继电保护装置的寿命检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及继电保护装置的寿命检测装置，在继电保护装置的每组电解电容对角线上设置测温模块，实时检测电解电容的温度。在继电保护装置以继电保护装置的输出端设置电压测量模块，实时检测继电保护装置输出的电压波纹。由CPU主控芯片利用电解电容的温度和继电保护装置的电压波纹检测获得继电保护装置剩余寿命。本实用新型专利技术实施例提供的继电保护装置的寿命检测装置，能够在不断电的情况下检测继电保护装置的剩余寿命，从而不会对电网运行造成任何影响，不会影响正常供电。

Life testing device for relay protection device

The utility model relates to a life detection device for a relay protection device, and a temperature measuring module is set on each diagonal line of each electrolytic capacitor in the relay protection device, and the temperature of the electrolytic capacitor is detected in real time. In the relay protection device, the voltage measurement module is set up at the output end of the relay protection device, and the voltage ripple output from the relay protection device is detected in real time. The remaining life of the relay protection device is obtained by the CPU main control chip using the temperature of the electrolytic capacitor and the voltage ripple detection of the relay protection device. The life detection device of the relay protection device provided by the embodiment of the utility model can detect the remaining life of the relay protection device under the condition of continuous electricity, so that it will not cause any influence on the operation of the power grid, and will not affect the normal power supply.

【技术实现步骤摘要】
继电保护装置的寿命检测装置
本技术涉及领域电气信息
，特别是涉及一种继电保护装置的寿命检测装置。
技术介绍
芯片化的继电保护装置是一种新型的继电保护装置，芯片化的继电保护装置是保证电网正常运行的关键设备，若其本身发生故障影响巨大。目前只能依赖传统的周期性检修来排除装置故障，这种方法有很多缺点：一是可能还没到检修周期，装置电源就换了，需要紧急停电维修，影响正常供电；二是对继电保护装置寿命有影响的部件会定期更换，有时把不需要更换的器件换掉了，既造成资源浪费也会引入新的故障点。总体来说，目前缺少对继电保护装置运行寿命的预判，还无法达到防患于未然的目的。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统技术中的问题提供一种继电保护装置的寿命检测装置，该继电保护装置的寿命检测装置能够估算出继电保护装置的剩余寿命。本技术实施例提供的继电保护装置的寿命检测装置，包括：电源监视模块、用于产生当前时间的时间测量模块、数据处理模块和存储模块，其中，所述电源监视模块包括测温模块和电压测量模块，其中，所述测温模块设置在所述继电保护装置中每组电解电容对角线上，所述电压测量模块与所述继电保护装置的电压输出端相连；所述数据处理模块包括利用电解电容的温度和继电保护装置的电压波纹计算继电保护装置剩余寿命的CPU主控芯片，所述CPU主控芯片分别与所述测温模块的输出端、电压测量模块的输出端、时间测量模块的输出端以及存储模块相连。本技术中，在继电保护装置的每组电解电容对角线上设置测温模块，实时检测电解电容的温度。在继电保护装置以继电保护装置的输出端设置电压测量模块，实时检测继电保护装置输出的电压波纹。由所述CPU主控芯片利用电解电容的温度和继电保护装置的电压波纹检测获得继电保护装置剩余寿命。本技术实施例提供的继电保护装置的寿命检测装置，在检测继电保护装置的剩余寿命时不会对电网运行造成任何影响，不会影响正常供电。在一个实施例中，还包括通信模块，所述通信模块与所述CPU主控芯片相连。在一个实施例中，所述测温模块包括硅温度传感器，所述硅温度传感器表贴安装在每组电解电容对角线上。在一个实施例中，所述电源监视模块还包括变压模块，所述变压模块用于将外部输入的电压转换为所述寿命检测装置的额定工作电压。在一个实施例中，所述电源监视模块还包括端口防护模块，所述端口防护模块用于为所述寿命检测装置提供EMC(ElectroMagneticCompatibility，电磁兼容性)防护。在一个实施例中，所述时间测量模块包括：晶振和RTC(Real-TimeClock，实时时钟)芯片，所述晶振与所述RTC芯片相连。在一个实施例中，所述时间模块还包括电池，所述电池与RTC芯片相连。在一个实施例中，所述存储模块包括EEPROM(ElectricallyErasableProgrammableRead-OnlyMemory，电可擦可编程只读存储器)芯片。在一个实施例中，所述存储模块还包括Flash(闪存)芯片。本专利技术还提供一种继电保护装置，包括上述继电保护装置的寿命检测装置本技术实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术实施方式的实践了解到。附图说明图1为本技术一种继电保护装置的寿命检测装置实施例结构框图之一；图2为本技术一种继电保护装置的寿命检测装置实施例结构框图之二；图3为本技术一种继电保护装置的寿命检测装置实施例结构框图之三；图4为本技术一种继电保护装置的寿命检测装置实施例结构框图之四；图5为本技术一种继电保护装置的寿命检测装置实施例结构框图之五。具体实施方式下面将结合较佳实施例及附图对本技术的内容作进一步详细描述。显然，下文所描述的实施例仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。应当理解的是，尽管在下文中采用术语“第一”、“第二”等来描述各种结构或模块，但这些信息不应限于这些术语，这些术语仅用来将同一类型的结构或模块彼此区分开。例如，在不脱离本技术范围的情况下，“第一”模块也可以被称为“第二”模块，类似的，“第二”模块也可以被称为“第一”模块。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部内容。请参阅图1，图1是本技术的一种继电保护装置的寿命检测装置实施例结构框图之一。本技术实施例提供的一种继电保护装置的寿命检测装置，包括：电源监视模块110、时间测量模块140、数据处理模块和存储模块160，所述数据处理模块分别与所述电源监视模块110、时间测量模块140以及存储模块160相连。所述电源监视模块110包括测温模块120和电压测量模块130，该测温模块120设置在所述继电保护装置中每组电解电容附近，具体地在所述继电保护装置中每组电解电容对角线上。测温模块120能够测量获得继电保护装置中电解电容的温度。所述电压测量模块130设置在所述继电保护装置的电压输出端上，能够测量整个继电器保护装置输出电压的电压波纹。所述时间测量模块140用于产生当前时间的，所述当前时间包括年、月、日、时、分、秒等。所述存储模块160用于存储继电保护装置的电气信息和寿命信息，例如，所述电气信息可以包括所述电解电容的温度以及所述继电保护装置的电压波纹；所述寿命信息包括检测时间以及继电保护装置的剩余寿命。除此之外，所述存储模块160还可以存储继电保护装置的配置、上电次数、断电时长、已使用寿命等信息，具体可以根据实际需要选择。所述存储模块160可以包括EEPROM芯片。所述存储模块160还可以包括用于存储CPU主控芯片应用程序的FLASH芯片以及用于数据存储的SDRAM(SynchronousDynamicRandomAccessMemory，同步动态随机存储器)芯片。所述数据处理模块包括CPU主控芯片150，该CPU主控芯片150分别与所述测温模块120的输出端、电压测量模块130的输出端、时间测量模块140的输出端以及存储模块160相连；所述CPU主控芯片150能够利用电解电容的温度和继电保护装置的电压波纹计算继电保护装置剩余寿命。具体地，所述CPU主控芯片150能够从测温模块120采样所述电解电容的温度以及从电压测量模块130采样所述继电保护装置的电压波纹；然后，能够根据继电保护装置的上电次数、所述电解电容的温度以及所述继电保护装置的电压波纹计算所述继电保护装置的剩余寿命，最后能够从所述时间测量模块140读取当前时间，将该当前时间作为检测时间，将所述剩余寿命和所述检测时间写入所述存储模块160中。继电保护装置，特别是芯片化继电保护装置，大部分器件都是采用集成IC芯片来实现，IC半导体器件和电阻、电感等器件的生命周期很长，影响继电保护装置寿命最关键的就是其中的电解电容，本技术实施例的CPU主控芯片150能够通过计算出所用电解电容的剩余寿命，从而估算继电保护装置寿命。首先，CPU主控芯片150能够从存储模块160中读取继电保护装置的上电次数以及电解电容的充放电时间常数，根据上电次数与所述电解电容的充放电时间常数获得上电寿命损耗本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，包括：电源监视模块、用于产生当前时间的时间测量模块、数据处理模块和存储模块，其中，所述电源监视模块包括测温模块和电压测量模块，其中，所述测温模块设置在所述继电保护装置中每组电解电容对角线上，所述电压测量模块与所述继电保护装置的电压输出端相连；所述数据处理模块包括利用电解电容的温度和继电保护装置的电压波纹计算继电保护装置剩余寿命的CPU主控芯片，所述CPU主控芯片分别与所述测温模块的输出端、电压测量模块的输出端、时间测量模块的输出端以及存储模块相连。

【技术特征摘要】
1.一种继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，包括：电源监视模块、用于产生当前时间的时间测量模块、数据处理模块和存储模块，其中，所述电源监视模块包括测温模块和电压测量模块，其中，所述测温模块设置在所述继电保护装置中每组电解电容对角线上，所述电压测量模块与所述继电保护装置的电压输出端相连；所述数据处理模块包括利用电解电容的温度和继电保护装置的电压波纹计算继电保护装置剩余寿命的CPU主控芯片，所述CPU主控芯片分别与所述测温模块的输出端、电压测量模块的输出端、时间测量模块的输出端以及存储模块相连。2.根据权利要求1所述的继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，还包括通信模块，所述通信模块与所述CPU主控芯片相连。3.根据权利要求1或2所述的继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，所述测温模块包括硅温度传感器，所述硅温度传感器表贴安装在每组电解电容对角线上。4.根据权利要求1或2所述的继电保护装置的寿命检...

【专利技术属性】
技术研发人员：习伟，李鹏，姚浩，郭晓斌，蔡田田，徐万方，徐刚，陈秋荣，蒋新成，胡炯，
申请(专利权)人：中国南方电网有限责任公司电网技术研究中心，南方电网科学研究院有限责任公司，北京四方继保自动化股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44