超声波成像处理方法、装置、存储介质及成像系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种超声波成像处理方法、装置、存储介质及成像系统，该方法包括：获取原始超声阵列数据；利用底面反射回波法计算超声纵波传播速度；利用波束形成技术处理原始超声阵列数据，得到原始超声图像；根据原始超声图像计算用于界定缺陷位置的动态窗函数；对原始超声阵列数据施加动态窗函数，获取预处理后的超声阵列数据，预处理后的超声阵列数据用于超分辨率成像。基于波束形成技术，通过对原始超声阵列数据施加动态窗函数，获取预处理后的超声阵列数据，可以有效提取包含缺陷信息的散射信号，通过超分辨率成像，从而直观反映待测件内部特征，增强成像质量，且本发明专利技术处理方法较于现有的区域图像叠加成像，其具有处理流程简化、成像速度快的优点。

【技术实现步骤摘要】
超声波成像处理方法、装置、存储介质及成像系统
本专利技术涉及超声波成像领域，特别地，涉及一种超声波成像处理方法、装置、存储介质及成像系统。
技术介绍
基于超声波的超分辨率成像系统利用时间反转多信号分类法处理包含缺陷信息的散射信号，克服超声波在介质中传播时的衍射限制，由其得到的超声图像具有分辨率高、质量好的优势，因此，在医学成像和工业无损检测领域得到研究和应用。超声波在介质中传播时，遇到缺陷发生散射，产生的散射信号携带了与缺陷特征相关的信息，通过处理散射信号，可以再现缺陷特征，实现对缺陷的成像，因此，从超声回波信号中提取包含缺陷特征信息的散射信号是实现超声成像的基础。但是，在工业无损检测领域，超声回波信号中的散射信号受到背景噪声的干扰，尤其在较强背景噪声的情况下，散射信号会被淹没而无法提取。现有的方法是将成像区域划分为多个子区域，对于每个子区域，从超声回波信号中提取对应的时域信号，利用时间反转多信号分类法处理时域信号，完成子区域的成像，将不同子区域的图像叠加，形成最终的超声图像，但是，该方法计算过程复杂，成像时间长。
技术实现思路
本专利技术提供了一种超声波成像处理方法、装置、存储介质及成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超声波成像处理方法，其特征在于，包括：获取原始超声阵列数据；利用底面反射回波法计算超声纵波传播速度；利用波束形成技术处理所述原始超声阵列数据，得到原始超声图像；根据所述原始超声图像计算用于界定缺陷位置的动态窗函数；对所述原始超声阵列数据施加所述动态窗函数，获取预处理后的超声阵列数据，所述预处理后的超声阵列数据用于超分辨率成像。

【技术特征摘要】
1.一种超声波成像处理方法，其特征在于，包括：获取原始超声阵列数据；利用底面反射回波法计算超声纵波传播速度；利用波束形成技术处理所述原始超声阵列数据，得到原始超声图像；根据所述原始超声图像计算用于界定缺陷位置的动态窗函数；对所述原始超声阵列数据施加所述动态窗函数，获取预处理后的超声阵列数据，所述预处理后的超声阵列数据用于超分辨率成像。2.根据权利要求1所述的超声波成像处理方法，其特征在于，所述利用底面反射回波法计算超声纵波传播速度采用的计算公式如下：其中，cij为超声纵波传播速度，xi为发射阵元对应的位置坐标，xj为接收阵元对应的位置坐标，d为试块高度，tij为超声回波传播时间。3.根据权利要求1所述的超声波成像处理方法，其特征在于，所述波束形成技术处理所述原始超声阵列数据，得到原始超声图像步骤中，确定成像区域中任意像素点的强度计算公式如下：I(x,z)＝|∑sij(2z/cij)|，|xij-x|≤D/2其中，(x,z)为像素点位置坐标，I(x,z)为像素点强度，sij为原始超声阵列数据，cij为超声纵波传播速度，D为设定的孔径宽度。4.根据权利要求1所述的超声波成像处理方法，其特征在于，根据所述原始超声图像计算用于界定缺陷位置的动态窗函数包括：根据原始超声图像，评估缺陷出现的位置范围；在成像区域中划定方形框，所述方形框包含缺陷出现的位置范围；根据所述超声纵波传播至所述方形框的距离和传播速度，计算所述方形框对应的时间区间；根据所述时间区间定义所述动态窗函数。5.根据权利要求1至4任一所述的超声波成像处理方法，其特征在于，还包括：利用超分辨率成像方法对所述预处理后...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊程广，赵勇，杨磊，陈勇，宋新，吴帅，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：发明
国别省市：湖南,43