一种双控存储系统故障转储测试方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及存储技术领域，提供一种双控存储系统故障转储测试方法及系统，方法包括：对第一存储控制器和第二存储控制器的状态进行检测；当第一存储控制器和第二存储控制器的状态均为Active状态时，则执行一次故障转储命令，对存储系统的转储文件进行一次故障转储操作；当本次转储文件操作完成时，判断故障转储操作的次数是否达到预先设置的次数阈值；当判定故障转储操作的次数达到预先设置的次数阈值时，判定故障转储测试完成；当判定故障转储操作的次数未达到预先设置的次数阈值时，则返回执行对双控存储系统的第一存储控制器和第二存储控制器的状态进行检测的步骤，从而实现对双控存储系统故障转储的自动检测，测试效率高。

A test method and system for fault dump in dual controlled storage system

The present invention relates to the technical field of storage, providing a dual control storage system crashdump test method and system, the method includes: detecting of the first memory controller and a memory controller second; when the first memory controller and a memory controller second state to Active state, execute a crash dump command, dump file to the storage system for a crash dump operation; when the dump file when the operation is complete, whether the number of fault dump operation to achieve the preset threshold number; when the number of times to determine the fault dump operation times threshold set in advance when the fault test is completed when the number of dump; fault dump operation was not reached the number of the preset threshold, it returns the first execution memory controller of double control storage system and storage control second The state of the system is detected, thus the automatic detection of the fault dump of the dual controlled storage system is realized, and the efficiency of the test is high.

【技术实现步骤摘要】
一种双控存储系统故障转储测试方法及系统
本专利技术属于存储
，尤其涉及一种双控存储系统故障转储测试方法及系统。
技术介绍
随着IT行业的高速发展，信息化、大数据及云计算的发展对存储系统的稳定性及可靠性要求越来越高。双控存储系统是保障数据可靠性的有效方式，当一个存储控制器出现故障时，另外一个控制器仍然可以提供服务。双控存储系统是当前中小企业数据存储的首选方案。故障转储是存储系统为了在系统发生故障时能够将错误信息进行收集并进行存储的一个功能。在双控存储系统中，无论其中那一个存储节点发生故障，存储系统都应该能够进行故障转储。在产品出厂前，均需要对双控存储系统的故障转储功能进行验证测试，目前，传统的故障转储功能的测试方法有插拔控制器、下电等方式来模拟存储系统故障，但这些测试验证方式均是通过手动操作实现，且测试效率较低。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种双控存储系统故障转储测试方法，旨在解决现有技术中故障转储功能的测试验证方式均是通过手动操作实现，且测试效率较低的问题。本专利技术是这样实现的，一种双控存储系统故障转储测试方法，所述方法包括下述步骤：对双控存储系统的第一存储控制器和第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双控存储系统故障转储测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：对双控存储系统的第一存储控制器和第二存储控制器的状态进行检测，所述第一存储控制器和第二存储控制器的状态包括Active状态和Service状态；当所述第一存储控制器和第二存储控制器的状态均为Active状态时，则执行一次故障转储命令，对所述存储系统的转储文件进行一次故障转储操作；当本次转储文件操作完成时，判断故障转储操作的次数是否达到预先设置的次数阈值；当判定故障转储操作的次数达到预先设置的次数阈值时，判定故障转储测试完成；当判定故障转储操作的次数未达到预先设置的次数阈值时，则返回执行所述对双控存储系统的第一存储控制器和第二存...

【技术特征摘要】
1.一种双控存储系统故障转储测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：对双控存储系统的第一存储控制器和第二存储控制器的状态进行检测，所述第一存储控制器和第二存储控制器的状态包括Active状态和Service状态；当所述第一存储控制器和第二存储控制器的状态均为Active状态时，则执行一次故障转储命令，对所述存储系统的转储文件进行一次故障转储操作；当本次转储文件操作完成时，判断故障转储操作的次数是否达到预先设置的次数阈值；当判定故障转储操作的次数达到预先设置的次数阈值时，判定故障转储测试完成；当判定故障转储操作的次数未达到预先设置的次数阈值时，则返回执行所述对双控存储系统的第一存储控制器和第二存储控制器的状态进行检测的步骤。2.根据权利要求1所述的双控存储系统故障转储测试方法，其特征在于，当所述第一存储控制器和第二存储控制器均为Active状态时，所述第一存储控制器和第二存储控制器均处于正常工作状态；当所述第一存储控制器和第二存储控制器中其中一个的状态的为Active状态，另一个的状态为Service状态时，所述存储系统正常提供服务；当所述第一存储控制器和第二存储控制器均为Service状态时，所述存储系统暂停服务。3.根据权利要求2所述的双控存储系统故障转储测试方法，其特征在于，所述对所述存储系统的转储文件进行一次故障转储操作的步骤之后，所述当本次转储文件操作完成时，判断故障转储操作的次数是否达到预先设置的次数阈值的步骤之前还包括下述步骤：判断本次故障转储文件的等待时间是否到达预先设置的时间阈值；若本次故障转储文件的等待时间到达预先设置的时间阈值，则判断本次故障转储文件的数量是否达到预先设置的文件数量阈值；若本次故障转储文件的数量达到预先设置的文件数量阈值，则执行所述判断故障转储操作的次数是否达到预先设置的次数阈值的步骤；若本次故障转储文件的数量未达到预先设置的文件数量阈值，则控制退出故障转储测试；若判断本次故障转储文件的等待时间未到达预先设置的时间阈值，则继续等待。4.根据权利要求3所述的双控存储系统故障转储测试方法，其特征在于，所述方法还包括下述步骤：预先对文件数量阈值、时间阈值和次数阈值分别进行设置。5.一种双控存储...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵伟，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41