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一种高精度长度测量尺制造技术

技术编号:17172749 阅读:128 留言:0更新日期:2018-02-02 05:42
本实用新型专利技术涉及长度测量领域,具体公开了一种高精度长度测量尺,其特征是,为直角梯形,有一垂直于上底边和下底边的侧边,有一与下底边成锐角的斜边,斜边和上底边设有刻度;所述直角梯形表面有与上底边和下底边均相交的若干与斜边平行的刻度边。若被测物体的长度≥ηn,<ηn+1,测量值为ηn+Xn,ηn为第n刻度边与上底边交点处的长度,η0=0,任一刻度边或斜边为副尺,Xn为被测量物体另一端与从左到右第n副尺交点处的读数,n为≥0的自然数。本实用新型专利技术的所述测量尺测量精度高,规格种类多价格低廉。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度长度测量尺
本技术涉及长度测量领域,尤其涉及一种高精度长度测量尺。
技术介绍
在日常工作、学习中,需要测量长度;企业生产活动中需要使用高精度测量尺;高校、研究单位和测量仪器商通常需要高精度测量尺用于校准检定。现有直尺刻度只有1mm;游标卡尺在某些测量领域不适用;菲林尺精度高,但是价格昂贵,可选择长度规格少。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题:提供一种精度高、可选择长度规格多、价格低廉的高精度长度测量尺;还提供一种所述高精度长度测量尺的测量方法。本技术采取的技术方案:一种高精度长度测量尺,其特征是,为直角梯形,有两条互相平行的上底边和下底边,有一垂直于上底边和下底边的侧边,有一与下底边成锐角的斜边,斜边和上底边设有刻度;所述直角梯形表面有与上底边和下底边均相交的若干与斜边平行的刻度边;优选地,所述刻度边与下底边的夹角为α,60°<α<90°。优选地,所述刻度边一侧开有与其平行的、方便做标记的通孔区。优选地,所述下底边设有刻度,所述侧边上设有辅助刻度边。优选地,所述刻度边在上底边上的投影的长度之和为上底边边长。本技术的原理及测量方法:ι-η=i*cosα,η<ι;斜边或任一所述刻度边长为i,所述刻度边交于上底边和下底边处的长分别为η和ι;最小刻度为0.1~0.01mm;所述高精度长度测量尺的量程为0~L,所述斜边或刻度边的量程为0~(L-N)或0~(ι-η),N为上底边边长,L为下底边边长。被测量物体一端与所述侧边对齐,调节另一端使被测物体与所述测量尺的上底边平行,将所述测量尺向上平移或将被测量物体向下平移,若被测物体的长度≥ηn,<ηn+1,测量值为ηn+Xn,ηn为第n刻度边与上底边交点处的长度,η0=0,任一刻度边或斜边为副尺,Xn为被测量物体另一端与从左到右第n副尺交点处的读数,n为≥0的自然数。本技术的有益效果:本技术的所述测量尺测量精度高,最小分度值可达到0.01mm;规格种类多,分度值为0.1mm、0.05mm、0.025mm、0.02mm、0.01mm等多种规格,其多个量程可组合为一套;价格低廉。附图说明图1为本技术具体实施例1的主视结构示意图。图2为本技术具体实施例2的主视结构示意图。图中1.上底边,2.斜边,3.通孔区,4.刻度边,5.下底边,6.夹角,7.侧边,8.测量物体。具体实施方式下面结合附图详细说明本技术的具体实施例:图1出示了具体实施例1:一种高精度长度测量尺,为直角梯形,有两条互相平行的上底边1和下底边5,有一垂直于上底边1和下底边5的侧边7,有一与下底边成锐角的斜边2;所述直角梯形各边上均设有刻度,所述直角梯形表面有与上底边1和下底边5均相交的若干与斜边平行的刻度边4,所述刻度边4在上底边1上的投影的长度之和为上底边1边长,所述刻度边4与下底边5的夹角α为84°,所述刻度边4一侧开有与其平行的、方便做标记的通孔区3。根据ι-η=i*cosα,η<ι,可知,斜边2或刻度边4上的任意一个点在下底边5上都有一个点与其对应,因此可在斜边2或刻度边4上标上刻度;斜边2或任一所述刻度边4长为i,所述刻度边4交于上底边1和下底边5处的长分别为η和ι;所述高精度长度测量尺的量程为0~L,所述斜边或刻度边的量程为0~(L-N)或0~(ι-η),N为上底边边长,L为下底边边长。图1中i=10cm,η0=0,η1=1cm,η2=2cm,η3=3cm,η4=N=4cm,其对应ι0=1cm,ι1=2cm,ι2=3cm,ι3=4cm,ι4=L=5cm;所述测量尺的量程为0~5cm,所述斜边或任一刻度边的量程为0~1cm,所述测量尺分度值为0.1mm。所述高精度长度测量尺测量精度高,规格种类多,其多个量程可组合为一套,价格低廉。所述高精度长度测量尺的测量方法:若被测物体的长度≥ηn,<ηn+1,测量值为ηn-1+Xn,任一刻度边4或斜边2为副尺,Xn为被测量物体另一端与从左到右第n副尺交点处的读数;n为≥0的自然数。图2出示了具体实施例2:一种高精度长度测量尺及测量方法。所述高精度长度测量尺为直角梯形,有两条互相平行的上底1边和下底边5,有一垂直于上底边和下底边的侧边7,有一与下底边5成锐角的斜边2;所述直角梯形各边上均设有刻度,所述直角梯形表面有与上底边1和下底边5均相交的若干与斜边2平行的刻度边4,所述刻度边4在上底边1上的投影的长度之和为上底边边长,所述刻度边4与下底边5的夹角α为89°,所述刻度边4一侧开有与其平行的、方便做标记的通孔区。根据ι-η=i*cosα,η<ι,可知,斜边2或刻度边4上的任意一个点在下底边5上都有一个点与其对应,因此可在斜边2或刻度边4上标上刻度;斜边2或任一所述刻度边4边长为i,所述刻度边4交于上底边1和下底边5处的长分别为η和ι;所述高精度长度测量尺的量程为0~L,所述斜边或刻度边的量程为0~(L-N)或0~(ι-η),N为上底边边长,L为下底边边长。图2中i=50cm,η0=0,η1=0.5cm,η2=1cm,η3=1.5cm,η4=N=2cm,其对应ι0=0.5cm,ι1=1cm,ι2=1.5cm,ι3=2cm,ι4=L=2.5cm,;所述测量尺的量程为0~3cm,所述斜边或任一刻度边的量程为0~0.5cm,所述测量尺分度值达到0.01mm。所述高精度长度测量尺测量精度高,最小分度值为0.1~0.01mm,分度值可为0.1mm、0.05mm、0.025mm、0.02mm、0.01mm,规格种类多,其多个量程可组合为一套,价格低廉。所述高精度长度测量尺的测量方法:被测量物体一端与所述侧边7对齐,调节另一端使被测物体8与所述测量尺的上底边1平行,将所述测量尺向上平移或将被测量物体向下平移,若被测物体8的长度≥η0,<η1,测量值为X1,X1为被测量物体另一端与最左端的第1刻度边交点处的读数;若被测物体的长度≥η1,<η2,测量值为η1+X2,X2为被测量物体另一端与最左端的第2刻度边或与斜边交点处的读数;若被测物体8的长度≥ηn,<ηn+1,测量值为ηn-1+Xn,任一刻度边4或斜边2为副尺,Xn为被测量物体另一端与从左到右第n副尺交点处的读数;n为≥0的自然数。图2中被测物体的长度>η2,η2=10mm,X3=0.230mm,所以被测物体的长度为η2+X3=10.230mm,所述测量尺有公制或英制两种刻度。所述高精度长度测量尺测测量精度高,规格种类多,价格低廉。需要指出的是,上述较佳实施例仅为说明本技术的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本技术的内容并据以实施,并不能以此限制本技术的保护范围。凡根据本技术精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...
一种高精度长度测量尺

【技术保护点】
一种高精度长度测量尺,其特征是,为直角梯形,有两条互相平行的上底边和下底边,有一垂直于上底边和下底边的侧边,有一与下底边成锐角的斜边,斜边和上底边设有刻度;所述直角梯形表面有与上底边和下底边均相交的若干与斜边平行的刻度边;ι‑ η=i*cosα,η<ι;所述刻度边与下底边的夹角为α,60°<α<90°,斜边或任一所述刻度边长为i,所述刻度边交于上底边和下底边处的长分别为η和ι;最小刻度为0.1~0.01mm。

【技术特征摘要】
1.一种高精度长度测量尺,其特征是,为直角梯形,有两条互相平行的上底边和下底边,有一垂直于上底边和下底边的侧边,有一与下底边成锐角的斜边,斜边和上底边设有刻度;所述直角梯形表面有与上底边和下底边均相交的若干与斜边平行的刻度边;ι-η=i*cosα,η<ι;所述刻度边与下底边的夹角为α,60°<α<90°,斜边或任一所述刻度边长为i,所述刻度...

【专利技术属性】
技术研发人员:李海伟
申请(专利权)人:李海伟
类型:新型
国别省市:山东,37

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