一种透射式样本损伤检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种透射式样本损伤检测装置，包括光源、散射板、第一偏振片、第二偏振片、成像透镜和相机，所述散射板、第一偏振片、第二偏振片、成像透镜和相机依次排列在所述光源后，损伤检测时，样本放置在所述第一偏振片和第二偏振之间。本实用新型专利技术一种透射式样本损伤检测装置由光源、散射板、两片偏振片、成像镜头和相机组成，光源和散射板可以产生均匀的照明，其结构非常的简单；同时整套装置可以单独使用，也可以放置在显微镜成像等光路中使用，应用十分方便。

【技术实现步骤摘要】
一种透射式样本损伤检测装置
本技术涉及损伤检测装置，具体涉及一种透射式样本损伤检测装置。
技术介绍
光学玻璃、薄膜等透射器件内的微小损伤和气泡等缺陷是影响其性能的关键因素，现有的对光学玻璃、薄膜等透射器件内的微小损伤和气泡等缺陷进行检测的装置大多比较复杂，应用也不是很方便。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种结构简单、应用方便的透射式样本损伤检测装置。本技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种透射式样本损伤检测装置，包括光源、散射板、第一偏振片、第二偏振片、成像透镜和相机，所述散射板、第一偏振片、第二偏振片、成像透镜和相机依次排列在所述光源后，损伤检测时，样本放置在所述第一偏振片和第二偏振之间。在上述技术方案的基础上，本技术还可以做如下改进。进一步，所述光源为LED光源。进一步，所述样本为均匀性透射器件。进一步，所述样本为光学玻璃或薄膜。进一步，损伤检测时，所述第一偏振片和第二偏振之间设有两种偏振结构，分别为第一种偏振结构和第二种偏振结构，所述第一种偏振结构为所述第一偏振片的偏振方向与所述第二偏振片的偏振方向平行，所述第二种偏振结构为所述第一偏振片的偏振方向与所述第二偏振片的偏本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种透射式样本损伤检测装置，其特征在于：包括光源、散射板、第一偏振片、第二偏振片、成像透镜和相机，所述散射板、第一偏振片、第二偏振片、成像透镜和相机依次排列在所述光源后，损伤检测时，样本放置在所述第一偏振片和第二偏振之间。

【技术特征摘要】
1.一种透射式样本损伤检测装置，其特征在于：包括光源、散射板、第一偏振片、第二偏振片、成像透镜和相机，所述散射板、第一偏振片、第二偏振片、成像透镜和相机依次排列在所述光源后，损伤检测时，样本放置在所述第一偏振片和第二偏振之间。2.根据权利要求1所述的一种透射式样本损伤检测装置，其特征在于：所述光源为LED光源。3.根据权利要求1或2所述的一种透射式样本损伤检测装置，其特征在于：所述样本为均匀性透射器件。...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚平，
申请(专利权)人：武汉东湖学院，
类型：新型
国别省市：湖北,42