一种检测硬盘的方法、装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种检测硬盘的方法，包括获取第一时间间隔内对硬盘的读操作参数和写操作参数；并利用读操作参数和写操作参数计算硬盘的平均时延；将平均时延与预设的第一标准时间作比较；当平均时延小于或等于第一标准时间时，则确定硬盘为第一类盘；反之，确定硬盘为第二类盘。通过在读写操作之前对硬盘的读写性能进行检测，能够提前检测出可能存在问题的硬盘，从而提高硬盘的可靠性。本申请还公开了一种检测硬盘的装置和计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

A method, device and a computer readable storage medium for detecting a hard disk

The invention discloses a method for detecting the hard disk, including access to the hard disk read operation parameters of the first time interval and write operation parameters; and the average delay of read operation parameters and write operation parameter calculation of hard disk; compare the first standard time average delay with the preset; when the average delay is less than or equal to the first standard time when it is determined as the first hard disk; on the other hand, determine the hard disk second disk. By detecting the read and write performance of hard disk before reading and writing operations, we can detect the hard disk that may have problems in advance, so as to improve the reliability of hard disk. The application also discloses a device for detecting a hard disk and a computer readable storage medium, both of which have the beneficial effect.

【技术实现步骤摘要】
一种检测硬盘的方法、装置及计算机可读存储介质
本专利技术涉及硬盘检测领域，特别涉及一种检测硬盘的方法，还涉及一种检测硬盘的装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
随着电子设备的普及，在日常的工作生活中，人们使用电子设备的频率越来越大，因此在读写操作时对电子设备中的硬盘要求也越来越高。例如在分布式文件系统ceph中，在对硬盘进行读写操作时，如果硬盘的稳定性不高，将导致读写操作的失败，从而导致数据丢失。现有技术是在写数据时失败时，控制进程退出。但是，由于缺少对硬盘的检测，在写数据失败使进程退出时也会导致数据的丢失。因此，如何降低在进行读写操作时丢失数据的可能性，提高硬盘的可靠性，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种检测硬盘的方法，能够预先检测硬盘的读写速度从而判断硬盘的性能，提高系统的稳定性；本专利技术的另一目的是提供一种检测硬盘的装置以及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种检测硬盘的方法，包括：获取第一时间间隔内对硬盘的读操作参数和写操作参数；利用所述读操作参数和所述写操作参数计算所述硬盘的平均时延；将所述平均时延与预设的第一标准时间作比较；当所述平均时延小于或等于所述第一标准时间时，则确定所述硬盘为第一类盘；反之，确定所述硬盘为第二类盘。优选地，所述获取第一时间间隔内对硬盘的读操作参数和写操作参数具体包括：设置所述第一时间间隔；在所述第一时间间隔的起止时刻分别提取对所述硬盘的统计数据；其中，所述统计数据包括读总次数、读总耗时、写总次数和写总耗时；将两次的所述统计数据分别对应作差，得出所述第一时间间隔内的所述读操作参数和所述写操作参数；其中，所述读操作参数包括读次数和读耗时，所述写操作参数包括写次数和写耗时。优选地，所述利用所述读操作参数和所述写操作参数计算所述硬盘的平均时延具体包括：将所述读耗时与所述写耗时相加，以得到读写耗时；将所述读次数与所述写次数相加，以得到读写次数；判断所述读写次数是否为0；若所述读写耗时为0，则确定所述硬盘为无效盘；若所述读写耗时不为0，则确定所述硬盘为所述第二类盘；若所述读写次数不为0；则用所述读写耗时除以所述读写次数，得到所述平均时延。优选地，在确定所述硬盘为第一类盘之后进一步包括：将所述平均时延与预设的第二标准时间作比较；当所述平均时延小于或等于所述第二标准时间时，则确定所述硬盘为所述第一类盘中的第一子类盘；当所述平均时延大于所述第二标准时间且小于所述第一标准时间时，确定所述硬盘为所述第一类盘中的第二子类盘。优选地，在所述将所述平均时延与预设的第二标准时间作比较之后进一步包括：设置第二时间间隔；所述第二时间间隔包括多个所述第一时间间隔；统计所述第二时间间隔内确定所述硬盘为所述第一子类盘的次数和所述第二子类盘的次数；统计所述第二时间间隔内确定所述硬盘为所述第一子类盘、所述第二子类盘、所述第二类盘和所述无效盘的总确定次数；若所述确定所述硬盘为所述第一子类盘的次数大于或等于所述总确定次数的一半，则确定所述硬盘为所述第一子类盘；若所述确定所述硬盘为所述第二子类盘的次数大于或等于所述总确定次数的一半，则确定所述硬盘为所述第二子类盘；否则，确定所述硬盘为所述第二类盘。优选地，在确定所述硬盘为所述第一子类盘或所述第二子类盘或所述第二类盘之后进一步包括：设置第三时间间隔；所述第三时间间隔包括多个所述第一时间间隔；在所述第三时间间隔内，若所述确定所述硬盘为所述第一子类盘的次数大于或等于所述确定所述硬盘为所述第二类盘的次数，则确定所述硬盘为所述第一子类盘；否则，确定所述硬盘为所述第二类盘。优选地，在所述设置第三时间间隔之后进一步包括：计算并判断所述确定所述硬盘为所述第一子类盘、所述第二子类盘和所述第二类盘的次数之和是否小于预先设置的阈值；若是，则结束进程。为解决上述技术问题，本专利技术还提供一种检测硬盘的装置，包括：获取模块，用于获取第一时间间隔内对硬盘的读操作参数和写操作参数；计算模块，用于利用所述读操作参数和所述写操作参数计算所述硬盘的平均时延；比较模块，用于将所述平均时延与预设的第一标准时间作比较；第一确定模块；用于当所述平均时延小于或等于所述第一标准时间时，则确定所述硬盘为第一类盘；第二确定模块；用于当所述平均时延大于所述第一标准时间时，确定所述硬盘为第二类盘。为解决上述技术问题，本专利技术还提供一种检测硬盘的装置，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现上述任一种检测硬盘的方法的步骤。为解决上述技术问题，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种检测硬盘的方法的步骤。本专利技术提供的一种检测硬盘的方法，通过获取第一时间间隔内对硬盘的读操作参数和写操作参数；并利用读操作参数和写操作参数计算硬盘的平均时延；将平均时延与预设的第一标准时间作比较；当平均时延小于或等于第一标准时间时，则确定硬盘为第一类盘；反之，确定硬盘为第二类盘。可见，通过获取第一时间间隔内对硬盘的读操作参数和写操作参数；并利用读操作参数和写操作参数计算硬盘的平均时延；将平均时延与预设的第一标准时间作比较；也就是说，在设定的时间间隔内判断硬盘的读写情况，当平均时延小于或等于第一标准时间时，则确定硬盘为第一类盘；反之，确定硬盘为第二类盘，从而判断硬盘的性能。通过上述方法在读写操作之前对硬盘的读写性能进行检测，能够提前检测出可能存在问题的硬盘，从而提高硬盘的可靠性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种检测硬盘的方法的流程图；图2为图1所示的检测硬盘的方法中步骤S10的具体流程图；图3为图1所示的检测硬盘的方法中步骤S20的具体流程图；图4为本专利技术实施例提供的另一种检测硬盘的方法的流程图；图5为本专利技术实施例提供的另一种检测硬盘的方法的流程图；图6为本专利技术实施例提供的另一种检测硬盘的方法的流程图；图7为本专利技术实施例提供的一种检测硬盘的装置的示意图；图8为本专利技术实施例提供的一种检测硬盘的装置的示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术的核心是提供一种检测硬盘的方法，能够预先检测硬盘的读写速度从而判断硬盘的性能，提高系统的稳定性；本专利技术的另一核心是提供一种检测硬盘的装置以及一种计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。为了使本领域技术人员更好地理解本专利技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的详细说明。请参考图1，图1为本专利技术实施例提供的一种检测硬盘的方法的流程图。检测硬盘的方法包括：S10：获取第一时间间隔内对硬盘的读操作参数和写操作参数。在本实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测硬盘的方法，其特征在于，包括：获取第一时间间隔内对硬盘的读操作参数和写操作参数；利用所述读操作参数和所述写操作参数计算所述硬盘的平均时延；将所述平均时延与预设的第一标准时间作比较；当所述平均时延小于或等于所述第一标准时间时，则确定所述硬盘为第一类盘；反之，确定所述硬盘为第二类盘。

【技术特征摘要】
1.一种检测硬盘的方法，其特征在于，包括：获取第一时间间隔内对硬盘的读操作参数和写操作参数；利用所述读操作参数和所述写操作参数计算所述硬盘的平均时延；将所述平均时延与预设的第一标准时间作比较；当所述平均时延小于或等于所述第一标准时间时，则确定所述硬盘为第一类盘；反之，确定所述硬盘为第二类盘。2.根据权利要求1所述检测硬盘的方法，其特征在于，所述获取第一时间间隔内对硬盘的读操作参数和写操作参数具体包括：设置所述第一时间间隔；在所述第一时间间隔的起止时刻分别提取对所述硬盘的统计数据；其中，所述统计数据包括读总次数、读总耗时、写总次数和写总耗时；将两次的所述统计数据分别对应作差，得出所述第一时间间隔内的所述读操作参数和所述写操作参数；其中，所述读操作参数包括读次数和读耗时，所述写操作参数包括写次数和写耗时。3.根据权利要求2所述检测硬盘的方法，其特征在于，所述利用所述读操作参数和所述写操作参数计算所述硬盘的平均时延具体包括：将所述读耗时与所述写耗时相加，以得到读写耗时；将所述读次数与所述写次数相加，以得到读写次数；判断所述读写次数是否为0；若所述读写耗时为0，则确定所述硬盘为无效盘；若所述读写耗时不为0，则确定所述硬盘为所述第二类盘；若所述读写次数不为0；则用所述读写耗时除以所述读写次数，得到所述平均时延。4.根据权利要求3所述检测硬盘的方法，其特征在于，在确定所述硬盘为第一类盘之后进一步包括：将所述平均时延与预设的第二标准时间作比较；当所述平均时延小于或等于所述第二标准时间时，则确定所述硬盘为所述第一类盘中的第一子类盘；当所述平均时延大于所述第二标准时间且小于所述第一标准时间时，确定所述硬盘为所述第一类盘中的第二子类盘。5.根据权利要求4所述检测硬盘的方法，其特征在于，在所述将所述平均时延与预设的第二标准时间作比较之后进一步包括：设置第二时间间隔；所述第二时间间隔包括多个所述第一时间间隔；统计所述第二时间间隔内确定所述硬盘为所述第一子类盘的次...

【专利技术属性】
技术研发人员：甄天桥，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41