【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】单位面积重量测定方法、层叠膜制造方法及单位面积重量测定装置
本专利技术涉及具有基材膜和形成于基材膜的涂布层的层叠膜的涂布层的单位面积重量测定方法、层叠膜的制造方法及涂布层的单位面积重量测定装置。
技术介绍
在磁记录介质的领域中,在专利文献1中公开了测定形成于基体膜上的第一层及第二层的膜厚的技术。在该技术中,使具有彼此不同的中心波长的两种光透过包括基体膜、第一层及第二层的磁记录介质,基于这些透射光的强度来算出第一层及第二层各自的膜厚。在先技术文献专利文献专利文献1:日本国公开专利公报“特开平9-178433号公报(1997年7月11日公开)”
技术实现思路
专利技术要解决的课题在具有基材膜和形成于基材膜的涂布层的层叠膜的
中,优选能够测定涂布层的每单位面积的质量即单位面积重量。但是,在专利文献1的技术中,该单位面积重量的测定精度不充分。其理由如下。在专利文献1的技术中,为了算出第一层及第二层各自的膜厚,预先测定与构成磁记录介质的基体膜同等程度的基体膜的膜厚。但是,构成层叠膜的基材膜存在膜厚的变动,尤其是,在基材膜经过拉伸而形成时,该变动变大。尤其是,构成电池用隔膜 ...
【技术保护点】
一种单位面积重量测定方法,其是具有基材膜和形成于所述基材膜的涂布层的层叠膜的所述涂布层的单位面积重量测定方法,所述单位面积重量测定方法的特征在于,包括:透光工序,在该透光工序中,使彼此不同的以第一波长为中心波长的测定光和以第二波长为中心波长的测定光透过所述层叠膜;测光工序,在该测光工序中,测定透过所述层叠膜后的所述测定光的透射光强度;以及算出工序,在该算出工序中,基于所述透射光强度来算出所述涂布层的单位面积重量。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.06.11 JP 2015-1187001.一种单位面积重量测定方法,其是具有基材膜和形成于所述基材膜的涂布层的层叠膜的所述涂布层的单位面积重量测定方法,所述单位面积重量测定方法的特征在于,包括:透光工序,在该透光工序中,使彼此不同的以第一波长为中心波长的测定光和以第二波长为中心波长的测定光透过所述层叠膜;测光工序,在该测光工序中,测定透过所述层叠膜后的所述测定光的透射光强度;以及算出工序,在该算出工序中,基于所述透射光强度来算出所述涂布层的单位面积重量。2.一种单位面积重量测定方法,其是具有基材膜和形成于所述基材膜的涂布层的层叠膜的所述涂布层的单位面积重量测定方法,所述单位面积重量测定方法的特征在于,包括:透光工序,在该透光工序中,使测定光透过所述层叠膜;测光工序,在该测光工序中,对透过所述层叠膜后的所述测定光进行分光,并测定彼此不同的第一波长及第二波长的透射光强度;以及算出工序,在该算出工序中,基于所述透射光强度来算出所述涂布层的单位面积重量。3.根据权利要求1或2所述的单位面积重量测定方法,其特征在于,所述单位面积重量测定方法还包括在所述透光工序及测光工序中将所述层叠膜向一方向输送的输送工序,在所述透光工序中,使从沿着位于所述层叠膜的面上且与所述一方向交叉的方向往复移动的位置射出的所述测定光透过所述层叠膜,在所述测光工序中,在与所述往复移动的位置对应的区域测定透射光强度。4.根据权利要求1或2所述的单位面积重量测定方法,其特征在于,所述单位面积重量测定方法还包括在所述透光工序及测光工序中将所述层叠膜向一方向输送的输送工序,在所述透光工序中,使沿着位于所述层叠膜的面上且与所述一方向交叉的方向的线状的所述测定光透过所述层叠膜,在所述测光工序中,在与所述测定光的形状对应的区域测定透射光强度。5.根据权利要求1至4中任一项所述的单位面积重量测定方法,其特征在于,所述测定光与所述层叠膜所成的角度为80°以上且100°以下。6.根据权利要求1至5中任一项所述的单位面积重量测定方法,其特征在于,所述涂布层为包含芳族聚酰胺的芳族聚酰胺层,所述第一波长包含在...
【专利技术属性】
技术研发人员:山野孝行,奥川贵弘,
申请(专利权)人:住友化学株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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