大比例尺DLG质量检查统计方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供的大比例尺DLG质量检查统计方法及装置，属于测绘技术领域。该方法通过获取DLG质量检查记录电子图表数据；再获取所述DLG质量检查记录电子图表数据所携带的目标数据；接着再基于所述目标数据生成DLG成果质量检查图表；再获取DLG数学精度质量子元素数据；再基于所述DLG数学精度质量子元素数据生成DLG数学精度统计表；最后基于所述DLG成果质量检查图表与所述DLG数学精度统计表生成DLG成果质量统计表。从而使得所获得的DLG成果质量统计表的准确性更高，以及无需用户手工记录所述DLG成果质量统计表，进而有效地提高了工作人员的工作效率的同时降低了工作人员的工作量。

【技术实现步骤摘要】
大比例尺DLG质量检查统计方法及装置
本专利技术涉及测绘
，具体而言，涉及大比例尺DLG质量检查统计方法及装置。
技术介绍
随着测绘技术装备日新月异，各种高精尖的数据获取设备、数据处理软件广泛应用于测绘生产，测绘行业的数据获取能力和数据处理能力得到了极大的提高，生产速度有了翻天覆地的变化。目前，国内在测绘领域质量检查记录普遍使用纸质记录方法，然而质量检查产生了大量的检查记录，其中蕴含了丰富的质量信息。通过人工填写质量纸质记录会增加工作量的同时效率低下，并且还容易出现错误。
技术实现思路
本专利技术提供的大比例尺DLG质量检查统计方法及装置，旨在改善上述问题。本专利技术提供的大比例尺DLG质量检查统计方法，包括：获取DLG质量检查记录电子图表数据；获取所述DLG质量检查记录电子图表数据所携带的目标数据；基于所述目标数据生成DLG成果质量检查图表；获取DLG数学精度质量子元素数据；基于所述DLG数学精度质量子元素数据生成DLG数学精度统计表；基于所述DLG成果质量检查图表与所述DLG数学精度统计表生成DLG成果质量统计表。可选地，所述的获取所述DLG质量检查记录电子图表数据所携带的目标数据，包括：基于FME开发复杂图表技术及减分法获取所述DLG数学精度质量子元素所携带的地理精度统计表、数据及结构正确性统计表、整饰质量统计表和成果检查记录；将所述地理精度统计表、所述数据及结构正确性统计表、所述整饰质量统计表和所述成果检查记录作为目标数据。可选地，所述的获取DLG数学精度质量子元素数据，包括：基于FME开发复杂图表技术及减分法获取DLG数学精度质量子元素数据所携带的高程精度统计表、平面精度统计和相对位置精度统计表。可选地，所述基于所述DLG数学精度质量子元素数据生成DLG数学精度统计表，包括：对所述高程精度统计表、所述平面精度统计和所述相对位置精度统计表进行加权法计算，以生成DLG数学精度统计表。可选地，所述的基于所述目标数据生成DLG成果质量检查图表，包括：基于加权法与所述目标数据生成DLG成果质量检查图表。本专利技术提供的大比例尺DLG质量检查统计装置，包括：第一获取单元，用于获取DLG质量检查记录电子图表数据；目标数据获取单元，用于获取所述DLG质量检查记录电子图表数据所携带的目标数据；第一生成单元，用于基于所述目标数据生成DLG成果质量检查图表；第二数据获取单元，用于获取DLG数学精度质量子元素数据；第三生成单元，用于基于所述DLG数学精度质量子元素数据生成DLG数学精度统计表；统计分析单元，用于基于所述DLG成果质量检查图表与所述DLG数学精度统计表生成DLG成果质量统计表。可选地，所述目标数据获取单元具体用于：基于FME开发复杂图表技术及减分法获取所述DLG数学精度质量子元素所携带的地理精度统计表、数据及结构正确性统计表、整饰质量统计表和成果检查记录；将所述地理精度统计表、所述数据及结构正确性统计表、所述整饰质量统计表和所述成果检查记录作为目标数据。可选地，所述第二数据获取单元具体用于：基于FME开发复杂图表技术及减分法获取DLG数学精度质量子元素数据所携带的高程精度统计表、平面精度统计和相对位置精度统计表。可选地，所述第三生成单元具体用于：对所述高程精度统计表、所述平面精度统计和所述相对位置精度统计表进行加权法计算，以生成DLG数学精度统计表。可选地，所述第一生成单元具体用于：基于加权法与所述目标数据生成DLG成果质量检查图表。上述本专利技术提供的大比例尺DLG质量检查统计方法及装置，通过获取DLG质量检查记录电子图表数据；再获取所述DLG质量检查记录电子图表数据所携带的目标数据；接着再基于所述目标数据生成DLG成果质量检查图表；再获取DLG数学精度质量子元素数据；再基于所述DLG数学精度质量子元素数据生成DLG数学精度统计表；最后基于所述DLG成果质量检查图表与所述DLG数学精度统计表生成DLG成果质量统计表。从而使得所获得的DLG成果质量统计表的准确性更高，以及无需用户手工记录所述DLG成果质量统计表，进而有效地提高了工作人员的工作效率的同时降低了工作人员的工作量。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构框图；图2为本专利技术第一实施例提供的大比例尺DLG质量检查统计方法的流程图；图3为本专利技术第二实施例提供的大比例尺DLG质量检查统计装置的功能模块示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，为本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构框图。所述电子设备300包括大比例尺DLG质量检查统计装置400、存储器302、存储控制器303、处理器304及外设接口305。所述存储器302、存储控制器303、处理器304及外设接口305各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。所述大比例尺DLG质量检查统计装置400包括至少一个可以软件或固件(firmware)的形式存储于所述存储器302中或固化在所述电子设备300的操作系统(operatingsystem，OS)中的软件功能模块。所述处理器304用于执行存储器302中存储的可执行模块，例如所述大比例尺DLG质量检查统计装置400包括的软件功能模块或计算机程序。其中，存储器302可以是，但不限于，随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM)，只读存储器(ReadOnlyMemory，ROM)，可编程只读存储器(ProgrammableRead－OnlyMemory，PROM)，可擦除只读存储器(ErasableProgrammableRead－OnlyMemory，EPROM)，电可擦除只读存储器(ElectricErasableProgrammableRead－OnlyMemory，EEPROM)等。其中，存储器302用于存储程序，所述处理器304在接收到执行指令后，执行所述程序，前述本专利技术实施例任一实施例揭示的流过程定义的服务器100所执行的方法可以应用于处理器304中，或者由处理器304实现。处理器304可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。上述的处理器304可以是通用处理器，包括中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大比例尺DLG质量检查统计方法，其特征在于，包括：获取DLG质量检查记录电子图表数据；获取所述DLG质量检查记录电子图表数据所携带的目标数据；基于所述目标数据生成DLG成果质量检查图表；获取DLG数学精度质量子元素数据；基于所述DLG数学精度质量子元素数据生成DLG数学精度统计表；基于所述DLG成果质量检查图表与所述DLG数学精度统计表生成DLG成果质量统计表。

【技术特征摘要】
1.一种大比例尺DLG质量检查统计方法，其特征在于，包括：获取DLG质量检查记录电子图表数据；获取所述DLG质量检查记录电子图表数据所携带的目标数据；基于所述目标数据生成DLG成果质量检查图表；获取DLG数学精度质量子元素数据；基于所述DLG数学精度质量子元素数据生成DLG数学精度统计表；基于所述DLG成果质量检查图表与所述DLG数学精度统计表生成DLG成果质量统计表。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的获取所述DLG质量检查记录电子图表数据所携带的目标数据，包括：基于FME开发复杂图表技术及减分法获取所述DLG数学精度质量子元素所携带的地理精度统计表、数据及结构正确性统计表、整饰质量统计表和成果检查记录；将所述地理精度统计表、所述数据及结构正确性统计表、所述整饰质量统计表和所述成果检查记录作为目标数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的获取DLG数学精度质量子元素数据，包括：基于FME开发复杂图表技术及减分法获取DLG数学精度质量子元素数据所携带的高程精度统计表、平面精度统计和相对位置精度统计表。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述DLG数学精度质量子元素数据生成DLG数学精度统计表，包括：对所述高程精度统计表、所述平面精度统计和所述相对位置精度统计表进行加权法计算，以生成DLG数学精度统计表。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述的基于所述目标数据生成DLG成果质量检查图表，包括：基于加权法与所述目标数据生成DLG成果质量检查...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵节霞，王媛，张增场，李欢，李英，王文敏，
申请(专利权)人：中煤航测遥感集团有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西,61