嵌套式安培表制造技术

本发明专利技术涉及嵌套式安培表。一种用于测量流过被测设备（DUT）的电流的嵌套式安培表可以包括输入端，其被配置成接收具有频带内的频率且表示流过DUT的电流的输入信号。该嵌套式安培表还可以包括输出端，其被配置成生成表示流过DUT的电流的输出电压的。有源分流器可以被用作安培表的电阻性反馈。嵌套有源分流器可以被用作有源分流器的电阻性反馈元件。

【技术实现步骤摘要】
嵌套式安培表
所公开的技术一般涉及电气测量设备，并且特别地涉及用于在测量电流时使用的安培表。
技术介绍
安培表常常是包括数字万用表（DMM）和源测量单元（SMU）的电气测量产品的子部件。存在可以以其来测量通过被测设备（DUT）的电流的若干种方式。SMU通常被用来在许多领域（包括半导体产品的测试）中做出精确测量。典型的SMU设计包括具有集成的电压和电流测量能力的电压或电流源。被测设备（DUT）通常被耦合至SMU并且然后利用电压或电流源来激励该被测设备（DUT）。存在可以以其来测量通过DUT的电流的若干种方式。例如，分流安培表可被用来简单地感测跨电阻器RS两端的电压。RS必须保持很小以便不会对输入信号造成很大的负担电压。通常需要低噪声增益级来放大负担电压以使得它可以被测量。大多数常见的安培表之一是反馈式安培表。图1图示了典型的反馈式安培表100的一个示例，该反馈式安培表100被配置有高增压运算放大器（op-amp）A以通过电阻器RS来上拉输入端102。该op-ampA因为其高DC增益（例如通常大于1百万）而将负担电压保持为很低。这允许RS更大，由此允许输出信号104更大。然而，反馈式安培本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量流过被测设备（DUT）的电流的安培表，该嵌套式安培表包括：输入端，其被配置成接收具有频带内的频率且表示流过DUT的电流的输入信号；输出端，其被配置成生成表示流过DUT的电流的输出电压；第一运算放大器（op‑amp），其被电气耦合在该输入端和输出端之间；以及第一有源分流器，其与该第一op‑amp电气耦合并且被用作安培表的电阻性反馈元件。

【技术特征摘要】
2016.06.30 US 15/1992731.一种用于测量流过被测设备（DUT）的电流的安培表，该嵌套式安培表包括：输入端，其被配置成接收具有频带内的频率且表示流过DUT的电流的输入信号；输出端，其被配置成生成表示流过DUT的电流的输出电压；第一运算放大器（op-amp），其被电气耦合在该输入端和输出端之间；以及第一有源分流器，其与该第一op-amp电气耦合并且被用作安培表的电阻性反馈元件。2.根据权利要求1所述的安培表，其中该第一有源分流器包括第二op-amp。3.根据权利要求1所述的安培表，进一步包括与第一有源分流器并联电气耦合的电容器。4.根据权利要求2所述的安培表，其中该第一有源分流器包括第二有源分流器，其与第二op-amp电气耦合并且被用作用于第一有源分流器的电阻性反馈元件。5.根据权利要求4所述的安培表，其中该第二有源分流器包括第三op-amp。6.根据权利要求4所述的安培表，进一步包括与第二有源分流器并联电气耦合的电容器。7.根据权利要求5所述的安培表，其中该第二有源分流器包括第三有源分流器，其与第三op-amp电气耦...

【专利技术属性】
技术研发人员：WC格克，
申请(专利权)人：基思利仪器有限责任公司，
类型：发明
国别省市：美国,US