检测碳氢化合物渗漏的取样技术制造技术

方法、系统和设备包括在计算机存储介质上进行编码以用于检测地下区域中的碳氢化合物的渗漏的程序。一方面，方法包括在勘探地理区域中在距离地面的多个不同取样深度处检测碳氢化合物渗漏，比较多个不同取样深度处的碳氢化合物渗漏中的每一个，其中参考深度处的碳氢化合物渗漏是已知的，和基于比较结果确定通过勘探地理区域的碳氢化合物渗漏。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检测碳氢化合物渗漏的取样技术相关申请的交叉引用本申请要求了于2015年5月20日提出申请的美国专利申请第62/164,277号的优先权，其全部内容通过引用在此合并。
本专利技术涉及对碳氢化合物从地下区域渗漏的检测。
技术介绍
可以从特定的地下区域以地球化学的方式检测例如油和气体的碳氢化合物。由于全球对能源需求的增长，包括油气藏的地下区域的识别变得越来越难进行定位和访问。在过去，通常在可见油苗(宏渗漏)附近进行钻井从而访问油气藏。现在，宏渗漏相对罕见，而涉及油气藏识别的努力则主要聚焦在隐形油渗漏(微渗漏)的检测。不同的地球化学方法可以在近地表勘探被使用，以测量与微渗漏相关联的数据。例如，可以使用敏感仪器用于直接和间接微渗漏检测方法。微渗漏检测方法的技术和灵敏性的提高可以有益于降低油气勘探的风险和有效地定位地下油气藏。
技术实现思路
本说明书描述了与来自地下区域的碳氢化合物的渗漏的检测相关的地球化学方法。在一些示例中，针对碳氢化合物渗漏对地理区域进行取样的方法包括以下步骤：在勘探地理区域中在距离地面的第一取样深度处检测碳氢化合物渗漏；在距离地面的第二取样深度处检测碳氢化合物渗漏，所述第二取样本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种针对碳氢化合物渗漏对地理区域进行取样的方法，包括以下步骤：在勘探地理区域中在距离地面的第一取样深度处检测碳氢化合物渗漏；在距离地面的第二取样深度处检测碳氢化合物渗漏，所述第二取样深度比所述第一取样深度深；在距离地面的第三取样深度处检测碳氢化合物渗漏，所述第三取样深度比所述第二取样深度深；将第一取样深度处的碳氢化合物渗漏、第二取样深度处的碳氢化合物渗漏和第三取样深度处的碳氢化合物渗漏中的每一个与比第一取样深度、第二取样深度和第三取样深度深的参考深度处的碳氢化合物渗漏进行比较，其中参考深度处的碳氢化合物渗漏是已知的；和基于将第一取样深度处的碳氢化合物渗漏、第二取样深度处的碳氢化合物渗漏和第三取...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.05.20 US 62/164,2771.一种针对碳氢化合物渗漏对地理区域进行取样的方法，包括以下步骤：在勘探地理区域中在距离地面的第一取样深度处检测碳氢化合物渗漏；在距离地面的第二取样深度处检测碳氢化合物渗漏，所述第二取样深度比所述第一取样深度深；在距离地面的第三取样深度处检测碳氢化合物渗漏，所述第三取样深度比所述第二取样深度深；将第一取样深度处的碳氢化合物渗漏、第二取样深度处的碳氢化合物渗漏和第三取样深度处的碳氢化合物渗漏中的每一个与比第一取样深度、第二取样深度和第三取样深度深的参考深度处的碳氢化合物渗漏进行比较，其中参考深度处的碳氢化合物渗漏是已知的；和基于将第一取样深度处的碳氢化合物渗漏、第二取样深度处的碳氢化合物渗漏和第三取样深度处的碳氢化合物渗漏中的每一个与参考深度处的碳氢化合物渗漏进行比较的结果确定通过勘探地理区域的碳氢化合物渗漏。2.根据权利要求1所述的方法，其中，在第一取样深度处检测碳氢化合物渗漏、在第二取样深度处检测碳氢化合物渗漏和在第三取样深度处检测碳氢化合物渗漏的步骤包括：将多个第一碳氢化合物传感器定位在第一取样深度处；将多个第二碳氢化合物传感器定位在第二取样深度处；和将多个第三碳氢化合物传感器定位在第三取样深度处，其中多个第一碳氢化合物传感器、多个第二碳氢化合物传感器和多个第三碳氢化合物传感器被配置成分别检测第一取样深度处的碳氢化合物、第二取样深度处的碳氢化合物和第三取样深度处的碳氢化合物。3.根据权利要求2所述的方法，其中，将多个第一碳氢化合物传感器定位在第一取样深度处的步骤包括：将多个第一碳氢化合物传感器以二维阵列的方式定位在第一取样深度处。4.根据权利要求1所述的方法，其中，第一取样深度距离地面大约为1.0米。5.根据权利要求2所述的方法，其中，将多个第二碳氢化合物传感器定位在第二取样深度处的步骤包括：将多个第二碳氢化合物传感器以二维阵列的方式定位在第二取样深度处。6.根据权利要求1所述的方法，其中，第二取样深度距离地面大约为5.0米。7.根据权利要求2所述的方法，其中，将多个第三碳氢化合物传感器定位在第三取样深度处的步骤包括：将多个第三碳氢化合物传感器以二维阵列的方式定位在第三取样深度处。8.根据权利要求1所述的方法，其中，第三取样深度距离地面大于10.0米。9.根据权利要求1所述的方法，还包括以下步骤：将参考碳氢化合物传感器定位在参考深度处，所述参考碳氢化合物传感器被配置成检测参考深度处的碳氢化合物。10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述参考深度在勘探地理区域中的油气储层内。11.根据权利要求9所述的方法，其中，将第一取样深度处的碳氢化合物渗漏、第二取样深度处的碳氢化合物渗漏和第三取样深度处的碳氢化合物渗漏中的每一个与比第一取样深度、第二取样深度和第三取样深度深的参考深度处的碳氢化合物渗漏进行比较的步骤包括：检测参考深度处的碳氢化合物渗漏。12.根据权利要求9所述的方法，其中，将第一取样深度处的碳氢化合物渗漏、第二取样深度处的碳氢化合物渗漏和第三取样深度处的碳氢化合物渗漏中的每一个与比第一取样深度、第二取样深度和第三取样深度深的参考深度处的碳氢化合物渗漏进行比较的步骤包括：确定表示参考深度处的碳氢化合物渗漏的参考碳氢化合物渗漏信号；确定表示第一取样深度处的碳氢化合物渗漏的第一碳氢化合物渗漏信号；确定表示第二取样深度处的碳氢化合物渗漏的第...

【专利技术属性】
技术研发人员：马赫迪·阿布阿利，马赫·I·阿尔马胡恩，凯哈德·阿罗瑞，
申请(专利权)人：沙特阿拉伯石油公司，
类型：发明
国别省市：沙特阿拉伯,SA