一种金相显微镜样品宏观定位装置制造方法及图纸

技术编号:17433279 阅读:238 留言:0更新日期:2018-03-10 04:15
本实用新型专利技术涉及金相显微镜部件技术领域,尤其涉及一种金相显微镜样品宏观定位装置。该装置的测试台通过内六角圆柱头螺钉固定在台面上,测试台为凹槽形结构,测试台的侧面开设三个水平分布的孔,其中两个孔内分别镶嵌定位柱,另一个孔内安装内六角凹端紧定螺钉;试样固定块通过内六角凹端紧定螺钉和两个定位柱固定在测试台的凹槽中心,试样镶嵌在试样固定块的上表面。本实用新型专利技术结合现有的半自动磨抛机、金相显微镜和显微硬度计等设备,搭建实验平台,利用显微硬度计对样品进行标记,使每次拍照时,金相照片的位置基本保持一致,将含有试样的宏观定位装置重新安放到金相显微镜上,这样每次照相时试样位置会基本保持一致。

A macro positioning device for metallographic microscope samples

The utility model relates to the technical field of metallographic microscope components, in particular to a metallographic microscope sample macro positioning device. Fixed on the table test of the device by six screws, test bench groove structure, test bench side three level distribution holes, two holes are respectively inlaid positioning column, another is installed in the hole inner six angle concave end screws were fixed; block through the inner six angle concave end screws and two positioning column is fixed in the groove center test bench, sample mounting on the surface of specimen fixed block. The utility model combined with the existing semi automatic grinding and polishing machine, metallographic microscope and microhardness tester, the experiment platform is set up, marking the gauge samples by micro hardness, so that each photo, metallographic photos of the location remained the same, the macro positioning will be repositioned to the device sample with metallographic microscope, so every time the camera when the sample position will remain the same.

【技术实现步骤摘要】
一种金相显微镜样品宏观定位装置
本技术涉及金相显微镜部件
,尤其涉及一种金相显微镜样品宏观定位装置。
技术介绍
金相显微镜是冶金行业常规检验和研究工作中最常使用的仪器,主要用于检验分析金属材料的相和组织组成物、晶粒、非金属夹杂物以及金属表面或晶体缺陷的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排部状态等,在实验研究工作中起着不可缺少的重要作用。中国科学院金属研究所具有大量的工程合金,对组织进行三维重构会加深对组织中某些相以及缺陷形成机理的认识。目前,对于合金或者铸件组织的三维重构方法主要有基于连续切片技术的三维重构法、计算机断层扫描(CT)测量法、核磁共振成像(MRI)法以及激光共聚焦扫描法等。其中,连续切片重构技术由于重构尺度大(可达mm级别),费用低,操作简单而被广泛应用。但是,连续切片法需要的工作量巨大,国外研究单位已研制自动化程度高、功能强大的自动连续切片设备,设备自动化程度高,能够提高获取金相图像的效率,还能保证图像的质量和稳定性,但造价昂贵,很难在国内获得广泛使用。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于,提供一种金相显微镜样品宏观定位装置,在利用金相显微镜对组织进行三维重构会加本文档来自技高网...
一种金相显微镜样品宏观定位装置

【技术保护点】
一种金相显微镜样品宏观定位装置,其特征在于,该装置包括:台面、内六角凹端紧定螺钉、测试台、定位柱、试样固定块、内六角圆柱头螺钉,具体结构如下:测试台通过内六角圆柱头螺钉固定在台面上,测试台为凹槽形结构,测试台的侧面开设三个水平分布的孔,其中两个孔内分别镶嵌定位柱,另一个孔内安装内六角凹端紧定螺钉;试样固定块通过内六角凹端紧定螺钉和两个定位柱固定在测试台的凹槽中心,试样镶嵌在试样固定块的上表面。

【技术特征摘要】
1.一种金相显微镜样品宏观定位装置,其特征在于,该装置包括:台面、内六角凹端紧定螺钉、测试台、定位柱、试样固定块、内六角圆柱头螺钉,具体结构如下:测试台通过内六角圆柱头螺钉固定在台面上,测试台为凹槽形结构,测试台的侧面开设三个水平分布的孔,其中两个孔内分别镶嵌定位柱,另一个孔内安装内六角凹端紧定螺钉;试样固定块通过内六角凹端紧定螺钉和两个定位柱固定在测试台的凹槽中心,试样镶嵌在试样固定块的上表面。2.按照权利要求1所述的金相显微镜样品宏观定位装置,其特征在于,还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯辉刘鲁生张重远刘金民许聪
申请(专利权)人:中国科学院金属研究所
类型:新型
国别省市:辽宁,21

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