DUT 测试板及其使用方法技术

在本发明专利技术提供的DUT测试板及其使用方法中，所述DUT测试板包括电源信号选择单元、DUT信号选择单元和自动切换单元，利用DUT信号选择单元的两个选择端口输出需要的电源信号，进而将Vpp信号连接到所述待测样品DUT的任意一个引脚上，并利用自动切换单元实现所述Vpp信号的自动接通和断开，因此能够同时满足FT测试和VT测试的硬件要求，而且兼顾现有的硬件设置和测试程序，具有结构简单、使用方便、检测成本低的特点。

DUT test board and its use method

DUT test board provided in the invention and use method thereof, wherein the DUT test board comprises a power signal selection unit, DUT signal selection unit and automatic switching unit, a choice of two output ports need power signal selection unit using DUT signal, then the Vpp signal is connected to the tested sample DUT an arbitrary a pin, and the automatic switch unit automatically connect the Vpp signal and disconnect, therefore can satisfy the FT test and VT test of the hardware requirements, but also take into account the hardware configuration and the existing test procedures, has the advantages of simple structure, convenient use, low cost detection.

【技术实现步骤摘要】
DUT测试板及其使用方法
本专利技术涉及集成电路检测
，特别涉及一种DUT测试板及其使用方法。
技术介绍
随着存储技术的发展，出现了各种类型的存储器，如随机存储器(RandomAccessMemory，简称RAM)、只读存储器(Read-OnlyMemory，简称ROM)、动态随机存储器(DynamicRandomAccessMemory，简称DRAM)、可擦除可编程只读存储器(ErasableProgrammableReadOnlyMemory，简称EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(ElectricallyErasableProgrammableRead-OnlyMemory，简称EEPROM)和闪存(Flash)等。其中，闪存(Flash)是一种非易失存储器，断电后数据也不会丢失，而且可在电脑或者专用设备上擦除已有信息，重新编程，即插即用。或非门存储芯片(Nor-flash)是现在市场上应用最广的闪存芯片之一，它的出现彻底改变了原先由EPROM和EEPROM一统天下的局面。为了保证Nor-flash的性能和质量，需要对Nor-flash进行各种测试，以剔除掉不合格的产品。其中，功能测试(FunctionalTest，简称FT)和模拟测试(VirtualizationTest，简称VT)均是Nor-flash的常规测试。进行测试时，均先将待测样品(通常是经过简单封装的芯片)插到待测样品(DeviceUnderTest，简称DUT)测试板上，再将DUT测试板接到测试机台(Tester)上，通过测试机台的测试获得相应的测试数据。对于Nor-flash而言，其电源脉冲电源(voltagepulsepower，简称Vpp)信号的驱动能力非常弱。因此，在擦写过程当中非常容易受到外界的影响。为此，在进行擦写动作时Nor-flash的Vpp信号端一般与外界断开。FT测试包含了擦出和写入动作的电性测试，因此进行FT测试时待测产品的Vpp信号端处于悬空状态。而在VT测试过程中，则需要通过所述Vpp信号端向所述待测产品提供测试所需的电压。由此可见，所述FT测试与VT测试在硬件连接上是有差异的。目前，FT测试和VT测试通常需要使用不同的DUT测试板，在不同的测试程序中完成。虽然，部分DUT测试板通过跳线方式能够改变连接线路，实现Vpp信号端与测试通道(testerchannel)或接地信号端(GND)的连接。即在FT测试时待接地信号端(GND)与待测产品的Vpp信号端连接(此时Vpp信号端处于悬空状态)，而在VT测试时测试通道(testerchannel)通过跳线与待测产品的Vpp信号端连接(此时testerchannel通过Vpp信号端向待测产品提供测试所需的电压)。但是，进行FT测试和VT测试仍需建立不同的测试程序，分别进行。而且，跳线方式是通过外部短接线实现的，因此Vpp信号端与测试通道的连接方式是固定的，无法实现自动切换。基此，如何解决现有的Nor-flash无法在同一测试程序中完成FT测试和VT测试的问题，成了本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种DUT测试板及其使用方法，以解决现有技术中Nor-flash无法在同一测试程序中完成FT测试和VT测试的问题。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种DUT测试板，所述DUT测试板包括：电源信号选择单元、DUT信号选择单元和自动切换单元；所述电源信号选择单元用于接收外部测试机台提供的多个电源信号，并根据测试要求在所述多个电源信号中选择需要的电源信号；所述DUT信号选择单元与所述电源信号选择单元电性连接，并根据所述电源信号选择单元提供的电源信号向待测样品提供DUT信号；所述自动切换单元设置在所述电源信号选择单元与所述DUT信号选择单元之间，用于实现Vpp信号的自动接通与断开。优选的，在所述的DUT测试板中，所述电源信号选择单元包括第一电源线、第二电源线、第三电源线、第四电源线和电源接口；所述电源接口用于分别接收第一电源信号、第二电源信号、第三电源信号和第四电源信号，所述第一电源线、第二电源线、第三电源线、第四电源线的一端均与所述电源接口电性连接，所述第一电源线和第四电源线的另一端直接与所述DUT信号选择单元电性连接，所述第二电源线和第三电源线的另一端通过自动切换单元与所述DUT信号选择单元电性连接；其中，所述第二电源信号或第三电源信号为所述Vpp信号。优选的，在所述的DUT测试板中，所述自动切换单元包括一继电器；所述第二电源线和第三电源线通过短接方式与所述继电器电性连接；或所述第二电源线和第三电源线通过短接方式跳过所述继电器，直接与所述DUT信号选择单元电性连接。优选的，在所述的DUT测试板中，所述继电器用于接收所述第二电源信号和第三电源信号，并实现所述第二电源信号与第三电源信号的自动切换，以实现所述Vpp信号的自动接通与断开。优选的，在所述的DUT测试板中，所述继电器包括：第二电源信号端、第三电源信号端和控制端，所述第二电源信号端用于接收所述第二电源信号，所述第三电源信号端用于接收所述第三电源信号，所述控制端用于接收第四电源信号，所述第四电源信号作为控制信号控制所述继电器的闭合和断开。优选的，在所述的DUT测试板中，DUT信号选择单元包括第一选择端口和第二选择端口，所述第一选择端口和第二选择端口均包括多个排针，所述多个排针呈矩形布置，每个排针均包括第一组连接端、第二组连接端和第三组连接端，所述第一组连接端、第二组连接端和第三组连接端以所述矩形为中心由内向外依次排列。优选的，在所述的DUT测试板中，所述第一选择端口的第一组连接端均与所述第一电源线电性连接，所述第一选择端口的第三组连接端与外部的测试通道一一对应并电性连接，所述第二选择端口的第一组连接端均与所述第四电源线电性连接，所述第二选择端口的第三组连接端以交替方式与所述第二电源线或第三电源线电性连接，所述第一选择端口的第二组连接端和第二选择端口的第二组连接端均用于与所述待测样品的电性连接。相应的，本专利技术还提供了一种DUT测试板的使用方法，所述DUT测试板的使用方法包括：提供如上所述的DUT测试板，并将所述DUT测试板安装到测试机台上；将一待测样品DUT放置于所述DUT测试板上，使得所述待测样品DUT的引脚与所述DUT测试板的DUT信号选择单元实现电性连接；以及对所述待测样品DUT进行VT测试或FT测试；进行VT测试时，通过所述DUT测试板上的自动切换单元自动接通Vpp信号；进行FT测试时，通过所述DUT测试板上的自动切换单元自动断开Vpp信号。优选的，在所述的DUT测试板的使用方法中，对所述待测样品DUT进行VT测试的具体过程包括：通过所述测试机台向所述DUT测试板的电源信号连接单元分别提供第一电源信号、第二电源信号、第三电源信号和第四电源信号；利用所述电源信号选择单元对所述第一电源信号、第二电源信号、第三电源信号和第四电源信号进行选择，并将VT测试所需的电源信号传输至DUT信号选择单元；以及通过所述DUT信号选择单元向所述待测样品DUT提供VT测试所需的DUT信号。优选的，在所述的DUT测试板的使用方法中，对所述待测样品DUT进行FT测试的具体过程包括：通过所述测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种DUT测试板，其特征在于，包括：电源信号选择单元、DUT信号选择单元和自动切换单元；所述电源信号选择单元用于接收外部测试机台提供的多个电源信号，并根据测试要求在所述多个电源信号中选择需要的电源信号；所述DUT信号选择单元与所述电源信号选择单元电性连接，并根据所述电源信号选择单元提供的电源信号向待测样品提供DUT信号；所述自动切换单元设置在所述电源信号选择单元与所述DUT信号选择单元之间，用于实现Vpp信号的自动接通与断开。

【技术特征摘要】
1.一种DUT测试板，其特征在于，包括：电源信号选择单元、DUT信号选择单元和自动切换单元；所述电源信号选择单元用于接收外部测试机台提供的多个电源信号，并根据测试要求在所述多个电源信号中选择需要的电源信号；所述DUT信号选择单元与所述电源信号选择单元电性连接，并根据所述电源信号选择单元提供的电源信号向待测样品提供DUT信号；所述自动切换单元设置在所述电源信号选择单元与所述DUT信号选择单元之间，用于实现Vpp信号的自动接通与断开。2.如权利要求1所述的DUT测试板，其特征在于，所述电源信号选择单元包括第一电源线、第二电源线、第三电源线、第四电源线和电源接口；所述电源接口用于分别接收第一电源信号、第二电源信号、第三电源信号和第四电源信号，所述第一电源线、第二电源线、第三电源线、第四电源线的一端均与所述电源接口电性连接，所述第一电源线和第四电源线的另一端直接与所述DUT信号选择单元电性连接，所述第二电源线和第三电源线的另一端通过自动切换单元与所述DUT信号选择单元电性连接；其中，所述第二电源信号或第三电源信号为所述Vpp信号。3.如权利要求2所述的DUT测试板，其特征在于，所述自动切换单元包括一继电器；所述第二电源线和第三电源线通过短接方式与所述继电器电性连接；或所述第二电源线和第三电源线通过短接方式跳过所述继电器，直接与所述DUT信号选择单元电性连接。4.如权利要求3所述的DUT测试板，其特征在于，所述继电器用于接收所述第二电源信号和第三电源信号，并实现所述第二电源信号与第三电源信号的自动切换，以实现所述Vpp信号的自动接通与断开。5.如权利要求3所述的DUT测试板，其特征在于，所述继电器包括：第二电源信号端、第三电源信号端和控制端，所述第二电源信号端用于接收所述第二电源信号，所述第三电源信号端用于接收所述第三电源信号，所述控制端用于接收第四电源信号，所述第四电源信号作为控制信号控制所述继电器的闭合和断开。6.如权利要求2所述的DUT测试板，其特征在于，DUT信号选择单元包括第一选择端口和第二选择端口，所述第一选择端口和第二选择端口均包括多个排针，所述多个排针呈矩形布置，每个排针均包括第一组连接端、第二组连接端和...

【专利技术属性】
技术研发人员：辛军启，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造天津有限公司，中芯国际集成电路制造上海有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12