一种反射式光学材料非线性偏振光谱测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种反射式光学材料非线性偏振光谱测量装置，包括：激光器、第一偏振组件、滤光组件、聚焦透镜、载物台和光谱仪；激光器用于产生激光；第一偏振组件用于调节激光的偏振状态；滤光组件用于通过反射来改变激光的光路，照射待测样品，并透射待测样品的激发光；聚焦透镜用于对照射待测样品的激光进行聚焦，并收集待测样品的激发光；载物台用于安装待测样品；光谱仪用于检测激发光的光谱。具有无需更改被测材料位置的入射光偏振态可调系统，不会因为在测量过程中因为转动被测材料而改变被测材料的测量区域，并保证调节入射光偏振态时，测量结果精度高、稳定性好且实验操作简单等优点。

A reflective optical material nonlinear polarization spectrum measuring device

The invention discloses a nonlinear polarization spectrum measurement device, a reflective optical material includes a laser, a first polarization component, optical component, focusing lens, carrier and spectrometer; laser for generating laser; a first polarization component is used to adjust the polarization state of the laser; filter component is used to change the optical path through reflection laser. Irradiation sample, and the sample of the excitation light transmission; focusing lens for focusing laser control sample, and collect the sample excitation light; stage for the installation of the sample to be tested; the excitation light spectrometer for spectral detection. With no need to change the polarization state of incident light measured material position adjustable system, not because in the process of measurement and change the measurement area of the material being tested for rotation of the material to be measured, and ensure that the regulation of polarization state of incident light, the measurement results has the advantages of high precision and good stability and simple experiment.

【技术实现步骤摘要】
一种反射式光学材料非线性偏振光谱测量装置
本专利技术涉及非线性偏振光谱测量领域，尤其涉及一种反射式光学材料非线性偏振光谱测量装置，尤其适用于光学材料二次谐波、高次谐波、偏振荧光等非线性光谱测量。
技术介绍
偏振光被广泛的用来表征光学材料的基础特性。测量非线性偏振光谱的方法一般包括透射式以及反射式两种，其中透射式适合用于透射率较好的材料，对于反射率较好的材料一般选择使用反射式的方法。测量非线性光谱时激发光与入射光不在一个频率上，在测量激发光谱的时候需要滤掉激发光，传统上测量反射式非线性光谱的方法是使用二向色镜，这种光学镜片在入射光以四十五度入射时可以选择性的透过某一波段的光而反射另外一个波段的光。入射光首先以四十五度角入射到二向色镜上，然后反射到待测材料上，被激发的光原路返回并透过二向色镜进入光谱仪中进行检测。已知系统的缺点在于，激发出来的偏振光在经过二向色镜时，由于光学镜片相对于偏振光的非对称性，会造成偏振光的偏振状态发生显著的改变，从而影响偏振态的测量准确性。为了降低二向色镜对偏振光状态的影响，现有的方法是固定入射光的偏振状态不变，通过旋转材料的角度来改变入射光相对于材料的偏振夹角本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种反射式光学材料非线性偏振光谱测量装置，其特征在于，包括：激光器（1）、第一偏振组件（6）、滤光组件（7）、聚焦透镜（4）、载物台（3）和光谱仪（10）；所述激光器（1）用于产生激光；所述第一偏振组件（6）用于调节所述激光的偏振状态；所述滤光组件（7）用于通过反射来改变激光的光路，照射待测样品，并透射所述待测样品的激发光；所述聚焦透镜（4）用于对照射待测样品的激光进行聚焦，并收集待测样品的激发光；所述载物台（3）用于安装待测样品；所述光谱仪（10）用于检测所述激发光的光谱。

【技术特征摘要】
1.一种反射式光学材料非线性偏振光谱测量装置，其特征在于，包括：激光器（1）、第一偏振组件（6）、滤光组件（7）、聚焦透镜（4）、载物台（3）和光谱仪（10）；所述激光器（1）用于产生激光；所述第一偏振组件（6）用于调节所述激光的偏振状态；所述滤光组件（7）用于通过反射来改变激光的光路，照射待测样品，并透射所述待测样品的激发光；所述聚焦透镜（4）用于对照射待测样品的激光进行聚焦，并收集待测样品的激发光；所述载物台（3）用于安装待测样品；所述光谱仪（10）用于检测所述激发光的光谱。2.根据权利要求1所述的反射式光学材料非线性偏振光谱测量装置，其特征在于：还包括光参量放大器（2），用于调节所述激光器（1）所发出激光的波长。3.根据权利要求2所述的反射式光学材料非线性偏振光谱测量装置，其特征在于：还包括第二偏振组件（9），设置在所述光谱仪（10）前端，用于调整所述激发光的偏振状态。4.根据权利要求3所述的反射式光学材料非线性偏振光谱测量装置，其特征在于：还包括光强探测组件（15），用于探测所述激光的光强。5.根据权利要求4所述的反射式光学材料非线性偏振光谱测量装置，其特征在于：所述聚焦透镜（4）为显微透镜；还包括光学图像采集设备（16），所述光学图像采集设备用于通过所述聚焦透镜（4）采集所述待测样品的显微...

【专利技术属性】
技术研发人员：江天，武庆雄，李汉，韦可，郑鑫，许中杰，沈超，程湘爱，陈润泽，刘煜，阳东升，郝昊，杨澜，赵杰，周军虎，张峻，王义之，苗润林，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：发明
国别省市：湖南,43