功能性中枢神经损伤诊断检测用基因芯片及其制造方法技术

本发明专利技术涉及一种功能性中枢神经损伤诊断检测用基因芯片及其制造方法。功能性中枢神经损伤诊断检测用基因芯片上固定寡核苷酸基因探针阵列，所述寡核苷酸基因探针阵列的寡核苷酸生物分子是同时在多种中枢神经系统损伤发生发展过程中起关键作用的特异性生物基因因子，分别涉及神经细胞死亡和组织坏死，炎症和应激反应，细胞内离子平衡失调，信号传导，细胞周期调控异常，细胞结构异常，和神经变性损伤病理生理和分子生物学活动的基因因子。这种基因芯片可用于检测脑中风高危人群临床前期其体内与脑缺血性损伤密切相关的生物因子的调节形式、表达水平和变化规律，以预测脑中风发生的可能性；并可检测中枢神经系统损伤后神经细胞内与神经损伤密切相关的特异性生物因子的调节形式、变化规律和与细胞死亡及疾病发生发展的相互关系，为临床治疗提供实验检测依据。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种功能性中枢神经损伤诊断检测用基因芯片，芯片上固定寡核苷酸基因探针阵列，其特征在于所述寡核苷酸基因探针阵列的寡核苷酸生物分子是同时在多种中枢神经系统损伤发生发展过程中起关键作用的特异性基因，分别涉及神经细胞死亡和组织坏死，炎症和应激反应，细胞内离子平衡失调，信号传导，细胞周期调控异常，细胞结构异常，和神经变性损伤病理生理和分子生物学活动的基因。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈云，刘谦，黄卫，宫岩华，
申请(专利权)人：陈云，刘谦，黄卫，宫岩华，
类型：发明
国别省市：US[美国]