隔断式密封光路分析仪器制造技术

本实用新型专利技术公开一种隔断式密封光路分析仪器，光路分析仪器包括主体和密封盖，主体内开设有样品仓，样品仓底部固定设置有密封膜，密封膜下方设有光路区域，光路区域内设有进光口和出光口，进光口和出光口的中心线的焦点为样品仓中的样品检测点。本实用新型专利技术在样品仓内固定设有密封膜将样品仓和充气区域的光路检测部分隔开，使得充气区域始终充有气体，更换样品时，开启密封盖，由于有密封膜的存在，使得充气区域的气体不会泄露，从而可避免更换样品时对充入的气体造成浪费减少气体的消耗，降低检测成本。

【技术实现步骤摘要】
隔断式密封光路分析仪器
本技术公开一种光分析仪器，特别是一种隔断式密封光路分析仪器，属于表面分析仪器

技术介绍
光谱分析是物体表面检测常用的分析手段，即通过特殊光谱照射到待检测样品表面，通过反射光的光谱分析，从而得到待检测样品的表面参数。有些物品表面分析时，对氛围要求较高，通常需要在待检测样品的光路上充入特殊气体（如：氦气等），以完成检测，由于样品仓体积较大，每次更换样品时，当开启密封盖时，样品仓内则会进去空气，再次检测时，则要将样品仓抽成真空，然后再次充入气体，这样就会浪费很多特殊气体，造成材料的浪费。
技术实现思路
针对上述提到的现有技术中的光谱分析时会造成气体的浪费的缺点，本技术提供一种隔断式密封光路分析仪器，其在样品仓内固定设有密封膜将样品仓和光路检测部分隔开，以避免更换样品时对充入的气体造成浪费。本技术解决其技术问题采用的技术方案是：一种隔断式密封光路分析仪器，光路分析仪器包括主体和密封盖，主体内开设有样品仓，样品仓底部固定设置有密封膜，密封膜下方设有光路区域，光路区域内设有进光口和出光口，进光口和出光口的中心线的焦点为样品仓中的样品检测点。本技术解决其技术问题采用的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种隔断式密封光路分析仪器，其特征是：所述的光路分析仪器包括主体和密封盖，主体内开设有样品仓，样品仓底部固定设置有密封膜，密封膜下方设有光路区域，光路区域内设有进光口和出光口，进光口和出光口的中心线的焦点为样品仓中的样品检测点。

【技术特征摘要】
1.一种隔断式密封光路分析仪器，其特征是：所述的光路分析仪器包括主体和密封盖，主体内开设有样品仓，样品仓底部固定设置有密封膜，密封膜下方设有光路区域，光路区域内设有进光口和出光口，进光口和出光口的中心线的焦点为样品仓中的样品检测点。2.根据权利要求1所述的隔断式密封光路分析仪器，其特征是：所述的进光口和出光口的中心线垂直设置。3.根据权利要求1或2所述的隔断式密封光路分析仪器，其特征是：所述的主体顶部设有第一密封圈安装槽，第一密封圈安装槽内固定设置有第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：范真，
申请(专利权)人：深圳市禾苗分析仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44