The invention discloses a charging element, a processing box and an image forming device. The charging element comprises a bracket, a conductive elastic layer arranged on the bracket, and a surface layer arranged on the conductive elastic layer. In the current value of 2.5pA as a current threshold to create two value image in the current value of the average size of 2.5pA over the area of approximately 300nm below the current threshold voltage by the tip diameter of the outer surface of the conical contact probe 20nm with the surface layer and in the process of moving the cone shaped probe in between the tapered probe with the support of 3V applied and measured.
【技术实现步骤摘要】
充电元件、处理盒以及图像形成装置
本专利技术涉及一种充电元件、处理盒以及图像形成装置。
技术介绍
用于电子照相图像形成装置的充电元件,已知的有至少包括设置在支架上的导电弹性层的充电元件。例如,已知有下列充电元件。在日本专利文献特开2009-145665号公报中公开了一种弹性元件,其包括由硫化橡胶制成的弹性层。硫化橡胶通过使包含N-叔丁基-2-苯并噻唑次磺酰胺的半导电未硫化橡胶组合物交联获得。弹性层的体积电阻率为1×103至1×1010Ω·cm。在日本专利文献特开2008-256908号公报中公开了一种导电橡胶辊,用于对包括导电橡胶层的充电元件进行充电。导电橡胶层包含极性橡胶、平均一次粒径为31至50nm且DBP吸收值为90至180cm3/100g的炭黑(CB-A)以及平均一次粒径为90至300nm且DBP吸收值为20至80cm3/100g的炭黑(CB-B)。CB-A与CB-B的重量比(CB-A/CB-B)为0.67至3.00。每100重量份的橡胶组分中CB-A的含量为30至60重量份。每100重量份的橡胶组分中CB-B的含量为20至45重量份。在日本专利文献特开2007-065320号公报中公开了一种包括最外层的充电元件,该最外层至少包含导电颗粒和酞菁化合物。
技术实现思路
本专利技术的目的在于,提供一种充电元件,其在接触充电式图像形成装置中使用时所产生的小色线少于在采用电流值2.5pA作为电流阈值创建的二值图像中电流值为2.5pA以上的区域的平均尺寸大于300nm的充电元件,该电流阈值通过使头端直径为20nm的锥形探头与所述表面层的外表面相接触并在移动所述锥 ...
【技术保护点】
一种充电元件,其特征在于,包括:支架;导电弹性层,其设置在所述支架上;以及表面层,其设置在所述导电弹性层上,其中,在采用电流值2.5pA作为电流阈值创建的二值图像中电流值为2.5pA以上的区域的平均尺寸为300nm以下,该电流阈值通过使头端直径为20nm的锥形探头与所述表面层的外表面相接触并在移动所述锥形探头的过程中在所述锥形探头与所述支架之间施加3V的电压而测得。
【技术特征摘要】
2016.07.07 JP 2016-1352521.一种充电元件,其特征在于,包括:支架;导电弹性层,其设置在所述支架上;以及表面层,其设置在所述导电弹性层上,其中,在采用电流值2.5pA作为电流阈值创建的二值图像中电流值为2.5pA以上的区域的平均尺寸为300nm以下,该电流阈值通过使头端直径为20nm的锥形探头与所述表面层的外表面相接触并在移动所述锥形探头的过程中在所述锥形探头与所述支架之间施加3V的电压而测得。2.根据权利要求1所述的充电元件,其中,在所述二值图像中电流值为2.5pA以上的所述区域的平均尺寸为200nm以下。3.根据权利要求1所述的充电元件,其中,在所述二值图像中电流值为2.5pA以上的所述区域的平均尺寸为50nm以下。4.根据权利要求1所述的充电元件,其中,通过使头端直径为20nm的锥形探头与所述表面层的所述外表面相接触并在移动所述锥形探头的过程中在所述锥形探头与所述支架之间施加3V的电压而测得,总共有30nA以上的电流流经50μm的方形区域。5.根据权利要求1所述的充电元件,其中,通过使头端直径为20nm的锥形探头与所述表面层的所述外表面相接触并在移动所述锥形探头的过程中在所述锥形探头与所述支架之间施加3V的电压而测得,总共有35nA以上的电流流经50μm的方形区域。6.根据权利要求1所述的充电元件,其中,通过使头端直径为20nm的锥形探头与所述表面层的所述外表面相接触并在移动所述锥形探头的过程中在所述锥形探头与所述支架之间施加3V的电压而测得,总共有45nA以上的电流流经50μm的方形区域。7.根据权利要求1所述的充电元件,其中,通过使头端直径为20nm的锥形探头与所述表面层的所述外表面...
【专利技术属性】
技术研发人员:成田幸介,三浦宏之,小川徹,铃木友子,
申请(专利权)人:富士施乐株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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