【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】介电组成、介电元件、电子部件和多层电子部件
本专利技术涉及介电组成以及包括所述介电组成的介电元件,并且涉及电子部件和层压电子部件;更具体地,本专利技术涉及被用于具有相对高的额定电压的应用的介电组成、介电元件、电子部件和层压电子部件。
技术介绍
近年来,随着电子电路达到更高的密度,对介电元件的小型化和改进的可靠性的需求越来越大。电子部件(诸如层压陶瓷电容器)正迅速地变得更紧凑,实现更高的容量并且变得更可靠,同时电子部件(诸如层压陶瓷电容器)的应用也在扩大。随着这些应用扩大,需要各种电气特性,诸如层压陶瓷电容器的电容的温度特性、在施加DC电场(DC偏压)期间的电容、电阻率和可靠性。特别地,为了实现用于中等电压和高电压用途的陶瓷电容器(其在高额定电压(例如,100V或更多)下采用)的小型化和增加的容量,需要介电组成的在施加DC偏压期间的介电常数、电阻率和可靠性的改进,所述介电组成形成用于中等电压和高电压用途的陶瓷电容器的介电层。为了符合诸如上面提到的那些之类的各种需求,包括BaTiO3(其具有高介电常数)作为主要组分的各种类型的介电组成已经被研究作为在层压陶瓷电容器中采 ...
【技术保护点】
包括具有钙钛矿晶体结构的颗粒的介电组成,该钙钛矿晶体结构包括至少Bi、Na、Sr和Ti,其特征在于:颗粒中的至少一些具有核‑壳结构,所述核‑壳结构包括核部分和壳部分;并且存在于核部分中的Bi的含量是存在于壳部分中的Bi的含量的至少1.2倍。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.07.17 JP 2015-1433951.包括具有钙钛矿晶体结构的颗粒的介电组成,该钙钛矿晶体结构包括至少Bi、Na、Sr和Ti,其特征在于:颗粒中的至少一些具有核-壳结构,所述核-壳结构包括核部分和壳部分;并且存在于核部分中的Bi的含量是存在于壳部分中的Bi的含量的至少1.2倍。2.根据权利要求1所述的介电组成,其中,在介电组成的横截面中S1:S2=1:99-20:80,其中S1是核部分的平均横截面面积并且S2是壳部分的平均横截面面积。3.根据权利要求1或2所述的介电组成,其中,在介电组成的横截面中,核部分的总横截...
【专利技术属性】
技术研发人员:G田内,M广濑,T井川,T寺田,
申请(专利权)人:埃普科斯股份有限公司,
类型:发明
国别省市:德国,DE
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