一种通断路测试仪制造技术

技术编号:16975643 阅读:54 留言:0更新日期:2018-01-07 10:13
本实用新型专利技术公开了一种通断路测试仪,用于多层厚膜混合电路的测试,包括单片机、与单片机连接的,用于供电的电源模块、与单片机连接的,用于显示测试结果的显示电路、与单片机和测试产品的测试引脚连接的测试电路;测试电路包括用于接收单片机发送的电位以驱动锁存器的驱动电路、与锁存器的测试信号端连接的,具有多个测试针的测试板,测试针用于与测试引脚连接以将测试结果反馈至锁存器,锁存器还与单片机连接以将测试结果反馈至单片机。由此可见,本测试仪具有多个测试针,可以一次完成多组测试引脚的测试,与人工检测相比具有检测速度快、准确率高的特点。此外,本测试仪可以重复利用,并且通用性较强。

【技术实现步骤摘要】
一种通断路测试仪
本技术涉及电子
,特别是涉及一种通断路测试仪。
技术介绍
随着电子产品的快速发展,对于电子产品相应的电路板测试也提出了较高的要求。尤其是多层交叉布线的厚膜混合电路板,需要对多个测试点进行通断测试,例如电路产品跨接部分电极是否有开路、短路现象以及连线部分是否有断路现象。现有技术中,对于电路板的测试均为普通手工采用万用表或相关仪表检测,检测效率低、存在误操作,无法保证一致性。由此可见,在电路板的通断测试过程中,如何提高测量效率,提高检测速度和准确性是本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种通断路测试仪,用于在电路板的通断测试过程中,提高测量效率,提高检测速度和准确性。为解决上述技术问题,本技术提供一种通断路测试仪,用于多层厚膜混合电路的测试,包括单片机、与所述单片机连接的,用于供电的电源模块、与所述单片机连接的,用于显示测试结果的显示电路、与所述单片机和测试产品的测试引脚连接的测试电路;所述测试电路包括用于接收所述单片机发送的电位以驱动锁存器的驱动电路、与所述锁存器的测试信号端连接的,具有多个测试针的测试板,所述测试针用于与所述测试引脚连接以将本文档来自技高网...
一种通断路测试仪

【技术保护点】
一种通断路测试仪,用于多层厚膜混合电路的测试,其特征在于,包括单片机、与所述单片机连接的,用于供电的电源模块、与所述单片机连接的,用于显示测试结果的显示电路、与所述单片机和测试产品的测试引脚连接的测试电路;所述测试电路包括用于接收所述单片机发送的电位以驱动锁存器的驱动电路、与所述锁存器的测试信号端连接的,具有多个测试针的测试板,所述测试针用于与所述测试引脚连接以将所述测试结果反馈至所述锁存器,所述锁存器还与所述单片机连接以将所述测试结果反馈至所述单片机。

【技术特征摘要】
1.一种通断路测试仪,用于多层厚膜混合电路的测试,其特征在于,包括单片机、与所述单片机连接的,用于供电的电源模块、与所述单片机连接的,用于显示测试结果的显示电路、与所述单片机和测试产品的测试引脚连接的测试电路;所述测试电路包括用于接收所述单片机发送的电位以驱动锁存器的驱动电路、与所述锁存器的测试信号端连接的,具有多个测试针的测试板,所述测试针用于与所述测试引脚连接以将所述测试结果反馈至所述锁存器,所述锁存器还与所述单片机连接以将所述测试结果反馈至所述单片机。2.根据权利要求1所述的通断路测试仪,其特征在于,还包括与所述单片机连接的,用于对所述测试结果进行翻页的按钮、启动开关、以及延时开关,其中,所述测试电路为多组,与所述测试产品一一对应。3.根据权利要求1所述的通断路测试仪,其特征在于,还包括与所述单片机连接的外接时钟电路。4.根据权利要求1所述的通断路测试仪,其特征在于,还包括与所述单片机连接的复位电路。5.根据权利要求1所述的通断路测试仪,其特征在于,还包括与所述单片机连接的上拉电阻电路。6.根据权利要求1所述的通断路测试仪,其特征在于,还包括与所述单片机连接的语音提示电路。7.根据权利要求1所述的通断路测试仪,其特征在于,所述显示电路包括LCD显示屏和与所述单片机连接的,用于显示所述单片机的测试结果是否合格以及所述测试产品所在位置的位置指示电路;所述位置指示电路包括与所述单片机连接的次品指示回路,以及与所述单片机连接的合格指示回路,所述合格指示回路包括多组,与所述测试产品一一对应。8.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员:张晓武张飞林刘东升梁娟赵冬梅高红梅张丽艳
申请(专利权)人:四平市吉华高新技术有限公司
类型:新型
国别省市:吉林,22

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