一种测量仪的测高结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测量仪的测高结构，包括基板一、基板二和测试平台，所述测试平台的上端固定有基板一，所述基板一的中心处开设有紧固螺孔，所述紧固螺孔共设置有三个，且三个紧固螺孔等距离分布在基板一上方，所述基板一的一侧固定连接有气缸，所述气缸的一侧通过连接柱活动连接有基板二，所述基板二呈长方形形状，且基板二与基板一之间设置有直线导轨一，此高度测量仪的测高结构，在设备上设置的直线导轨一，能够有效的减小测量部分升降过程中的摩擦力，且直线导轨二和弹簧的设置则减小了千分表在运动过程中的摩擦力，同时也保证了再重复测试一致性的目的，同时基点模块与测试平台相互垂直则保证了参考位置的一致性。

A height measurement structure for a measuring instrument

The utility model discloses a height measuring instrument, which comprises a substrate, a two substrate and a test platform. The upper end of the test platform is fixed with a substrate, the center of the substrate is provided with a fastening screw, the fastening screw is provided with three, and the three fastening screw distance distribution in a top side of the substrate, the substrate is fixedly connected with the cylinder, one side of the cylinder through the connecting column is movably connected with the substrate two, the substrate two is a rectangular shape, and the substrate two and a substrate is arranged between the linear guide rail, the height of the height measuring instrument structure, the settings on the device a linear guide, can effectively reduce the friction measurement process in lifting part, and the linear guide two and the arrangement of the spring is reduced in the micrometer movement in the process of friction, but also to ensure the Again, the goal of testing consistency is repeated, while the base point module and the test platform are perpendicular to each other to ensure the consistency of the reference position.

【技术实现步骤摘要】
一种测量仪的测高结构
本技术涉及测高设备的
，具体为一种测量仪的测高结构。
技术介绍
随着社会的不断发展，科学技术的不断更新，国家对光电技术企业大力支持，我国的光电技术也在不断的完善，光电技术是一门集光学、机械与电子于一体的综合性先导技术，光电产品种类也不断推陈出新，其应用极为广泛，层面扩及通讯、信息、生化、医疗、工业、能源、民生等各个领域，目前呈现出一片生机勃勃的发展态势，我国内这一行业的生产配套仪器设备也在不断的增加，尤其在高度精度测量这一方面，但是目前国内某些厂家销售的高度精度测量设备在使用的过程中仍存在一些不足之处。1、在高度高精度测量这方面主要依靠人工完成，速度慢，高度测量精度存在较大的误差，从而影响产品的精度。2、高度高精度测量的一致性差，导致产品品质降低，严重影响了生产过程中的效率，不能满足人们的需求。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种测量仪的测高结构，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种测量仪的测高结构，包括基板一、基板二和测试平台，所述测试平台的上端固定有基板一，所述基板一的中心处开设有紧固螺孔，所述紧固螺孔共设置有三个，且三个紧固螺孔等距离分布在基板一上方，所述基板一的一侧固定连接有气缸，所述气缸的一侧通过连接柱活动连接有基板二，所述基板二呈长方形形状，且基板二与基板一之间设置有直线导轨一，且基板二的另一侧活动连接有直线导轨二，所述直线导轨二的一侧固定连接有基板三，所述基板三的一侧固定有同步杆，所述同步杆的另一侧与千分表进行固定连接，所述测试平台的上方设置有基点模块，所述基点模块呈圆柱形形状，且基点模块的中心处设置有中空槽，所述基板二、直线导轨二和基板三的内部设置有弹簧。优选的，所述基板一的中心处开设有口槽。优选的，所述基板二的一侧开设有凹槽，所述凹槽的一侧设置有紧固螺孔，且凹槽的一侧开设有口槽。优选的，所述基板一、基板二和基板三均与测试平台水平面垂直。优选的，所述气缸与外部电源进行电性连接。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、本技术在设备上设置的直线导轨一，能够有效的减小测量部分升降过程中的摩擦力，且直线导轨二和弹簧的设置则减小了千分表在运动过程中的摩擦力，同时也保证了再重复测试一致性的目的，同时基点模块与测试平台相互垂直则保证了参考位置的一致性。2、本技术解决了人工测试过程中用力大小不一致带来的测量精度不高的弊端，更是解决了使生产实现自动化过程中必不可少的一部分，提高产品的测量精度，提高产品品质。3、本技术在设备上设置有弹簧，使得整个测试结构在落下的过程中，基板三有个向下的作用力，保证了整个测量结构的测量高精度、高一致性的要求。附图说明图1为本技术整体结构俯视图；图2为本技术基板一结构侧视图；图3为本技术基板二结构侧视图；图4为本技术基板三结构俯视图；图5为本技术基点模块结构俯视图。图中：1-基板一；2-直线导轨一；3-基板二；4-弹簧；5-直线导轨二；6-气缸；7-连接柱；8-基板三；9-同步杆；10-千分表；11-基点模块；12-测试平台；13-紧固螺孔；14-口槽；15-凹槽；16-中空槽。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-5，本技术提供一种技术方案：一种测量仪的测高结构，包括基板一1、基板二3和测试平台12，所述测试平台12的上端固定有基板一1，所述基板一1的中心处开设有紧固螺孔13，所述紧固螺孔13共设置有三个，且三个紧固螺孔13等距离分布在基板一1上方，所述基板一1的一侧固定连接有气缸6，所述气缸6的一侧通过连接柱7活动连接有基板二3，所述基板二3呈长方形形状，且基板二3与基板一1之间设置有直线导轨一2，且基板二3的另一侧活动连接有直线导轨二5，所述直线导轨二5的一侧固定连接有基板三8，所述基板三8的一侧固定有同步杆9，所述同步杆9的另一侧与千分表10进行固定连接，所述测试平台12的上方设置有基点模块11，所述基点模块11呈圆柱形形状，且基点模块11的中心处设置有中空槽16，所述基板二3、直线导轨二5和基板三8的内部设置有弹簧4。所述基板一1的中心处开设有口槽14，所述基板二3的一侧开设有凹槽15，所述凹槽15的一侧设置有紧固螺孔13，且凹槽15的一侧开设有口槽14，所述基板一1、基板二3和基板三8均与测试平台12水平面垂直，所述气缸6与外部电源进行电性连接。所述气缸6能够完成整个高度测量结构的升降，所述直线导轨一2能够使高度测量部分升降过程中的摩擦力最小化，所述直线导轨二5和弹簧4则起到测试千分表10的运动过程中减小摩擦力。工作原理：使用时，将即将进行测量的物体水平放置在测试平台12上，然后将气缸6与外部电源进行电性连接，通过连接柱7使得基板二3、直线导轨二5和基板三8向上运动，然后通过同步杆9给千分表10提供一个向上的力，然后再根据测量物体的实际高度进行精确测量，在测量的过程中，气缸6为整个设备提供一个升降的作用力，直线导轨一2能够有效的减小摩擦力，直线导轨二5和弹簧4则减小了千分表10运动过程中的摩擦力。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量仪的测高结构，包括基板一（1）、基板二（3）和测试平台（12），其特征在于：所述测试平台（12）的上端固定有基板一（1），所述基板一（1）的中心处开设有紧固螺孔（13），所述紧固螺孔（13）共设置有三个，且三个紧固螺孔（13）等距离分布在基板一（1）上方，所述基板一（1）的一侧固定连接有气缸（6），所述气缸（6）的一侧通过连接柱（7）活动连接有基板二（3），所述基板二（3）呈长方形形状，且基板二（3）与基板一（1）之间设置有直线导轨一（2），且基板二（3）的另一侧活动连接有直线导轨二（5），所述直线导轨二（5）的一侧固定连接有基板三（8），所述基板三（8）的一侧固定有同步杆（9），所述同步杆（9）的另一侧与千分表（10）进行固定连接，所述测试平台（12）的上方设置有基点模块（11），所述基点模块（11）呈圆柱形形状，且基点模块（11）的中心处设置有中空槽（16），所述基板二（3）、直线导轨二（5）和基板三（8）的内部设置有弹簧（4）。

【技术特征摘要】
1.一种测量仪的测高结构，包括基板一（1）、基板二（3）和测试平台（12），其特征在于：所述测试平台（12）的上端固定有基板一（1），所述基板一（1）的中心处开设有紧固螺孔（13），所述紧固螺孔（13）共设置有三个，且三个紧固螺孔（13）等距离分布在基板一（1）上方，所述基板一（1）的一侧固定连接有气缸（6），所述气缸（6）的一侧通过连接柱（7）活动连接有基板二（3），所述基板二（3）呈长方形形状，且基板二（3）与基板一（1）之间设置有直线导轨一（2），且基板二（3）的另一侧活动连接有直线导轨二（5），所述直线导轨二（5）的一侧固定连接有基板三（8），所述基板三（8）的一侧固定有同步杆（9），所述同步杆（9）的另一侧与千分表（10）进行固定连接，所述测试平台（12）的上方设置有基...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺可祯，张德田，
申请(专利权)人：淄博丰雁电子元件有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37