分布式控制装置的测试插件制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种分布式控制装置的测试插件，分布式控制装置包括数个接线端子，每个接线端子包括一个端子接线孔及位于端子接线孔内的导体。测试插件包括一个印刷电路板、数个探针和一个IDC插座。数个探针设置于印刷电路板的一个表面，数个探针由接触探针和连接探针两种探针组成。接触探针为可沿其轴向弹性伸缩的弹性探针。连接探针能够伸入至端子接线孔中与导体接触并固定连接，且固定连接后，能够使各接触探针与对应的导体弹性接触。IDC插座设置于印刷电路板，IDC插座的各引脚通过印刷电路板与各探针电气连接。上述测试插件可快捷方便的安装至分布式控制装置的接线端子，省时省力，方便测试。

Test plug in of distributed control device

The utility model provides a test plug-in for a distributed control device, and the distributed control device comprises a plurality of terminals, each of which comprises a terminal connecting hole and a conductor positioned in the terminal connecting hole. The test plug-in includes a printed circuit board, a number of probes and a IDC socket. A number of probes are mounted on one surface of the printed circuit board, and several probes are made up of two probes, the contact probe and the connecting probe. The contact probe is an elastic probe that can stretch elastically along its axis. The connecting probe can extend into the terminal connection hole and contact with the conductor and be fixedly connected. After the fixed connection, the contact probe can be contacted with the corresponding conductor elastically. The IDC socket is installed on the printed circuit board, and each pin of the IDC socket is electrically connected with the probe through the printed circuit board. The test plug-in can be quickly and conveniently installed to the terminals of the distributed control device, which saves time and labor, and is convenient for testing.

【技术实现步骤摘要】
分布式控制装置的测试插件
本技术涉及一种测试插件，尤其涉及一种分布式控制装置的测试插件。
技术介绍
分布式控制装置(DCS)的输入输出模块会接出有很多接线端子，每个接线端子包括一个端子接线孔及位于端子接线孔内的导体。分布式控制装置需要测试时，现有方法是将信号发生器的每根信号线分别插入每个接线孔内，并用螺钉将每根信号线锁紧至导体，以保证每根信号线和接线端子接触良好。测试完成后还要松开所有螺钉，以释放信号发生器的信号线。然而现有的工业自动控制系统通常包括数十个分布式控制装置，而每个分布式控制装置内通常会接出有1000个左右的接线端子，也就是需要1000个左右的螺钉来固定信号发生器的信号线至接线端子，费时费力。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种分布式控制装置的测试插件，其可快捷方便的安装至分布式控制装置的接线端子，省时省力，方便测试。本技术提供了一种分布式控制装置的测试插件，分布式控制装置包括数个接线端子，每个接线端子包括一个端子接线孔及位于端子接线孔内的导体。测试插件包括一个印刷电路板、数个探针和一个IDC插座。数个探针设置于印刷电路板的一个表面，且分别对应于数个端子接线孔。数个探针由接触探针和连接探针两种探针组成，接触探针为可沿其轴向弹性伸缩的弹性探针，连接探针能够伸入至端子接线孔中与导体接触并固定连接，且连接探针固定连接后，能够使各接触探针与对应的导体弹性接触。IDC插座设置于印刷电路板，且IDC插座的各引脚通过印刷电路板与各探针电气连接。由于测试插件的探针与接线端子的连接过程中，仅部分探针即连接探针需要人工锁紧至接线端子，而其他探针即接触探针无需人工锁紧，能够自行实现与接线端子的连接，所以上述分布式控制装置的测试插件可以省去原先人工操作的大部分工作，安装快捷，省时省力，方便测试。在分布式控制装置的测试插件的一种示意性实施方式中，数个探针沿一直线间隔设置。在分布式控制装置的测试插件的一种示意性实施方式中，数个探针中包括两个连接探针，两个连接探针位于数个探针的首尾两端。上述设计，可在保证良好连接效果的情况下，采用尽量少的连接探针，以尽量减少人工锁紧的工作量。在分布式控制装置的测试插件的一种示意性实施方式中，印刷电路板包括一个第一表面和一个与第一表面背对的第二表面。数个探针设置于第一表面的一个端部。IDC插座设置于第二表面上远离数个探针的一端。上述设计有助于测试插件的结构排布，不影响探针及IDC插座与其他结构的连接关系。在分布式控制装置的测试插件的一种示意性实施方式中，连接探针也为弹性探针。在分布式控制装置的测试插件的一种示意性实施方式中，连接探针为长度固定的探针。下文将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施例，对分布式控制装置的测试插件的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。附图说明以下附图仅对本技术做示意性说明和解释，并不限定本技术的范围。图1用以说明分布式控制装置的测试插件的一种示意性实施方式的结构示意图。图2用以说明图1所示的测试插件与分布式控制装置的连接关系示意图。图3用以说明弹性探针的示意性结构。标号说明12印刷电路板122第一表面124第二表面14IDC插座16探针161触头162接触探针163弹簧164连接探针165壳体22端子接线孔222导体30螺钉。具体实施方式为了对技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本技术的具体实施方式，在各图中相同的标号表示结构相同或结构相似但功能相同的部件。在本文中，“示意性”表示“充当实例、例子或说明”，不应将在本文中被描述为“示意性”的任何图示、实施方式解释为一种更优选的或更具优点的技术方案。为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本技术相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，为使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“第一”、“第二”等仅用于彼此的区分，而非表示它们的重要程度及顺序等。图1用以说明分布式控制装置的测试插件的一种示意性实施方式的结构示意图。图2用以说明图1所示的测试插件与分布式控制装置插接的示意图。分布式控制装置包括数个接线端子，每个接线端子包括一个端子接线孔22及位于端子接线孔22内的导体222，请同时参见图1和图2。其中，图1中为清楚表明端子接线孔22，将具有端子接线孔22的一面翻转至了图中所示的角度。而为了与测试插件10实现插接关系，具有端子接线孔22的一面需要沿图1中箭头所示方向翻转后才可完成插接(即图2中端子接线孔22与测试插件的位置关系)。如图1所示，测试插件10包括一个印刷电路板12、数个探针和一个IDC插座14。其中数个探针设置于印刷电路板12的一个表面122。IDC插座14设置于印刷电路板12，且IDC插座14的各引脚通过印刷电路板12与各探针电气连接。在图1和图2所示的实施方式中，印刷电路板12包括一个第一表面122和一个与第一表面122背对的第二表面124。数个探针设置于第一表面122的一个端部，请参见图1，IDC插座14设置于第二表面122上远离数个探针的一端。上述设计有助于测试插件10的结构排布，不影响探针及IDC插座与其他结构的连接关系。当然根据设计需要的不同，并不局限于图中所示结构，例如IDC插座14也可以与数个探针设置于同一个表面上。数个探针由接触探针162和连接探针164两种探针组成，请同时参见图1和图2。其中，接触探针162为可沿其轴向弹性伸缩的弹性探针，弹性探针的结构如图3所示，其一般包括一个壳体165、一个触头161和一个弹簧163，触头161通过弹簧163连接于壳体165内，并可相对于壳体165移动，以使接触探针162的整体在其轴向受外力时收缩，而在除去外力时伸展。当然根据设计需要的不同，弹性探针可以采用现有任何已知的弹性探针结构，并不局限于图3所示的结构。而连接探针164能够伸入至端子接线孔22中与导体222接触并固定连接，在图1所示的实施方式中，连接探针164能够通过螺钉30实现与导体222(参见图2)的固定连接。且在连接探针164实现固定连接后，可以使与连接探针164设置在同一表面122上的接触探针162都会与对应的端子接线孔22中的导体222接触，并在其各自的轴向上收缩以与各导体222实现弹性接触，这里所述的弹性接触即指零件在弹性力的作用下保持与另一个零件接触的接触关系。例如连接探针164可以采用长度固定的探针，本领域技术人员可以理解，如果连接探针164的长度固定不变，则连接探针164的长度应该比接触探针162伸长的长度短，如图2所示，以保证在连接探针164与导体222接触并固定连接后，接触探针162能够与对应的导体222弹性接触。当然根据设计需要的不同，连接探针164也可以采用弹性探针。上述分布式控制装置的测试插件的探针插接于分布式控制装置后，再利用测试插件的IDC插座与信号发生器(图中未画出)，就可以实现信号发生器与分布式控制装置的各个接线端子的电气连接，以完成测试，测试结束后，依次断开信号发生器、取下测试插件即可。由于测试插件的探针与接线端子的连接过程中，仅部分探针即连接探针需要人工锁紧至接线端子，而其他探针即接触探本文档来自技高网...

【技术保护点】
分布式控制装置的测试插件，所述分布式控制装置包括数个接线端子，每个接线端子包括一个端子接线孔(22)及位于所述端子接线孔(22)内的导体(222)，其特征在于，所述测试插件(10)包括：一个印刷电路板(12)；数个探针，所述数个探针设置于所述印刷电路板(12)的一个表面(122)，且分别对应于所述数个端子接线孔(22)，所述数个探针由以下两种探针组成：接触探针(162)，所述接触探针为可沿其轴向弹性伸缩的弹性探针；和连接探针(164)，其能够伸入至所述端子接线孔(22)中与所述导体(222)接触并固定连接，且所述连接探针(164)固定连接后，能够使各所述接触探针(162)与对应的所述导体(222)弹性接触，一个IDC插座(14)，其设置于所述印刷电路板(12)，且所述IDC插座(14)的各引脚通过所述印刷电路板(12)与各所述探针电气连接。

【技术特征摘要】
1.分布式控制装置的测试插件，所述分布式控制装置包括数个接线端子，每个接线端子包括一个端子接线孔(22)及位于所述端子接线孔(22)内的导体(222)，其特征在于，所述测试插件(10)包括：一个印刷电路板(12)；数个探针，所述数个探针设置于所述印刷电路板(12)的一个表面(122)，且分别对应于所述数个端子接线孔(22)，所述数个探针由以下两种探针组成：接触探针(162)，所述接触探针为可沿其轴向弹性伸缩的弹性探针；和连接探针(164)，其能够伸入至所述端子接线孔(22)中与所述导体(222)接触并固定连接，且所述连接探针(164)固定连接后，能够使各所述接触探针(162)与对应的所述导体(222)弹性接触，一个IDC插座(14)，其设置于所述印刷电路板(12)，且所述IDC插座(14)的各引脚...

【专利技术属性】
技术研发人员：张健，薛栋，
申请(专利权)人：西门子电站自动化有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32