The invention provides the inspection device and the inspection method, considering the position shift to conduct the judgment of the metal shrapnel switch. The inspection device (1) is used to check with metal clips (51) metal shrapnel switch (50) of the inspection device, including: a first detection section (10), detection of said metal shrapnel switch (50) through the tactile guide metal sheet (51) of the displacement of the tactile conduction position; second detection section (20), for detection of said metal shrapnel switch (50) when conducting metal sheets (51) conductance displacement through position; determining part (312), the position of conducting and conducting touch position of a metal shrapnel switch (50) based on the judgment of good and bad.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检查装置及检查方法
本专利技术涉及检查装置及检查方法,尤其涉及用于检测金属弹片开关好坏的检查装置及检查方法。
技术介绍
以往,在手机或数码相机等各种电子设备中,使用具有金属弹片的金属弹片开关(MetalDomeSwitch:MDS)。该金属弹片开关构成为,通过操作者按下金属弹片使其变形,金属弹片的顶部与开关端子接触并导通。例如专利文献1中记载了具有能够按压金属弹片的操作部件的金属弹片开关。此外,在专利文献2中记载了以明确进行金属弹片开关好坏判定为目的的检查装置。具体来说,基于从负载-位移曲线检测出的特征点来进行好坏判定。专利文献专利文献1日本专利公开公报特开2005-116475号专利文献2日本专利公开公报特开平5-273083号其中,参照图11对金属弹片开关的负载-位移特性进行说明。图11表示金属弹片开关的负载-位移曲线。曲线C1表示从开关切断变为开关导通时的负载-位移曲线,曲线C2表示从开关导通变为开关切断时的负载-位移曲线。在最大点F1金属弹片开始变形,在最小点F2操作者感觉到导通。在金属弹片开关中,最理想的是操作者触觉上感到导通的位置(金属弹片的位移量)与 ...
【技术保护点】
一种检查装置,检查具有金属弹片的金属弹片开关,其特征在于,包括:第一检测部,检测触觉导通位置,所述触觉导通位置表示所述金属弹片开关触觉导通时的所述金属弹片的位移量;第二检测部,检测电导通位置,该电导通位置表示所述金属弹片开关电导通时的所述金属弹片的位移量;判定部,基于所述触觉导通位置及所述电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.05.18 JP 2016-0998551.一种检查装置,检查具有金属弹片的金属弹片开关,其特征在于,包括:第一检测部,检测触觉导通位置,所述触觉导通位置表示所述金属弹片开关触觉导通时的所述金属弹片的位移量;第二检测部,检测电导通位置,该电导通位置表示所述金属弹片开关电导通时的所述金属弹片的位移量;判定部,基于所述触觉导通位置及所述电导通位置来进行所述金属弹片开关的好坏判定。2.根据权利要求1所述的检查装置,其特征在于,所述第一检测部检测负载-位移曲线的最小点,所述负载-位移曲线表示施加于所述金属弹片的负载与所述金属弹片的位移之间的关系。3.根据权利要求1或2所述的检查装置,其特征在于,所述第二检测部检测第一端子与第二端子之间流过电流,所述第一端子与所述金属弹片的端部电连接,所述第二端子利用所述金属弹片的变形而与所述金属弹片的顶部接触。4.根据权利要求1~3中任一项所述的检查装置,其特征在于,所述检查装置还包括偏移量计算部,所述偏移量计算部计算出所述触觉导通位置与所述电导通位置之差,所述偏移量计算部根据式(1)计算出所述差,d=V×(T2-T1)…(1)其中,d:所述差、V:对所述金属弹片施加负载的压入部件的压入速度、T1:从基准时刻至所述金属弹片的负载变为最小为止的时间、T2:从所述基准时刻至所述金属弹片开关中流过导通电流为止的时间。5.根据权利要求1~3中任一项所述的检查装置,其特征在于,所述检查装置还包括偏移量计算部,所述偏移量计算部计算出所述触觉导通位置与所述电导通位置之差,所述偏移量计算部根据式(2)计算出所述差,d=T2-T1…(2)其中,d:所述差、T1:从基准时刻至所述金属弹片的负载变为最小为止的时间、T2:从所述基准时刻至所述金属弹片开关中流过导通电流为止的时间。6.根据权利要求1~5中任一项所述的检查装置,其特征在于,在所述触觉导通位置与所述电导通位置之差为规定值以...
【专利技术属性】
技术研发人员:新田朋义,长谷川透,
申请(专利权)人:日本梅克特隆株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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