阵列式测温装置及测温方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种阵列式测温装置及测温方法，包括阵列式测温模组、并行处理器，阵列式测温模组，由若干测温检测元件按照N*M阵列形式排列组合而成，N*M个测温检测单元采集的N*M个温度信号并行输入并行处理器，并行处理器对每次采集的N*M个温度信号，去除最大极值和最小极值，然后计算平均值，最后对多个平均值进行加和平均，得到温度测量值。阵列式测温模组配置于一阵列式镜头，该阵列式镜头由若干镜头模组按照N*M阵列形式排列组合而成，每个测温检测元件对应设置于一个镜头模组。本发明专利技术可扩大温度测量范围、提高温度测量精度，适用范围广泛。

Array type temperature measuring device and temperature measurement method

The invention discloses an array type temperature measuring device and temperature measuring method, temperature measurement module, including an array of parallel processor array measurement module is composed of a plurality of temperature detection elements according to N*M array arrangement combination, N*M temperature detection unit acquisition N*M temperature signal input line and parallel processor, parallel processor of N*M temperature every time a signal acquisition, removal of maximum and minimum extreme value, then calculate the mean value at the end of the multiple average of the sum and average, get the temperature measurement value. The array temperature measurement module is arranged in an array lens. The array lens is composed of several lens modules arranged in accordance with N*M array form. Each temperature measuring element is set in a lens module. The invention can expand the range of temperature measurement, improve the precision of temperature measurement, and have wide range of application.

【技术实现步骤摘要】
阵列式测温装置及测温方法
本专利技术涉及一种阵列式测温装置及测温方法，属于红外测温

技术介绍
目前已有的红外测温装置，测量时仅针对单个点进行测温量，测量范围小，精度不高，且当被测对象物体移动时，会因为测量范围的失衡，导致测量结果出现较大误差。达到同一时刻，多点测量，从而弥补单摄像头的单点测量的不足
技术实现思路
鉴于上述原因，本专利技术的目的在于提供一种阵列式测温装置及测温方法，通过阵列式的测温模组，可对一定范围内的被测对象进行多点测温，扩大测量范围，提高测量精度，能够对移动的被测对象进行测温。为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：一种阵列式测温装置，包括阵列式测温模组、并行处理器，阵列式测温模组，由若干测温检测元件按照N*M阵列形式排列组合而成，N*M个测温检测单元采集的N*M个温度信号并行输入并行处理器，该并行处理器对N*M个温度信号进行处理，得到温度测量值。利用所述阵列式测温模组多次采集N*M个温度信号，所述并行处理器对每次采集的N*M个温度信号，去除最大极值和最小极值，然后计算平均值，最后对多个平均值进行加和平均，得到所述温度测量值。所述阵列式测温模组配置于一阵列本文档来自技高网...

【技术保护点】
阵列式测温装置，其特征在于，包括阵列式测温模组、并行处理器，阵列式测温模组，由若干测温检测元件按照N*M阵列形式排列组合而成，N*M个测温检测单元采集的N*M个温度信号并行输入并行处理器，该并行处理器对N*M个温度信号进行处理，得到温度测量值。

【技术特征摘要】
1.阵列式测温装置，其特征在于，包括阵列式测温模组、并行处理器，阵列式测温模组，由若干测温检测元件按照N*M阵列形式排列组合而成，N*M个测温检测单元采集的N*M个温度信号并行输入并行处理器，该并行处理器对N*M个温度信号进行处理，得到温度测量值。2.根据权利要求1所述的阵列式测温装置，其特征在于，利用所述阵列式测温模组多次采集N*M个温度信号，所述并行处理器对每次采集的N*M个温度信号，去除最大极值和最小极值，然后计算平均值，最后对多个平均值进行加和平均，得到所述温度测量值。3.根据权利要求1所述的阵列式测温装置，其特征在于，所述阵列式测温模组配置于一阵列式镜...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹建成，张赛，
申请(专利权)人：北方工业大学，
类型：发明
国别省市：北京,11