检测电路制造技术

本发明专利技术公开了一种检测电路。其中，该检测电路包括检测电路，包括：分压电阻，与三相电相连接；三相整流桥结构，输入端与分压电阻相连接，用于整流；光耦，连接在三相整流桥的输出端；上拉电阻，连接在光耦中光敏三极管的集电极；MCU检测IO口，连接在光耦的输出端，用于在光耦导通或者关断的状态下输出高电平或者低电平，其中，在MCU检测IO口为低电平时，确定三相电不缺相。本发明专利技术解决了现有的检测电路复杂且不安全的技术问题。

Detection circuit

The invention discloses a detection circuit. Among them, the detection circuit comprises a detection circuit, including a voltage dividing resistor connected with three-phase power; three-phase rectifier bridge structure is connected with a divider resistance phase for rectification; optocoupler is connected with the output end of the rectifier; a pull-up resistor, connected phototransistor optical coupler of the collector in MCU; detection of IO port connected to the output end of the optocoupler, is used to output high level or low level in optocoupler turn-on or turn off of the state which, in the detection of MCU IO is low, uncertain phase three-phase power. The present invention solves the technical problem that the existing detection circuit is complex and unsafe.

【技术实现步骤摘要】
检测电路
本专利技术涉及电路领域，具体而言，涉及一种检测电路。
技术介绍
对于大功率变频器或者伺服驱动器，三相电作为理想输入。现在很多技术检测缺三相输入缺相方法有：1、直接利用电阻分压AD采样，这种方法检测直接有效，但是强弱电不隔离，安全隐患较大；2、线性变压器隔离结合光耦来判断是否缺相，但是线性变压器笨重，对于空间有限的控制器十分不便；3、如光耦隔离加LM393两两比较检测，这种方法检测安全有效但是检测电路复杂且成本高。针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种检测电路，以至少解决现有的检测电路复杂且不安全的技术问题。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种检测电路，包括：分压电阻，与三相电相连接；三相整流桥结构，输入端与所述分压电阻相连接，用于整流；光耦，连接在所述三相整流桥的输出端；上拉电阻，连接在所述光耦中光敏三极管的集电极；MCU检测IO口，连接在所述光耦的输出端，用于在所述光耦导通或者关断的状态下输出高电平或者低电平，其中，在所述MCU检测IO口为低电平时，确定所述三相电不缺相。可选地，在所述三相电缺任意一相时，所述光耦不断导通和本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测电路，其特征在于，包括：分压电阻，与三相电相连接；三相整流桥结构，输入端与所述分压电阻相连接，用于整流；光耦，连接在所述三相整流桥的输出端；上拉电阻，连接在所述光耦中光敏三极管的集电极；MCU检测IO口，连接在所述光耦的输出端，用于在所述光耦导通或者关断的状态下输出高电平或者低电平，其中，在所述MCU检测IO口为低电平时，确定所述三相电不缺相。

【技术特征摘要】
1.一种检测电路，其特征在于，包括：分压电阻，与三相电相连接；三相整流桥结构，输入端与所述分压电阻相连接，用于整流；光耦，连接在所述三相整流桥的输出端；上拉电阻，连接在所述光耦中光敏三极管的集电极；MCU检测IO口，连接在所述光耦的输出端，用于在所述光耦导通或者关断的状态下输出高电平或者低电平，其中，在所述MCU检测IO口为低电平时，确定所述三相电不缺相。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，在所述三相电缺任意一相时，所述光耦不断导通和关断，所述MCU检测IO口为脉冲式高低电平；在所述三相电缺两相时，所述MCU检测IO口为恒定高电平；在所述三相电三相全缺相时，所述MCU检测IO口为恒定高电平。3.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括：前端电容，与所述光耦中的发光二极管并联，用于对所述光耦进行前端滤波，并且稳住所述发光二极管两端的电压。4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括：滤波电容，连接在所述光耦的输出端，用于滤除波纹和/或噪音。5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述滤波电容包括并联的第一电容和第二电容，所述第一电容的一端连接在所述光耦中光敏三极管的集电极，所述第一电容的另外一端连接在所述光耦中光敏三极管的发射极，所述第一电容和所述第二电容的电容值不同。6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述分压电阻包括第一分压电阻、第二分压电阻和第三分压电阻，所述第一分压电阻连接U相电，所述第二分压电阻连接V相电，所述第三分压电阻连接W相电，其中，所述第一分压电阻、所述第二分压电阻和所述第三分压电阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：王科，李立，吴文贤，郭伟林，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44