A medium for storing an image processing program, an image processing method and an image processing device are provided. The image processing method includes image capture through binarization using an imaging device to identify dark areas; line images through thinning of the dark zone to generate dark areas; to identify the first pixel, the first to be included in the generated pixel line formed by the pixels of the group. And with a predetermined threshold or greater value from each other; the first gradient variance calculation connecting each of the first plurality of lines; identification of article more than 2 of the first more than 2 pixels, the pixel group includes pixel is generated in the form of line images, and in less than a predetermined threshold the value of each other apart; second variance connection section more than 2 in each of the gradient on the line; and first and second variance variance evaluation based on dark area.
【技术实现步骤摘要】
存储图像处理程序的介质、图像处理方法及图像处理装置
本文讨论的实施例涉及用于图像处理的程序介质、方法和装置。
技术介绍
工人检查在诸如桥梁和隧道的结构的壁表面上是否存在裂缝。为了减少工人的检查工作量,存在用于远程捕获结构的壁表面的图像并且从所捕获的图像中检测裂缝的传统技术。作为用于从图像中检测裂缝的传统技术的示例,下面描述了传统技术1和2。传统技术1(日本特开专利公开第2012-98045号)将通过组合长直线获得的折线视为裂缝候选,并且基于折线的局部段的线段可能性与当组合局部段时获得的折线可能性来确定每一个裂缝候选是否是裂缝。在传统技术1中,将局部段的线段与近似直线之间的相似性用作线段可能性,并将形成折线的线段的线段可能性用作折线可能性。传统技术2(日本特开专利公开第2012-002531号)在裂缝候选是沿水平或垂直方向延伸的直线时确定裂缝候选不是裂缝。其他相关领域的技术是日本特开专利公开第2005-114671号和第2013-117409号。然而,上述传统技术具有下述问题:在上述传统技术中,确定目标对象是否是裂缝的准确度低。例如,某一壁表面具有不是裂缝而是结构的污垢、凹槽等并且与裂缝相似的特征。图16是说明结构的裂缝、污垢以及凹槽的示例的图。如图16所示,结构的裂缝1a、污垢1b以及凹槽1c具有相似的特征。因此,难以准确地识别裂缝。在传统技术1中,可以确定非线性污垢不是裂缝,但是可能错误地将线性对象(例如结构的凹槽)确定为裂缝。此外,在传统技术1中,如果目标对象是裂缝并且形成折线的线段短,则局部段的线段与近似直线之间的相似性低并且裂缝的检测可能失败。在传 ...
【技术保护点】
一种存储使计算机执行处理的图像处理程序的计算机可读存储介质,所述处理包括:通过二值化使用成像装置捕获的图像来识别暗区;通过对所识别的暗区进行细线化来生成与所述暗区对应的线图像;识别第一多对像素,所述第一多对像素被包括在形成所生成的线图像的像素组中并且以预定阈值或更大的值彼此之间分离开;计算连接形成所述第一多对像素中的各个对的像素的线的梯度的第一方差;识别第二多对像素,所述第二多对像素被包括在形成所述生成的线图像的所述像素组中并且以小于所述预定阈值的值彼此之间分离开;计算连接形成所述第二多对像素中的各个对的像素的线的梯度的第二方差;以及基于所述第一方差和所述第二方差评估所述暗区。
【技术特征摘要】
2016.09.02 JP 2016-1720391.一种存储使计算机执行处理的图像处理程序的计算机可读存储介质,所述处理包括:通过二值化使用成像装置捕获的图像来识别暗区;通过对所识别的暗区进行细线化来生成与所述暗区对应的线图像;识别第一多对像素,所述第一多对像素被包括在形成所生成的线图像的像素组中并且以预定阈值或更大的值彼此之间分离开;计算连接形成所述第一多对像素中的各个对的像素的线的梯度的第一方差;识别第二多对像素,所述第二多对像素被包括在形成所述生成的线图像的所述像素组中并且以小于所述预定阈值的值彼此之间分离开;计算连接形成所述第二多对像素中的各个对的像素的线的梯度的第二方差;以及基于所述第一方差和所述第二方差评估所述暗区。2.根据权利要求1所述的存储介质,其中,如果所述第一方差小于第一标准方差并且所述第二方差大于第二标准方差,则所述评估将所述暗区评估为裂缝。3.根据权利要求2所述的存储介质,所述处理还包括:基于所述暗区的宽度调整所述标准方差。4.根据权利要求1至3中任一项所述的存储介质,所述处理还包括:当在所述暗区的识别中识别到第一暗区和第二暗区时,通过将所述第一暗区和所述第二暗区延伸至所延伸的第一暗区和所延伸的第二暗区的交点,组合所述第一暗区与所述第二暗区,其中,来自属于通过对所述第一暗区进行细线化而生成的第一线图像的像素的第一像素和来自属于通过对所述第二暗区进行细线化而生成的第二线图像的像素的第二像素被识别,其中,在属于所述第一线图像的像素与属于所述第二线图像的像素之间的距离之中,所述第一像素与所述第二像素之间的距离是最短的,并且所述交点被确定为从所述第一像素沿所述第一线图像延伸的方向延伸的直线与从所述第二像素沿所述第二线图像延伸的方向延伸的直线的交叉点。5.根据权利要求4所述的存储介质,其中,如果所述第一像素与所述第二像素之间的距离小于预定距离,则所述组合将所述第一暗区与所述第二暗区组合成单个暗区。6.根据权利要求1至5中任一...
【专利技术属性】
技术研发人员:野中悠介,濑川英吾,
申请(专利权)人:富士通株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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