一种掉电测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术的主要目的在于提供一种掉电测试方法及装置，以解决相关技术中智能卡掉电测试效率降低的问题。该方法包括：将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值，该初始值小于4us；通过设置后的掉电读写器对智能卡进行掉电测试，本申请提高了掉电测试的效率。

A power down test method and device

The main purpose of the invention is to provide a power loss testing method and device, so as to solve the problem that the efficiency of smart card power down test is reduced in related technology. The method includes setting the minimum power down time interval of the power-off reader as an initial value, the initial value is less than 4us; after setting the power-off reader, the smart card is tested for power off, and the efficiency of the power down test is improved.

【技术实现步骤摘要】
一种掉电测试方法及装置
本专利技术涉及智能卡领域，尤其涉及一种掉电测试方法及装置。
技术介绍
众所周知，金融芯片卡与磁条卡相比存在诸多优势，如安全性高，寿命长，不会被消磁，可支持多个应用以及支付功能便捷等。但芯片卡在写EEPROM(ElectricallyErasableProgrammableRead-OnlyMemory，电可擦可编程只读存储器)或者Flash过程中掉电会造成芯片内数据错误，导致芯片卡不可用或者关键数据错误，例如，卡内金额错误的问题。为了避免出现该问题，会在芯片卡的程序中加入掉电保护机制，通过掉电读写器验证掉电保护机制的实现是否成功。由于芯片制造工艺的升级，存储器的性能越来越快，擦写时间也越来越短，已经由原来的15us缩短到现在的5us左右。要模拟用户在使用过程中突然拔卡或将卡移开，掉电读写器的的掉电时间间隔则需要更加准确。在产品测试过程中存在如下问题，在使用掉电间隔为10us的掉电读写器测试时，某些问题不能复现或者不能稳定复现，由于在芯片卡大量使用过程中的掉电时机是不可控的，当使用10us的掉电读写器进行测试时，测试结果是不准确的。对于一些特殊指令写EEPROM或者Flash时间较长，能达到700ms甚至更长，使用40us掉电读写器测试，需要大约1.8万次才能遍历所有掉电点，测试时间40小时(测试中需要执行其它指令验证掉电保护机制功能)。可见，掉电读写器的测试时间间隔并不能适用于不同场景下的掉电测试，在一些场景下可能会导致测试效率较低的问题出现。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种掉电测试方法及装置，以解决相关技术中智能卡掉电测试效率降低的问题。本专利技术提供了一种掉电测试方法，包括：将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值，所述初始值小于4us；通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试。可选的，所述通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试，包括：通过所述掉电读写器对使用非接触界面时的所述智能卡，和/或使用接触界面时的所述智能卡进行掉电测试。可选的，所述初始值为1us。可选的，所述方法还包括：在将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值之后，接收外部指令，根据所述外部指令中指示的目标正整数，将所述掉电读写器的最小掉电时间间隔更改为所述初始值的目标正整数倍。可选的，所述通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试，包括：在所述掉电测试的过程中，在对预设种类的指令进行测试时，减小所述掉电读写器的最小掉电时间间隔。本专利技术还提供了一种掉电测试装置，包括：设置模块，用于将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值，所述初始值小于4us；测试模块，用于通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试。可选的，所述测试模块用于：通过所述掉电读写器对使用非接触界面时的所述智能卡，和/或使用接触界面时的所述智能卡进行掉电测试。可选的，所述初始值为1us。可选的，所述装置还包括：更改模块，用于在将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值之后，接收外部指令，根据所述外部指令中指示的目标正整数，将所述掉电读写器的最小掉电时间间隔更改为所述初始值的目标正整数倍。可选的，所述测试模块用于：在所述掉电测试的过程中，在对预设种类的指令进行测试时，减小所述掉电读写器的最小掉电时间间隔。本专利技术实施例提供的掉电测试方法，提高了掉电读写器的最小掉电时间间隔的精度，提高了掉电测试的效率。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是根据本专利技术一示例性实施例提供的掉电测试方法的流程图；图2是根据本专利技术一示例性实施例提供的掉电测试装置的结构框图。具体实施方式为了解决相关技术中智能卡掉电测试效率降低的问题，本专利技术提供了一种掉电测试方法及装置，以下结合附图以及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不限定本专利技术。在对智能卡进行掉电测试的过程中，使用掉电时间间隔为4us的掉电读写器对智能卡进行掉电测试时可以复现的某一问题，在使用掉电时间间隔为10us的掉电读写器对该智能卡进行掉电测试时，该问题不能复现或者不能稳定复现，由于智能卡在使用过程中的掉电时机是不可控的，故，如果使用掉电时间间隔大于10us的掉电读写器对智能卡进行掉电测试，则不仅测试结果是不严谨的，且测试耗时较长，严重降低了测试效率。基于上述分析，本专利技术提供了一种掉电测试方法，用以对智能卡进行掉电测试，如图1所示，该方法包括如下处理：步骤101：将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值；其中，可以设置初始值小于4us。示例的，可以通过对掉电读写器的核心部件进行升级，例如，可以通过提高掉电计时器的输入频率，将计时计数器扩展成4字节的方式，从而将掉电时间间隔减少至1us，该1us则为步骤101中的初始值，在对智能卡进行掉电测试时，则以1us为最小掉电时间间隔进行测试。在对掉电读写器设置初始值后，可以认为该读写器的默认最小掉电时间间隔即为设置的初始值。示例的，本专利技术提供的智能卡可以是芯片卡，更进一步还可以是双界面IC(IntegratedCircuitCard，集成电路卡)卡，即具有接触式与非接触式两种接口的IC卡。步骤102：通过掉电读写器对智能卡进行掉电测试。本专利技术提供的掉电测试方法提高了掉电读写器的最小掉电时间间隔的精度，使得掉电读写器能够更广泛地适用于各种智能卡的掉电测试场景，同时提高了掉电测试的效率。在掉电测试过程中，对于一些特殊指令，例如写EEPROM或者Flash时间较长的情况，能达到700ms甚至更多，使用掉电时间间隔为40us的掉电读写器进行掉电测试，需要大约1.8万次才能遍历完成所有的掉电点，测试时间大约40小时(测试中需要执行其它指令验证掉电保护机制功能)，如果使用掉电时间间隔为4us的掉电读写器，则一条指令的测试时间甚至超过了一个芯片卡集成测试的全部时间。故，在一个具体实施例中，设置掉电读写器的最小掉电时间间隔为可调的。基于此，本实施例的掉电测试方法还可以包括：在将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值之后，即执行完上述步骤101之后，接收外部指令，根据该外部指令中指示的目标正整数，将掉电读写器的最小掉电时间间隔更改为初始值的目标正整数倍。或者，通过掉电读写器对智能卡进行掉电测试的步骤可以包括：在对智能卡进行掉电测试的过程中，在对预设种类的指令(预先指定某些种类的指令)进行测试时，减小掉电读写器的最小掉电时间间隔，其中，预设种类的指令可以包括测试耗时较长的指令。此外，也可以通过一条指令来更改掉电读写器的最小掉电时间间隔。由于在对智能卡进行掉电测试的过程中，仅仅使用接触界面时不足以真实复现芯片卡的实际使用场景，所以在芯片卡的非接触界面环境下，即使用非接触界面时的掉电测试是非常有必要的。在另一个具体实施例中，本专利技术提供的掉电测试方法加入非接触界面功能，基于此，通过掉电读写器对智能卡进行掉电测试的步骤可以包括：通过掉电读写器对使用非接触界面时的智能卡，和/或使用接触界面时的智能卡进行掉电测试。本专利技术提供的掉电测试方法提高了掉电读写器掉电时间间隔的精度，同时设置掉电读写器的掉电时间间隔可调，使得本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种掉电测试方法，其特征在于，包括：将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值，所述初始值小于4us；通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试。

【技术特征摘要】
1.一种掉电测试方法，其特征在于，包括：将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值，所述初始值小于4us；通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试，包括：通过所述掉电读写器对使用非接触界面时的所述智能卡，和/或使用接触界面时的所述智能卡进行掉电测试。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始值为1us。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在将掉电读写器的最小掉电时间间隔设置为一初始值之后，接收外部指令，根据所述外部指令中指示的目标正整数，将所述掉电读写器的最小掉电时间间隔更改为所述初始值的目标正整数倍。5.根据权利要求1至4任意一项所述的方法，其特征在于，所述通过所述掉电读写器对智能卡进行掉电测试，包括：在所述掉电测试的过程中，在对预设种类的指令进行测试时，减小所述掉电读写器的最小掉电...

【专利技术属性】
技术研发人员：底明辉，
申请(专利权)人：恒宝股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32