该装置使用条件受到很大限制，但是由于高温反偏性能是评估半导体产品可靠性的重要试验设备，且产品在具体使用之前，不知道其能在承受设定温度和电流下工作下多长时间，这给产品的使用带来很大不便。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决
技术介绍
中的问题，而提出的一种肖特基二极管高温反偏试验装置，有效解决了肖特基二极管性能评估，给产品的使用带来了较大方便。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种肖特基二极管高温反偏试验装置，包括实验主板，所述实验主板的下端设有支撑座，所述实验主板的上表面等距离设有预设数量的环形支撑板，所述实验主板的上表面等距离设有预设数量的通孔，且通孔分别位于预设数量的环形支撑板的内侧，所述实验主板的上表面还等距离设有预设数量的支撑柱，所述支撑柱的侧壁上对称开设有两个滑动槽，每个所述滑动槽的内部均等距离设有预设数量的插孔，每个所述支撑柱的外侧均套设有第一套环，所述第一套环的一侧设有连接块，所述连接块远离第一套环的一侧设有与环形支撑板位置对应的第三套环，所述第三套环的内侧设有第二套环，且第二套环和第三套环之间设有弹性结构。优选的，所述实验主板的一侧装设有连接线。优选的，所述弹性结构由弹性杆和绕设在弹性杆上的第二弹簧组成。优选的，所述第一套环的外侧对称设有两个限位杆，每个所述限位杆上均设有两个插杆，且插杆的一端贯穿第一套环并延伸至插孔的内部，所述插杆远离插孔的一端设有拉板，所述限位杆和第一套环之间设有预设数量的第一弹簧。优选的，所述实验主板为长方体中空结构。优选的，所述支撑座的下表面设有防滑垫片，且防滑垫片和支撑座之间通过锁紧螺钉连接。本技术中，将三极管/二极管放在橡胶制成的第二套环的内侧，并且可收缩的弹性结构可以方便第二套环改变大小，以此来适应不同大小的三极管/二极管，然后拉动拉板，使得插杆从插孔中移出，然后上下移动第一套环，第一套环带动第二套环和第三套环上下移动，当移动到合适的位置时，松开拉板，在第一弹簧的作用下，插杆插到插孔中，起到固定的作用，然后三极管/二极管插到通孔中进行试验，并且环形支撑板也可以起到支撑的作用，而且该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本技术成本低，体积小，可以方便快捷的得知三极管/二极管在承受设定温度、设定电流下的最长工作时间，便于试验使用，可以分析产品性能，提高产品可靠性。附图说明图1为本技术提出的一种肖特基二极管高温反偏试验装置的结构示意图；图2为本技术提出的一种肖特基二极管高温反偏试验装置的部分结构俯视图。图中：1实验主板、2支撑座、3支撑柱、4环形支撑板、5通孔、6连接线、7插孔、8滑动槽、9第一套环、10限位杆、11拉板、12第一弹簧、13第二套环、14第三套环、15弹性机构、16连接块。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。参照图1-2，一种肖特基二极管高温反偏试验装置，包括实验主板1，实验主板1的下端设有支撑座2，实验主板1的上表面等距离设有预设数量的环形支撑板4，实验主板1的上表面等距离设有预设数量的通孔5，且通孔5分别位于预设数量的环形支撑板4的内侧，实验主板1的上表面还等距离设有预设数量的支撑柱3，支撑柱3的侧壁上对称开设有两个滑动槽8，每个滑动槽8的内部均等距离设有预设数量的插孔7，每个支撑柱3的外侧均套设有第一套环9，第一套环9的一侧设有连接块16，连接块16远离第一套环9的一侧设有与环形支撑板4位置对应的第三套环14，第三套环14的内侧设有第二套环13，且第二套环13和第三套环14之间设有弹性结构15；实验主板1的一侧装设有连接线6，弹性结构15由弹性杆和绕设在弹性杆上的第二弹簧组成，第一套环9的外侧对称设有两个限位杆10，每个限位杆10上均设有两个插杆，且插杆的一端贯穿第一套环9并延伸至插孔7的内部，插杆远离插孔7的一端设有拉板11，限位杆10和第一套环9之间设有预设数量的第一弹簧12，实验主板1为长方体中空结构，支撑座2的下表面设有防滑垫片，且防滑垫片和支撑座2之间通过锁紧螺钉连接。本技术中，将三极管/二极管放在橡胶制成的第二套环13的内侧，并且可收缩的弹性结构15可以方便第二套环13改变大小，以此来适应不同大小的三极管/二极管，然后拉动拉板11，使得插杆从插孔7中移出，然后上下移动第一套环9，第一套环9带动第二套环13和第三套环14上下移动，当移动到合适的位置时，松开拉板11，在第一弹簧12的作用下，插杆插到插孔7中，起到固定的作用，然后三极管/二极管插到通孔5中进行试验，并且环形支撑板4也可以起到支撑的作用。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种肖特基二极管高温反偏试验装置，包括实验主板（1），其特征在于，所述实验主板（1）的下端设有支撑座（2），所述实验主板（1）的上表面等距离设有预设数量的环形支撑板（4），所述实验主板（1）的上表面等距离设有预设数量的通孔（5），且通孔（5）分别位于预设数量的环形支撑板（4）的内侧，所述实验主板（1）的上表面还等距离设有预设数量的支撑柱（3），所述支撑柱（3）的侧壁上对称开设有两个滑动槽（8），每个所述滑动槽（8）的内部均等距离设有预设数量的插孔（7），每个所述支撑柱（3）的外侧均套设有第一套环（9），所述第一套环（9）的一侧设有连接块（16），所述连接块（16）远离第一套环（9）的一侧设有与环形支撑板（4）位置对应的第三套环（14），所述第三套环（14）的内侧设有第二套环（13），且第二套环（13）和第三套环（14）之间设有弹性结构（15）。

【技术特征摘要】
1.一种肖特基二极管高温反偏试验装置，包括实验主板（1），其特征在于，所述实验主板（1）的下端设有支撑座（2），所述实验主板（1）的上表面等距离设有预设数量的环形支撑板（4），所述实验主板（1）的上表面等距离设有预设数量的通孔（5），且通孔（5）分别位于预设数量的环形支撑板（4）的内侧，所述实验主板（1）的上表面还等距离设有预设数量的支撑柱（3），所述支撑柱（3）的侧壁上对称开设有两个滑动槽（8），每个所述滑动槽（8）的内部均等距离设有预设数量的插孔（7），每个所述支撑柱（3）的外侧均套设有第一套环（9），所述第一套环（9）的一侧设有连接块（16），所述连接块（16）远离第一套环（9）的一侧设有与环形支撑板（4）位置对应的第三套环（14），所述第三套环（14）的内侧设有第二套环（13），且第二套环（13）和第三套环（14）之间设有弹性结构（15）。2.根据权利要求1所述的一种肖特基二极管...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔凡伟，段花山，朱坤恒，
申请(专利权)人：山东晶导微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37