降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法技术

本发明专利技术涉及一种降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法。该降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法包括：根据全面屏边缘处传感器的检测，确定全面屏设备是否处于握持状态；当确定全面屏设备处于握持状态时，由触控芯片根据当前具体握持状态确定触控面板控制方法。本发明专利技术降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法能够在不影响实际使用效果的前提下，克服全面屏边缘触控面板误操作，优化用户体验。

【技术实现步骤摘要】
降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法
本专利技术涉及液晶显示器领域，尤其涉及一种降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法。
技术介绍
随着显示技术发展，人们对LCD液晶显示屏的外观要求越来越高。其中为了追求极致的显示体验，各LCD屏生产厂家都在致力于超窄边框LCD的研发，如何最大程度地降低LCD的边框宽度，提高产品的屏占比，已经成为一个热门的研究课题。随之而来的全面屏(FullScreen)也应运而生，然而，超高的屏占比导致手持全面屏设备时，极易导致误操作发生。触控面板通常包括由导电材料如ITO(氧化铟锡)按照预设图案沉积在基板上所形成的传感器(Sensor)，传感器可以感应手指触摸触控面板生成电信号。触控面板的传感器结构上预先设计为呈N(H，水平方向)×M(V，垂直方向)的阵列结构，也就是N列×M行。工作时，由触控芯片(IC)按照预设驱动程序驱动触控面板，将传感器生成的电信号转换为触摸位置信息，触控芯片驱动触控面板时根据触控面板传感器所呈的阵列结构按照行列扫描方式进行驱动。如图1所示，其为现有全面屏操作及触控面板(TP)工作方式示意图。根据全面屏的尺寸，触控面板的传感器呈18(H)×36(V)阵列。按照现有的触控面板控制方法，正常驱动时，触控面板采用传感器呈18×36阵列的方式进行驱动。当手持全面屏设备进行操作时，如果此时触控面板工作状态仍为按照现有方式进行正常驱动，虽然可以得到手指触摸位置，但是此时虚线所示的设备边缘就成为易发生触控面板误操作的位置。如何降低或克服误操作已成为一个亟待解决的问题。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的在于提供一种降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法，克服全面屏边缘触控面板误操作，优化用户体验。为实现上述目的，本专利技术提供了一种降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法，包括：根据全面屏边缘处传感器的检测，确定全面屏设备是否处于握持状态；当确定全面屏设备处于握持状态时，由触控芯片根据当前具体握持状态确定触控面板控制方法。其中，当前握持状态为左右握持状态时，触控芯片停止边界处一列或若干列触控面板的驱动。其中，当前握持状态为上下握持状态时，触控芯片停止边界处一行或若干行触控面板的驱动。其中，当前握持状态为上下左右握持状态时，触控芯片停止边界处一行和列或若干行和列触控面板的驱动。其中，触控面板未停止驱动的行或列由触控芯片按原本的设定频率进行驱动。其中，当前握持状态为左右握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为边界处一列或若干列触控面板无触摸状态。其中，当前握持状态为上下握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为边界处一行或若干行触控面板无触摸状态。其中，当前握持状态为上下左右握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为边界处一行和列或若干行和列触控面板无触摸状态。其中，当检测到全面屏设备处于握持状态时，触控芯片停止当前具体握持状态所对应不规则区域的触控面板的驱动。其中，当检测到全面屏设备处于握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为当前具体握持状态所对应不规则区域的触控面板无触摸状态。综上，本专利技术降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法能够在不影响实际使用效果的前提下，克服全面屏边缘触控面板误操作，优化用户体验。附图说明下面结合附图，通过对本专利技术的具体实施方式详细描述，将使本专利技术的技术方案及其他有益效果显而易见。附图中，图1为现有全面屏操作及TP工作方式示意图；图2为本专利技术一较佳实施例全面屏左右握持操作及TP工作方式示意图；图3为本专利技术又一较佳实施例全面屏上下握持操作及TP工作方式示意图；图4为本专利技术再一较佳实施例全面屏上下握持操作及TP非规则区域工作方式示意图。具体实施方式本专利技术降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法主要包括：根据全面屏边缘处传感器的检测，确定全面屏设备是否处于握持状态；当确定全面屏设备处于握持状态时，由触控芯片根据当前具体握持状态确定触控面板控制方法。根据全面屏设备触控面板边缘处传感器检测，来确定设备是否处于握持状态，并进一步确定TP控制方法及驱动范围。可以根据全面屏的大小预先设定判断握持状态的条件，当传感器检测到的位置信息符合条件时即确定处于握持状态和具体为何种握持状态。本专利技术的全面屏设备具体可以为手机或平板电脑等。当检测到全面屏设备处于左右握持状态时，触控芯片可以停止边界处一列或若干列触控面板的驱动。当检测到全面屏设备处于上下握持状态时，触控芯片可以停止边界处一行或若干行触控面板的驱动。当检测到全面屏设备处于上下左右握持状态时，触控芯片可以停止边界处一行和列或若干行和列触控面板的驱动。有握持时发生时，触控面板未停止驱动的行或列由触控芯片按原本的设定频率进行驱动。当检测到全面屏设备处于握持状态时，触控芯片可以停止当前具体握持状态所对应不规则区域的触控面板的驱动。本专利技术除了通过周边感应的方式来降低触控面板驱动范围(包括规则与非规则区域等)的方式，修正触控IC内部数据等效为无触摸状态的方式也属于本专利技术的范畴，具体可以包括：当检测到全面屏设备处于左右握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为边界处一列或若干列触控面板无触摸状态；当检测到全面屏设备处于上下握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为边界处一行或若干行触控面板无触摸状态；当检测到全面屏设备处于上下左右握持状态时，修正触控芯片的内部数据等效为边界处一行和列或若干行和列触控面板无触摸状态。当检测到全面屏设备处于握持状态时，可以修正触控芯片的内部数据等效为当前具体握持状态所对应不规则区域的触控面板无触摸状态。参见图2，其为本专利技术一较佳实施例全面屏左右握持操作及TP工作方式示意图。方案一～方案三：TP采用传感器呈18×36阵列的方式进行驱动，检测到左右有握持发生时，调整TP的驱动方式为16×36阵列，或修正触控IC内部数据，反馈边缘一列或若干列触控数据等效为无触摸。参见图3，其为本专利技术又一较佳实施例全面屏上下握持操作及TP工作方式示意图。方案四～方案六：TP采用传感器呈18×36阵列的方式进行驱动，检测到上下有握持发生时，调整TP的驱动方式为18×34阵列，或修正触控IC内部数据，反馈边缘一行或若干行触控数据等效为无触摸。方案七：TP采用传感器呈18×36阵列的方式进行驱动，检测到上下有握持发生时，调整TP的驱动方式为16×34阵列，或修正触控IC内部数据，反馈边缘一行或若干行触控数据等效为无触摸。参见图4，其为本专利技术再一较佳实施例全面屏上下握持操作及TP非规则区域工作方式示意图。方案八：TP采用传感器呈N×M阵列的方式进行驱动，检测到上下有握持发生时，调整TP的驱动按设定需求，停止N×M阵列中右下直角边缘“┚”形区域和左侧边缘“┣”形区域的驱动，或修正触控IC内部数据，反馈右下直角边缘“┚”形区域及左侧边缘“┣”形区域的触控数据等效为无触摸。综上，本专利技术降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法能够在不影响实际使用效果的前提下，克服全面屏边缘触控面板误操作，优化用户体验。以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本专利技术的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本专利技术后附的权利要求的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法，其特征在于，包括：根据全面屏边缘处传感器的检测，确定全面屏设备是否处于握持状态；当确定全面屏设备处于握持状态时，由触控芯片根据当前具体握持状态确定触控面板控制方法。

【技术特征摘要】
1.一种降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法，其特征在于，包括：根据全面屏边缘处传感器的检测，确定全面屏设备是否处于握持状态；当确定全面屏设备处于握持状态时，由触控芯片根据当前具体握持状态确定触控面板控制方法。2.如权利要求1所述的降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法，其特征在于，当前握持状态为左右握持状态时，触控芯片停止边界处一列或若干列触控面板的驱动。3.如权利要求1所述的降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法，其特征在于，当前握持状态为上下握持状态时，触控芯片停止边界处一行或若干行触控面板的驱动。4.如权利要求1所述的降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法，其特征在于，当前握持状态为上下左右握持状态时，触控芯片停止边界处一行和列或若干行和列触控面板的驱动。5.如权利要求2～4任一所述的降低全面屏边缘触控面板误操作率的控制方法，其特征在于，触控面板未停止驱动的行或列由触控芯片按原本的设定频率进行驱动。6.如权利要求1所述的降低全面屏...

【专利技术属性】
技术研发人员：左清成，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42