一种基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法技术

基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法，包括制备具有初始残余应力的试样；采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理前的X射线衍射图谱；对试样进行振动时效处理；采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理后的X射线衍射图谱；分析试样振动时效处理前后的X射线衍射图谱，得到试样振动时效处理前后的位错密度。本发明专利技术提出采用位错密度作为评价振动时效效果的指标，能够丰富振动时效效果的评价方法，且本发明专利技术提出的基于位错密度的振动时效效果评价方法属于无损评价方法。

A nondestructive evaluation method based on dislocation density for the effect of vibration aging

Nondestructive evaluation method of vibration aging effect based on dislocation density, including the preparation of samples with initial residual stress; using X ray diffraction X X-ray diffraction test specimen vibration aging treatment of the samples before; vibration aging treatment; using X ray diffraction X X-ray diffraction test specimen vibration after aging treatment; X analysis of X-ray diffraction patterns of the samples before and after vibration aging treatment, get the dislocation density of the samples before and after vibration aging treatment. The invention adopts dislocation density as an index to evaluate the effect of vibration aging, and can enrich the evaluation method of vibration aging effect. The evaluation method of vibration aging effect based on dislocation density proposed by the present invention belongs to the non-destructive evaluation method.

【技术实现步骤摘要】
一种基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法
本专利技术涉及振动时效
，特指一种基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法。技术背景振动时效技术因为具有设备简单、处理时间短、处理效果好等特点而成为备受关注的残余应力消除技术。振动时效技术的效果评价是振动时效
的关键问题之一。目前振动时效技术的效果评价方法主要包括：参数曲线评定法、残余应力测量法和精度稳定性检测法。(1)参数曲线评定法参数曲线评定法是根据振动时效过程中参数发生有规律的变化现象总结出来的，能够对振动时效的效果进行定性评价，所用的评价准则主要包括：振动时效过程中振幅时间曲线出现上升后变平以及上升后下降然后变平；振动时效处理后扫频曲线的共振峰值比振动时效处理前升高；振动时效处理后扫频曲线的共振频率比振动时效处理前降低；振动时效处理后扫频曲线的带宽比振动时效处理前变窄。(2)残余应力测量法为了准确的评价振动时效消除残余应力的效果，就需要准确地评估工件振动时效前后的残余应力，然而工件表层的残余应力分布情况，特别是一些复杂工件表层残余应力的分布状态，很难采用理论计算的方法进行分析求解，所以采用实验测量的方法评估工件表层本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法，包括以下步骤：(1)、制备具有初始残余应力的试样；(2)、采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理前的X射线衍射图谱；(3)、对试样进行振动时效处理；(4)、采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理后的X射线衍射图谱；(5)、分析试样振动时效处理前后的X射线衍射图谱，得到试样振动时效处理前后的位错密度。

【技术特征摘要】
1.基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法，包括以下步骤：(1)、制备具有初始残余应力的试样；(2)、采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理前的X射线衍射图谱；(3)、对试样进行振动时效处理；(4)、采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理后的X射线衍射图谱；(5)、分析试样振动时效处理前后的X射线衍射图谱，得到试样振动时效处理前后的位错密度。2.如权利要求1所述的基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法，其特征在于：步骤(5)中，分析试样振动时效处理前后的X射线衍射图谱，得到试样振动时效处理前后的位错密度包括以下步骤：(5.1)、用Jade软件，对X射线衍射图谱进行物相分析，得到试样的物...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾邦平，赖金涛，胡雄，
申请(专利权)人：上海海事大学，
类型：发明
国别省市：上海,31