半导体激光器快轴准直设备制造技术

一种半导体激光器快轴准直设备，用于调节快轴透镜的位置及角度，以对半导体激光器发光芯片所发出的光束进行快轴准直。该半导体激光器快轴准直设备包括基座、安装在基座上的芯片承载架、安装在基座上的调整架、安装在调整架上的透镜夹具、安装在基座上的图像采集组件、及安装在基座上的光学检测组件；图像采集组件用于通过图像检测识别快轴透镜的位置，调整架用于调节透镜夹具的位置及角度，使激光光束在光学检测组件上形成光斑。本发明专利技术的半导体激光器快轴准直设备通过图像检测组件或光学检测组件分析的检测分析，控制调整架的动作，从而实现半导体激光器快轴准直的自动化，避免了人工的频繁操作，提供了半导体激光器的生产效率。

Fast axis collimating equipment for semiconductor lasers

A fast axis collimating device for semiconductor lasers is used to adjust the position and angle of the fast axis lens to collimate the beam emitted by the light-emitting chip of the semiconductor laser. The semiconductor laser device comprises a base, a fast axis collimation mounted on the base frame, a chip bearing mounted on the base frame, adjust the adjusting frame installed in the lens on the fixture, which is installed on the base of image acquisition module, and mounted on the base of optical detection component; image acquisition module for the image detection and recognition fast axis lens position adjusting frame for position and angle adjusting lens fixture, form a spot in the optical detection assembly of the laser beam. Detection and analysis of fast axis collimation device through image detection component or optical detection component analysis of semiconductor laser of the invention, the control frame adjustment action, so as to realize the automation of semiconductor laser in fast axis collimation, to avoid the frequent operation of artificial, provides the production efficiency of semiconductor laser.

【技术实现步骤摘要】
半导体激光器快轴准直设备
本专利技术涉及激光器调节技术，特别是涉及一种半导体激光器快轴准直设备。
技术介绍
半导体激光器中的发光芯片所发出的光束为发散的椭圆光束，平行与发光面的方向为慢轴，发散角约为10°，垂直与发光面的方向为快轴方向，发散角可达到40°。由于激光器发光芯片在快轴上的发散角较大，为有效保证半导体激光器的发光质量，必须利用快轴透镜对发光芯片所发出的光束进行快轴准直，现有的快轴准直过程一般由人手完成，导致了准直的精确度不高、效率低等问题。
技术实现思路
基于此，本专利技术提供一种可自动并高效地完成半导体激光器快轴准直过程的半导体激光器快轴准直设备。为了实现本专利技术的目的，本专利技术采用以下技术方案：一种半导体激光器快轴准直设备，包括基座、安装在所述基座上的芯片承载架、安装在所述基座上的调整架、安装在所述调整架上的透镜夹具、安装在所述基座上的图像采集组件、及安装在所述基座上的光学检测组件；所述调整架处于所述芯片承载架与所述光学检测组件之间。本专利技术的半导体激光器快轴准直设备通过图像检测组件或光学检测组件分析的检测分析，控制调整架的动作，从而实现半导体激光器快轴准直的自动化，避免了人工的频繁操作，提供了半导体激光器的生产效率。在其中一个实施例中，所述调整架包括层叠设置的Y轴进给组件、X轴进给组件、Y轴调向组件、及X轴调向组件。在其中一个实施例中，所述调整架包括Y轴进给组件、安装在Y轴进给组件上的X轴进给组件、安装在X轴进给组件上的Y轴调向组件、安装在Y轴调向组件上的X轴调向组件。在其中一个实施例中，所述调整架还包括Z轴进给组件、及安装在所述Z轴进给组件上的的Z轴调向组件；所述Z轴进给组件安装在所述Y轴进给组件、所述X轴进给组件、所述Y轴调向组件、所述X轴调向组件四者中处于最上的一个之上。在其中一个实施例中，所述Y轴进给组件包括安装在所述底板上的Y轴平行座、安装在所述Y轴平行座一侧的第一调节电机、及安装在所述Y轴平行座上的Y轴滑动板；所述第一调节电机的输出轴延伸至所述Y轴平行座的内部，所述Y轴滑动板与所述第一调节电机的输出轴连接。在其中一个实施例中，所述Y轴调向组件包括Y轴凹面座、安装在所述Y轴凹面座一侧的第三调节电机、及安装在所述Y轴凹面座上的Y轴D形板；所述Y轴凹面座的上表面呈凹弧形，所述Y轴D形板的下表面与Y轴凹面座的上表面对应；所述第三调节电机的输出轴延伸至Y轴凹面座内。在其中一个实施例中，所述Z轴进给组件包括第一转接板、与所述第一转接板连接的Z轴平行座、安装在所述Z轴平行座上的第五调节电机、安装在所述Z轴平行座一侧的Z轴滑动板、及与所述Z轴滑动板连接的第二转接板。在其中一个实施例中，所述Z轴调向组件包括Z轴转动座、安装在所述Z轴转动座一侧的第六调节电机、及安装所述Z轴转动座上的旋转平台；所述旋转平台转动连接在所述Z轴旋转座上，所述第六调节电机的输出轴延伸至所述Z轴旋转座内。在其中一个实施例中，所述透镜夹具包括安装在所述旋转平台上的垫板、安装在所述垫板上的吸合板、及安装在所述吸合板一侧的承镜架；所述承镜架上设有侧槽。在其中一个实施例中，所述图像采集组件包括支撑轴、安装在所述支撑轴上的第一交接件、与所述第一交接件连接的第一支撑柄、与所述第一支撑柄连接的侧向图像检测器、安装在所述支撑轴上的第二交接件、与所述第二交接件连接的第二支撑柄、与所述第二支撑柄连接的竖向图像检测器；所述支撑轴的下端固定在基座上；所述芯片承载架包括立柱、及安装在所述立柱上的压片块；所述立柱的上表面设有容纳槽。附图说明图1为本专利技术的一较佳实施例的半导体激光器快轴准直设备的立体示意图；图2为图1所示的半导体激光器快轴准直设备的圆圈A处放大图；图3为图1所示的半导体激光器快轴准直设备的侧视图；图4为图1所示的调整架的立体示意图；图5为图1所示的调整架在另一角度的立体示意图；图6为图5所示的调整架的的圆圈A处放大图；图7为图4所示的调整架的侧视图；图8为图4所示的调整架的正视图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将对本专利技术进行更全面的描述。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。请参阅图1至图8，为本专利技术一较佳实施方式的半导体激光器快轴准直设备100，用于调节快轴透镜的位置及角度，以对半导体激光器发光芯片200所发出的光束进行快轴准直。该半导体激光器快轴准直设备100包括基座10、安装在基座10上的芯片承载架20、安装在基座10上的调整架30、安装在调整架30上的透镜夹具40、安装在基座10上的图像采集组件50、及安装在基座10上的光学检测组件60；透镜夹具40用于夹持快轴透镜，图像采集组件50用于通过图像检测识别快轴透镜的位置，调整架30用于调节透镜夹具40的位置及角度，调整架30首先通过粗调快轴透镜的位置及角度使激光光束在光学检测组件60上形成光斑，然后根据光学检测组件60的信号反馈，调整架30微调快轴透镜的位置及角度，从而实现激光器发光芯片200所发出光束的准直。请参阅图1至图3，芯片承载架20包括立柱21、及安装在立柱21上的压片块22；立柱21的上表面设有容纳槽，容纳槽与激光器发光芯片200对应，以容纳激光器发光芯片200。请一并参阅图4至图8，调整架30包括底板31、安装在底板31上的Y轴进给组件32、安装在Y轴进给组件32上的X轴进给组件33、安装在X轴进给组件33上的Y轴调向组件34、安装在Y轴调向组件34上的X轴调向组件35、与X轴调向组件35连接的Z轴进给组件36、及与Z轴进给组件36连接的Z轴调向组件37。Y轴进给组件32包括安装在底板31上的Y轴平行座321、安装在Y轴平行座321一侧的第一调节电机322、及安装在Y轴平行座321上的Y轴滑动板323；第一调节电机322的输出轴延伸至Y轴平行座321的内部，Y轴滑动板323与第一调节电机322的输出轴连接，使第一调节电机322的输出轴可驱动Y轴滑动板323相对Y轴平行座321直线移动。X轴进给组件33包括安装在Y轴滑动板323上的X轴平行座331、安装在X轴平行座331一侧的第二调节电机332、及安装在X轴平行座331上的X轴滑动板333；第二调节电机332的输出轴延伸至X轴平行座331的内部，X轴滑动板333与第二调节电机332的输出轴连接，使第二调节电机332的输出轴可驱动X轴滑动板333相对X轴平行座331直线移动。Y轴调向组件34包括安装在X轴滑动板333上的Y轴凹面座341、安装在Y轴凹面座341一侧的第三调节电机342、及安装在Y轴凹面座341上的Y轴D形板343；Y轴凹面座341的上表面呈凹弧形，Y轴D形板343的下表面与Y轴凹面座341的上表面对应；第三调节电机342的输出轴延伸至Y轴凹面座341内，通过第三调节电机342的输出轴可驱使Y轴D形板343沿Y轴凹面座341的上表面滑动，且在滑动过程中，Y轴D形板343上表面相对Y轴凹面座341的底面的夹角产生调整；进本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体激光器快轴准直设备，其特征在于，包括基座、安装在所述基座上的芯片承载架、安装在所述基座上的调整架、安装在所述调整架上的透镜夹具、安装在所述基座上的图像采集组件、及安装在所述基座上的光学检测组件；所述调整架处于所述芯片承载架与所述光学检测组件之间。

【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器快轴准直设备，其特征在于，包括基座、安装在所述基座上的芯片承载架、安装在所述基座上的调整架、安装在所述调整架上的透镜夹具、安装在所述基座上的图像采集组件、及安装在所述基座上的光学检测组件；所述调整架处于所述芯片承载架与所述光学检测组件之间。2.根据权利要求1所述的半导体激光器快轴准直设备，其特征在于，所述调整架包括层叠设置的Y轴进给组件、X轴进给组件、Y轴调向组件、及X轴调向组件。3.根据权利要求1所述的半导体激光器快轴准直设备，其特征在于，所述调整架包括Y轴进给组件、安装在Y轴进给组件上的X轴进给组件、安装在X轴进给组件上的Y轴调向组件、安装在Y轴调向组件上的X轴调向组件。4.根据权利要求2或3所述的半导体激光器快轴准直设备，其特征在于，所述调整架还包括Z轴进给组件、及安装在所述Z轴进给组件上的的Z轴调向组件；所述Z轴进给组件安装在所述Y轴进给组件、所述X轴进给组件、所述Y轴调向组件、所述X轴调向组件四者中处于最上的一个之上。5.根据权利要求4所述的半导体激光器快轴准直设备，其特征在于，所述Y轴进给组件包括安装在所述底板上的Y轴平行座、安装在所述Y轴平行座一侧的第一调节电机、及安装在所述Y轴平行座上的Y轴滑动板；所述第一调节电机的输出轴延伸至所述Y轴平行座的内部，所述Y轴滑动板与所述第一调节电机的输出轴连接。6.根据权利要求4所述的半导体激光器快轴准直设备，其特征在于，所述Y轴调向组件包括Y轴凹面座、安装在所述Y轴凹面座一侧的...

【专利技术属性】
技术研发人员：文少剑，刘猛，廖东升，
申请(专利权)人：深圳市杰普特光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44