The invention discloses a coated gold scraping wipe, wipe the body and includes a self wiping scraping body is bent to guide, scraping wiping body includes front and rear sides relative to the guide portion comprises a front and back toward the guide surface scraping bottom wipe body to the body after wiping scraping bottom guide surface; self guide part is provided at the same time through the front side side, after scraping in front of the trough and the guide surface to guide the V shape of the scraping groove is coated in gold includes two adjacent faces two scraping surface. The invention also discloses an optical resistance and wiping device. The scraping body and wipe wipe with scraping scraping self wipe body is bent to a guide portion before the guide surface scraping wipe the top of the body of the guide portion can be coated in gold from scraping the side to resist waste flows below, can be avoided in the process of wiping mouth Jinding accumulated waste photoresist. To improve the resist wiping effect, avoid unnecessary maintenance to gold, but also improve the production capacity.
【技术实现步骤摘要】
涂布口金刮拭擦及光阻刮拭装置
本专利技术涉及光阻涂布
,尤其涉及一种涂布口金刮拭擦及光阻刮拭装置。
技术介绍
目前,在TFT-LCD(thinfilmtransistor-liquidcrystaldisplay,薄膜晶体管液晶显示器)行业的光阻涂布制程中,多采用狭缝型口金对基板进行光阻涂布制程。狭缝型口金一般呈三棱柱形,因光阻本身存在较大粘性(一般大于3cp),每次涂布后均会有些许光阻残留在口金两侧,为避免影响下一次涂胶制程,目前设计多采用刮拭擦由一端向另一端刮拭的方式对口金表面残留的光阻进行刮拭。然而,此种刮拭擦在刮拭口金表面的光阻的过程中,存在如下几种不足:1、当前刮拭擦设计为一个具有与口金外形匹配的楔形开口,该楔形开口的两个面贴紧在口金的两个表面进行刮拭,刮拭擦在快速刮拭光阻时,会在口金上还未刮拭的前段累积刮拭下的废弃光阻,废弃光阻积累过多进而从刮拭擦顶部溢出,导致光阻溢出至口金已刮拭的后段,沾到口金喷嘴的顶侧,无法刮拭干净。2、鉴于以上原因,目前,对口金喷嘴顶侧的残留光阻,需要进行周期(每日)停机维护,人工使用酒精无尘布擦拭,防止长期积累造成微尘粒子(Particle)影响基板制程的问题。每次维护时需停机、擦拭、复机,至少需要2小时以上时间来完成,严重影响了生产产能。
技术实现思路
鉴于现有技术存在的不足,本专利技术提供了一种涂布口金刮拭擦及光阻刮拭装置,可以避免在刮拭过程中口金顶部累积废弃光阻,提高光阻刮拭效果,避免对口金的不必要维护,提高生产产能。为了实现上述的目的,本专利技术采用了如下的技术方案:一种涂布口金刮拭擦,用于沿涂布口金的长度方 ...
【技术保护点】
一种涂布口金刮拭擦,用于沿涂布口金的长度方向刮拭残留光阻,其特征在于,包括刮拭擦本体(1)和自所述刮拭擦本体(1)弯折的引导部(2),所述刮拭擦本体(1)包括相对的前侧面(11)和后侧面(12),所述引导部(2)包括朝向所述刮拭擦本体(1)底部的前引导面(21)和背向所述刮拭擦本体(1)底部的后引导面(22);自所述引导部(2)开设有同时贯穿所述前侧面(11)、所述后侧面(12)、所述前引导面(21)和所述后引导面(22)的V形的刮拭槽(10),所述刮拭槽(10)包括分别正对涂布口金的两个相邻面的两个刮拭面(13)。
【技术特征摘要】
1.一种涂布口金刮拭擦,用于沿涂布口金的长度方向刮拭残留光阻,其特征在于,包括刮拭擦本体(1)和自所述刮拭擦本体(1)弯折的引导部(2),所述刮拭擦本体(1)包括相对的前侧面(11)和后侧面(12),所述引导部(2)包括朝向所述刮拭擦本体(1)底部的前引导面(21)和背向所述刮拭擦本体(1)底部的后引导面(22);自所述引导部(2)开设有同时贯穿所述前侧面(11)、所述后侧面(12)、所述前引导面(21)和所述后引导面(22)的V形的刮拭槽(10),所述刮拭槽(10)包括分别正对涂布口金的两个相邻面的两个刮拭面(13)。2.根据权利要求1所述的涂布口金刮拭擦,其特征在于,所述前引导面(21)与所述刮拭擦的刮拭方向所呈角度为锐角。3.根据权利要求2所述的涂布口金刮拭擦,其特征在于,所述前侧面(11)与所述前引导面(21)所形成的角度小于180°。4.根据权利要求3所述的涂布口金刮拭擦,其特征在于,所述前侧面(11)...
【专利技术属性】
技术研发人员:罗善高,
申请(专利权)人:深圳市华星光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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