用以验证DRC迭组的测试布局的自动产生技术制造技术

一种自动产生用以验证DRC迭组的测试布局的计算机实施方法。该方法包含接收包含由多个多边形参数(W1，H1)限定的一个或多个多边形形状(P1)的第一布局(L1)。接收包含在多边形参数(W1，H1)上的不等式限制(C)的设计规则(R1，R2)。通过将数值的随机变化(ΔW12)施加到第一布局(L1)的多边形参数(L1)中的至少一个来计算第二布局(L2)。通过改变第二布局(L2)的多边形参数(W1，H1)的值，直到多边形参数(W1，H1)相对于由限制限定的参数边界(B1，B2)中的一个或多个的相应松弛(S1，S2)为最小化为止，来计算第三布局(L3)。第三布局(L3)可储存作为候选者测试布局。

Automatic generation techniques used to verify the test layout of the DRC superposition group

A computer implementation method that automatically generates a test layout to verify the DRC superposition group. The method includes receiving a first layout (L1) containing one or more polygon shapes (P1) defined by multiple polygon parameters (W1, H1). A design rule (R1, R2) is received for inequality constraints (C) on a polygon parameter (W1, H1). The second layout (L2) is calculated by applying the random variation of the numerical value (delta W12) to at least one of the polygon parameters (L1) of the first layout (L1). By changing the value of polygon parameter (W1, H1) of the second layout (L2), until the polygonal parameter (W1, H1) is minimized relative to one or more corresponding relaxation (S1, S2) of the restricted parameter boundary (B1, B2), the third layout (L3) is calculated. The third layout (L3) can be stored as a candidate test layout.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用以验证DRC迭组的测试布局的自动产生技术
本公开涉及用于集成电路的设计验证的计算机辅助测试，并且更特别地涉及用以验证设计规则检查迭组的测试布局的自动产生技术。
技术介绍
设计规则检查(DRC)是电子设计自动化(EDA)的一块，DRC被用来判定集成电路的布局设计是否满足称作为设计规则的串行的推荐参数。由于典型集成电路中电路部件的复杂及层数，DRC处理典型地使用CAD软件或更明确言之DRC软件执行。DRC软件的实例为由明导图形公司(Mentor)出品的典型地，设计规则为专用于特定制程且可载明例如某些几何形状及连接性限制以确保有足够边际来考虑制程中的变异度。针对特定制程的集合的设计规则称作为DRC迭组、DRC执行集合、或规则迭组。典型DRC迭组可包括跑数百个至数千个设计规则检查的指令。举例言之，DRC迭组可包含指令语言输入档案，其指示处理器如何在限定表示欲制造的集成电路的多边形形状的布局设计档案上执行这些设计规则检查。为了验证DRC迭组的具体实施，需要一集合的测试布局，包含预期合格通过设计规则检查的用例-所谓“合格用例”，及预期未能通过设计规则检查的用例-所谓“不合格用例”。举例言之，如果期望测试设计规则的某个要求(限制)是否被正确实施，则产生针对该要求的至少一个不合格用例及至少一个合格用例是有用的。但因如同参数值的组合数目一样，在设计规则检查中边缘及形状特征的有效拓扑结构的数目随着其数目而及其快速成长，须了解，测试布局或图案量可能变成过大。测试布局的手动产生受到产生布局工作者的想象力、专门技术、及勤勉程度所限。据此，期望使用计算机而自动化产生测试布局。举例言之，美国专利案第8,875,064号描述自动设计规则检查(DRC)测试用例的产生，其中该方法包括提取一集成电路设计中的错误记号的坐标，使用该等坐标产生一错误多边形，在设计中选择接触该错误多边形的多边形，识别包围这些经选取的多边形的矩形，及基于涵括于该矩形内部的该设计数据而产生一测试用例。不幸地，已知方法仰赖集成电路设计中的错误记号，其可能不适用以覆盖一特定DRC迭组的规则。据此，期望改良用以验证DRC迭组的测试布局的自动产生，特别用以提供与检查DRC迭组特别相关的测试布局。
技术实现思路
本公开的一个方面提出一种自动产生用以验证DRC迭组的测试布局的计算机实施方法。举例言之，DRC迭组包含用以验证电路设计与经选择的制程的依从性的设计规则检查。该方法包含接收包含由多个多边形参数限定的一个或多个多边形形状的第一布局。例如，一个或多个多边形形状表示电路设计的一层或多层中的电路部分。该方法包含接收设计规则，设计规则包含在多边形参数上的一个或多个限制。例如，该限制取决于该限制是否被满足而针对参数的可行性区域与不可行性区域之间的多边形参数限定参数边界。该方法包含通过施加数值的随机变化给第一布局的多边形参数中的至少一个而计算第二布局。该方法包含通过改变第二布局的多边形参数的值直到多边形参数相对于参数边界中的一个或多个的相应松弛为最小化为止而计算第三布局。该方法包含储存第三布局作为用以验证该DRC迭组的候选者测试布局。例如，取决于是否满足设计规则，候选者测试布局可储存为合格用例或不合格用例。目前认识到，当测试布局以排他方式产生时，此类布局的数目可成指数地增加到无法工作的点。另一方面，当测试布局以受控方式产生时，诸如限制其数目，例如对某个空间或宽度限制范围时，可能遗漏了重要的合格及不合格用例，结果导致受测设计规则的覆盖率不良。使用本方法，原则上可能以随机方式排他地产生布局，但其中随机布局随后被优化成用于测试设计规则所最关注的布局。全部可能的布局及拓扑结构的集合可以以随机方式有效地重复取样，并且在优化之后，只有关注的布局被加至该测试布局集合，原因在于其以最小边际(松弛)通过或未通过设计规则检查。相对于仰赖单独的随机产生方法，此种方法的一项优点为其利用相当少数的测试布局已能获得良好覆盖率。相对于仰赖单独的优化方法，此种方法的一项优点为其针对先前未曾设想的布局，随机取样也可增加覆盖率。再者，覆盖率随着程序的运行时间而增加，并且若有足够时间则可趋近于百分之百。当然，较大覆盖率暗示较大数目的测试布局，但如同使用单独的基于随机产生的方法，该数目将不会“爆炸”。本方法可产生解决方案或布局，其经偏置以便用于测试设计规则时更加有用。举例言之，关注的用例可以是根据限制与要求值的偏差不多于1单位(最小网格距离)的空间的用例。须了解，与要求值有较大偏差的用例产生极少的或无额外覆盖率，因而可安全地忽略不计。依据本公开的一个方面，通过朝向接近被视为测试所关注的限制的边界而偏置测试布局的选择，所产生的测试布局的数目被最小化。针对此类边界用例，边缘位置的小量改变，典型地为1单位的改变，可能造成受测方面有根本差异。举例言之，若该方面为最小距离要求，则边缘的两次移动达1单位可变更要求状态从满足最小松弛、到确切依从性、到不满足具有最小松弛的要求。在随机化多边形参数中，发现通过包括拓扑随机化以及距离随机化两者，可有效达成特别关注的用例。在拓扑随机化中，多边形形状的边缘的数目或顺序可经变更，表示可能适用不同的设计规则。举例言之，取决于两个形状并排排列或重迭排列，距离检查可能不同。在距离随机化中，多边形形状的边缘可相对于限制的边界改变距离，其可能导致在拓扑结构内部查找不同的边界用例。距离变化也可导致合格用例与不合格用例间的交叉，两者皆为测试设计规则所关注的。此外，拓扑变化或距离变化之间的选择本身可经随机化，来有效地取样关注的布局的数目，亦即针对不同限制合格/不合格的边界用例。为了快速探索在不同拓扑结构中的候选者测试布局，较佳地朝向拓扑随机化的选择而偏置随机选择。当最小化松弛时，发现较佳聚焦在某个拓扑结构内部的距离最小化。通过此方式，能防止当最小化时不同的设计规则开始起作用。举例言之，多边形参数可被阻止与用于拓扑结构保留的限制的边界交叉。最小化参数的松弛例如可通过加上所谓松弛变量而将不等式限制转换成等式进行，所谓松弛变量就此为场优化问题所已知。举例言之，限制可表述为松弛变量，其为参数值的函数。举例言之，若松弛变量为正，则表示限制系被满足(可行性区域)。典型地，若松弛变量为负，则表示限制不被满足(不可行性)。然而，在本方法中，此类不可行性区域也可以是不合格用例的关注的测试布局。通过最小化松弛变量的绝对值，参数可经修改，用以查找在合格或不合格之间的交叉的任一侧上的测试布局。典型地，透过多个松弛变量的最小化，布局可朝向关注的(分界线)测试优化。为了在合宜测试布局上的快速覆盖率，发现较佳地首先给定顺位用以最小化最低初始松弛。也可以从低至高的顺序处理其它松弛变量，例如在先前松弛变量被最小化之后判定。作为额外限制，在最小化下一个松弛变量中，优异地能将任何先前松弛变量固定在其最低值。该程序可经迭代，用以产生多个测试布局而来测试任何数目的设计规则的方面。通过追踪新查找的布局与先前查找的相同布局之间的比，可做出知情决策，若覆盖率被视为足够则是否中止迭代。举例言之，若少于10％所产生的布局与先前产生的布局有独特差异，则可判定已探索相当大比例的有用的布局。候选者布局也可被过滤，以维持只有独特相关用例，例如测试设计规则的任一项本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动产生用以验证DRC迭组的测试布局(Lx)的计算机实施方法，该方法包含：‑接收包含由多个多边形参数(W1，H1)限定的一个或多个多边形形状(P1)的第一布局(L1)，其中所述一个或多个多边形形状(P1)表示电路设计的一层或多层中的电路部分；‑接收包含对所述多边形参数(W1，H1)的限制(C)的设计规则(R1，R2)，其中各个限制限定在针对所述多边形参数(W1，H1)的参数空间中介于其中符合该限制的可行性区域与其中该限制不被满足的不可行性区域之间的相应参数边界(B1，B2)；‑通过施加值的随机变化(ΔW12)给所述第一布局(L1)的多边形参数(W1)中的至少一个而计算第二布局(L2)；‑通过改变所述第二布局(L2)的多边形参数(W1，H1)的值，直到所述多边形参数(W1，H1)相对于所述参数边界(B1，B2)中的一个或多个的相应松弛(S1，S2)最小化为止，来计算第三布局(L3)；以及‑储存所述第三布局(L3)作为用以验证所述DRC迭组的候选者测试布局。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种自动产生用以验证DRC迭组的测试布局(Lx)的计算机实施方法，该方法包含：-接收包含由多个多边形参数(W1，H1)限定的一个或多个多边形形状(P1)的第一布局(L1)，其中所述一个或多个多边形形状(P1)表示电路设计的一层或多层中的电路部分；-接收包含对所述多边形参数(W1，H1)的限制(C)的设计规则(R1，R2)，其中各个限制限定在针对所述多边形参数(W1，H1)的参数空间中介于其中符合该限制的可行性区域与其中该限制不被满足的不可行性区域之间的相应参数边界(B1，B2)；-通过施加值的随机变化(ΔW12)给所述第一布局(L1)的多边形参数(W1)中的至少一个而计算第二布局(L2)；-通过改变所述第二布局(L2)的多边形参数(W1，H1)的值，直到所述多边形参数(W1，H1)相对于所述参数边界(B1，B2)中的一个或多个的相应松弛(S1，S2)最小化为止，来计算第三布局(L3)；以及-储存所述第三布局(L3)作为用以验证所述DRC迭组的候选者测试布局。2.如权利要求1所述的方法，其中在计算所述第二布局(L2)中，从至少下列做出随机选择：-拓扑随机化，其中相比于所述第一布局(L1)，多边形参数(W1)的变化(ΔT1)改变所述第二布局(L2)中的多边形形状(P1，P2)的边缘的顺序或数目；或-距离随机化，其中相比于所述第一布局，多边形参数(W1)的变化(ΔW12)改变所述第二布局中的形状的边缘之间的距离。3.如先前权利要求中任一项所述的方法，其中所述多边形参数被阻止与所述参数边界的至少子集交叉，同时最小化所述松弛(S1，S2，S3)，以便从所述第二布局(L2)获得所述第三布局(L3)。4.如先前权利要求中任一项所述的方法，其中所述第三布局(L3)的计算包含：-作为所述多边形参数(W1，H1)的函数来计算所述设计规则(R1，R2)的限制的一个或多个松弛变量(S1，S2)；以及-变更所述第二布局(L2)的多边形参数(W1，H1)的值而朝向最小化所述一个或多个松弛变量(S1，S2)的绝对值。5.如先前权利要求中任一项所述的方法，其中-在最小化之前，计算多个限制的相应初始松弛(S1，S2)；以及-所述最小化被偏置来以最低初始松弛(S1)改变该限制中的多边形参数(H1)，用以首先最小化该最低初始松弛(S1)。6.如先前权利要求中任一项所述的方法，包含下列重复的迭代：-接收(101)由所述多边形参数(W1，H1)限定的布局；-随机改变(102)所述多边形参数(W1，H1)中的至少一个值；-相对于所述参数边界(B1，B2)中的一个或多个，最小化所述多边形参数(W1，H1)的松弛(103)；以及-储存(104)所得的...

【专利技术属性】
技术研发人员：马丁努斯·玛丽亚·贝尔肯斯，
申请(专利权)人：赛捷设计自动化有限责任公司，
类型：发明
国别省市：以色列,IL