一种成像方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种成像方法和装置，其中，该方法包括：获取待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的成像结果；获取待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的补偿因子；根据成像结果、补偿因子和预设参数，确定多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果；对多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加，将累加结果作为待测地层的成像结果。在本发明专利技术实施例中，在更符合地下波场传播规律的倾角域对待测地层的成像结果进行分析，并利用补偿因子对成像结果进行补偿，最后将各个倾角补偿后的成像结果进行累加得到待测地层的成像结果，解决了由于起伏地表波场散射对波场的屏蔽所导致的成像精度较低的问题，提高了起伏地表的成像精度。

【技术实现步骤摘要】
一种成像方法和装置
本专利技术涉及地质勘探
，特别涉及一种成像方法和装置。
技术介绍
地震偏移成像可以是对地震数据偏移处理后得到的深度域偏移图像。偏移图像的好坏可以影响后续的地质解释，从而影响油气储层的识别。对于地下构造复杂、地表也复杂的地区而言，可以利用高程静校正技术解决起伏地表面对偏移成像的影响。然而，该方法假设地表具有一致性，可以适用于在地表起伏较小、低速带横向变化缓慢，地下浅、中、深层的反射经过低速带时几乎垂直入射至地表的情况。对于地表起伏较大、横向变化剧烈的地区，采用高程静校正进行偏移成像时效果较差。进一步地，为解决起伏地表变化剧烈对地下构造成像的影响，目前主要有以下几种方法：1)采用直接从起伏地表最高基准面向下进行波场延拓、逐步累加的方法来消除起伏地表的影响；2)采用“零速层”的概念，在起伏面和基准面之间插入一个速度很小的虚拟层的方法来消除起伏地表的影响；3)采用基于波动方程深度外推算子“直接下延”的方法来消除起伏地表的影响；4)采用“波场上延”的方法来消除起伏地表的影响；5)采用基于保幅波场延拓算子的双复杂地区保幅叠前深度偏移的方法来消除起伏地表的影响。然而，上述方法的主要目的是解决地表起伏面的影响，对于一些地下构造复杂的地区而言，采用上述方法成像时，由于复杂地表和地下构造可以导致波场的散射和屏蔽导致地下照明不足，极大的影响了起伏地表的成像精度。针对上述起伏地表的成像精度较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种成像方法和装置，以解决现有技术中起伏地表的成像精度较低的问题。本专利技术实施例提供了一种成像方法，包括：获取待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的成像结果；获取所述待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的补偿因子；根据所述成像结果、所述补偿因子和预设参数，确定所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果；对所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加，将累加结果作为所述待测地层的成像结果。在一个实施例中，按照以下公式对所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加：其中，image(x,z+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角域多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加的结果，LiFinal(xi,zi+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时进行补偿后的成像结果，θmin≤i≤θmax，其中，θmin表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角域多个倾角的最小值，θmax表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角域多个倾角的最大值，Δz表示预设步长。在一个实施例中，按照以下公式确定所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果：LiFinal(xi,zi+Δz)＝Lia(xi,zi+Δz)/(Fia(xi,zi+Δz)+ε)其中，LiFinal(xi,zi+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时进行补偿后的成像结果，Lia(xi,zi+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时的成像结果，Fia(xi,zi+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时的补偿因子，ε表示所述预设参数，Δz表示所述预设步长。在一个实施例中，所述预设参数在0.0001到0.1之间取值。在一个实施例中，在获取待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的成像结果之前，所述方法还包括：确定所述待测地层成像的基准面；按照所述预设步长，从所述基准面开始，沿着震源方向，至所述待测地层的最大深度依次划分，得到多个深度为所述预设步长的层级；在所述待测地层的多个层级上分别设置多个采样点。在一个实施例中，确定所述待测地层成像的基准面，包括：将所述待测地层中起伏最高的平面作为所述待测地层成像的基准面。在一个实施例中，获取待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的成像结果，包括：依次获取所述多个采样点中各个采样点的第一震源方向波场和第一检波器方向波场，其中，所述第一检波器方向波场是检波器位置不存在震源时的波场；按照以下方式对所述多个采样点中各个采样点执行以下操作，以得到各个采样点的第一成像矩阵：将当前采样点的第一震源方向波场和第一检波器方向波场变换至频域，并将变换至频域的波场进行互相关成像，得到所述当前采样点的第一成像矩阵；将所述多个采样点中各个采样点的第一成像矩阵变换至倾角域，得到所述多个倾角中各个倾角的成像结果。在一个实施例中，按照以下公式将变换至频域的波场进行互相关成像，得到所述当前采样点的第一成像矩阵：其中，Lpw(xp,zp+Δz,kps,kpg)表示所述待测地层第p个采样点的第一成像矩阵，其中，0≤p≤D，D表示所述待测地层采样点的个数，Upd(xp,zp+Δz,kps,wp)表示所述待测地层第p个采样点的第一震源方向波场，Upu(xp,zp+Δz,kpg,wp)表示所述待测地层第p个采样点的第一检波器方向波场，xp表示所述待测地层第p个采样点的横向位置，zp表示所述待测地层第p个采样点的纵向位置，Δz表示所述预设步长，kps表示所述待测地层第p个采样点的入射方向波数，kpg表示所述待测地层第p个采样点的反射方向波数，wp表示所述待测地层第p个采样点的第一震源方向波场和第一检波器方向波场的频率，wmin≤wp≤wmax，其中，wmin表示所述第一震源方向波场和第一检波器方向波场频率的最小值，wmax表示所述第一震源方向波场和第一检波器方向波场频率的最大值。在一个实施例中，获取所述多个采样点中各个采样点的第一检波器方向波场，包括：从所述基准面开始至所述最大深度，按照以下方式对所述多个采样点中各个采样点执行以下操作，以得到各个采样点的第一检波器方向波场：获取所述各个采样点中的检波器所检测到的波场；获取所述各个采样点的延拓波场，其中，所述延拓波场沿与所述检波器所检测到的波场的相反方向延拓得到；将所述各个采样点处的检波器所检测到的波场和各个采样点的延拓波场进行累加，将累加后的结果作为所述各个采样点的第一检波器方向波场。在一个实施例中，获取所述待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的补偿因子，包括：依次获取所述多个采样点中各个采样点的第二震源方向波场和第二检波器方向波场，其中，所述第二检波器方向波场是检波器位置存在震源时的波场；按照以下方式对所述多个采样点中各个采样点执行以下操作，以得到各个采样点的第二成像矩阵：将当前采样点的第二震源方向波场和第二检波器方向波场变换至频域，并将变换至频域的波场进行互相关成像，得到所述当前采样点的第二成像矩阵；将所述多个采样点中各个采样点的第二成像矩阵变换至倾角域，得到所述多个倾角中各个倾角的补偿因子。在一个实施例中，按照以下公式将变换至频域的波场进行互相关成像，得到所述当前采样点的第二成像矩阵：其中，Fpw(xp,zp+Δz,kps,kpg)表示所述待测地层第p个采样点的第二成像矩阵，Ppd(xp,zp+Δz,kps,wp)表示所述待测地层第p个采样点的第二震源方向波场，Ppu(xp,zp+Δz,kpg,wp)表示所述待测地层第p个采样点的第二检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种成像方法，其特征在于，包括：获取待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的成像结果；获取所述待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的补偿因子；根据所述成像结果、所述补偿因子和预设参数，确定所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果；对所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加，将累加结果作为所述待测地层的成像结果。

【技术特征摘要】
1.一种成像方法，其特征在于，包括：获取待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的成像结果；获取所述待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的补偿因子；根据所述成像结果、所述补偿因子和预设参数，确定所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果；对所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加，将累加结果作为所述待测地层的成像结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，按照以下公式对所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加：其中，image(x,z+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角域多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果进行累加的结果，LiFinal(xi,zi+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时进行补偿后的成像结果，θmin≤i≤θmax，其中，θmin表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角域多个倾角的最小值，θmax表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角域多个倾角的最大值，Δz表示预设步长。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，按照以下公式确定所述多个倾角中各个倾角补偿后的成像结果：LiFinal(xi,zi+Δz)＝Lia(xi,zi+Δz)/(Fia(xi,zi+Δz)+ε)其中，LiFinal(xi,zi+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时进行补偿后的成像结果，Lia(xi,zi+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时的成像结果，Fia(xi,zi+Δz)表示所述待测地层中横向位置为x、深度为z+Δz的采样点在倾角为i时的补偿因子，ε表示所述预设参数，Δz表示所述预设步长。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设参数在0.0001到0.1之间取值。5.如权利要求2或3所述的方法，其特征在于，在获取待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的成像结果之前，所述方法还包括：确定所述待测地层成像的基准面；按照所述预设步长，从所述基准面开始，沿着震源方向，至所述待测地层的最大深度依次划分，得到多个深度为所述预设步长的层级；在所述待测地层的多个层级上分别设置多个采样点。6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，确定所述待测地层成像的基准面，包括：将所述待测地层中起伏最高的平面作为所述待测地层成像的基准面。7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，获取待测地层多个采样点在倾角域多个倾角中各个倾角的成像结果，包括：依次获取所述多个采样点中各个采样点的第一震源方向波场和第一检波器方向波场，其中，所述第一检波器方向波场是检波器位置不存在震源时的波场；按照以下方式对所述多个采样点中各个采样点执行以下操作，以得到各个采样点的第一成像矩阵：将当前采样点的第一震源方向波场和第一检波器方向波场变换至频域，并将变换至频域的波场进行互相关成像，得到所述当前采样点的第一成像矩阵；将所述多个采样点中各个采样点的第一成像矩阵变换至倾角域，得到所述多个倾角中各个倾角的成像结果。8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，按照以下公式将变换至频域的波场进行互相关成像，得到所述当前采样点的第一成像矩阵：其中，Lpw(xp,zp+Δz,kps,kpg)表示所述待测地层第p个采样点的第一成像矩阵，其中，0≤p≤D，D表示所述待测地层采样点的个数，Upd(xp,zp+Δz,kps,wp)表示所述待测地层第p个采样点的第一震源方向波场，Upu(xp,zp+Δz,kpg,wp)表示所述待测地层第p个采样点的第...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶月明，李立胜，刘午牛，王启迪，邵萌珠，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11