一种线阵CCD光谱分辨率检测系统技术方案
【技术实现步骤摘要】
一种线阵CCD光谱分辨率检测系统所属
本专利技术涉及一种检测装置，尤其涉及一种线阵CCD光谱分辨率检测系统。
技术介绍
光栅分辨率是评价光栅性能的最重要的指标之一。针对光栅分辨率的检测，广泛采用半高宽检测法。当前对光栅分辨本领检测的传感元件多采用高性能的面阵CCD传感器作为检测元件，系统各个模块分立，并且高性能面阵CCD价格较高，限制了光谱检测仪器的使用。另外，现阶段的检测系统注重通用性和高端性，缺少专用的光栅分辨率检测仪器。光栅是光谱仪器的重要元件，光栅分辨本领直接影响仪器的性能。根据瑞利判据，只要测得谱线半高宽度，实际上就是分辨极限。用上位机记录一条谱线的轮廓，在谱线半高处量的谱线宽度作为分辨极限，即半宽度测量法，并且方法简单直观。根据方程R=mN可以计算得出光栅分辨本领的理论值，式中：N是光栅刻线总数，m是谱线级数。根据方程d(sini／+sinθk)·cosγ=mλ计算得出谱线级数,式中：i为平行光人射角，θk为衍射角，γ为光栅转角，d为光栅常数，λ为单色光波长。对于一个光栅，方程左项式基本为确定值，因此可以确定不同光波波长所对应的级次，这样可以确定光栅分...
【技术保护点】
一种线阵CCD光谱分辨率检测系统主要由处理器STM32、线阵CCD、电平转换芯片、信号处理单元等组成，系统利用片上高速时钟产生线阵CCD所需的驱动时序，经片上ADC采样后获取实时的光谱数据，将采集的数据经USB接口上传给上位机进行处理，获得最终的被测分光器件的光谱分辨率信息。
【技术特征摘要】
1.一种线阵CCD光谱分辨率检测系统主要由处理器STM32、线阵CCD、电平转换芯片、信号处理单元等组成，系统利用片上高速时钟产生线阵CCD所需的驱动时序，经片上ADC采样后获取实时的光谱数据，将采集的数据经USB接口上传给上位机进行处理，获得最终的被测分光器件的光谱分辨率信息。2.根据权利要求1所述的一种线阵CCD光谱分辨率检测系统，其特征是所述的系统的2个定时器分别产生驱动信号ΦROG和ΦCLK。3.根据权利要求1所述的一种线阵CCD光谱分辨率检测系统，其特征是所述的系统因为处理器输出的高电平是3.3V，而CCD所需的最低高电平是4.5V，因此需要使用电平转换芯片拉高输入信号。4.根...
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