接触供电测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电子仪器测试领域，提供了一种接触供电测试装置，包括底座、架设在底座上的龙门架、板卡测试组件以及设置在龙门架顶部的，用于压紧板卡的压紧组件；底座上设有导轨及第一驱动机构，板卡测试组件设置在导轨上，第一驱动机构驱动板卡测试组件沿导轨移动；龙门架的下端设有测试引脚接收端口，在板卡测试组件上与测试引脚接收端口相向的侧部上设有与测试引脚接收端口相对应的测试引脚输入端口；当第一驱动机构驱动板卡测试组件移进龙门架时，测试引脚输入端口与测试引脚接收端口对应插接。本实用新型专利技术的接触供电测试装置，工作时导线不会随着测试盒运动，以避免导线被测试盒拉扯的现象发生。

Contact power supply test device

The utility model relates to an electronic instrument testing field, provides a contactless power supply testing device, which comprises a base, set up in Longmen on the base frame, board test assembly and set up in Longmen at the top of the frame, for pressing the pressing assembly is arranged on the base board; and a guide rail driving mechanism, board testing module is arranged on the guide rail. The first driving mechanism drives the mobile card test component along the guide rail; Longmen frame is arranged on the lower end of the test pin receiving port, a receiving port opposite and test pins on board testing components on the side is provided with a test pin receiving port corresponding to the test pin input port; when the first driving test board assembly frame when moving into Longmen. Test pin input port and the test pin receiving port corresponding plug. The contact power supply test device of the utility model does not move with the test box when the work is in place, so as to avoid the pulling of the wire by the test box.

【技术实现步骤摘要】
接触供电测试装置
本技术涉及电子仪器测试领域，特别涉及一种接触供电测试装置。
技术介绍
在对板卡的功能进行测试时，一般是将板卡固定在测试盒的板卡固定板上，使板卡上的焊点与测试盒的探针接触，然后探针将焊点的电信号传导至测试装置，以对板卡的电性能进行测试；为了使板卡的焊点与测试盒的探针有效接触，需要将测试盒定位到工装夹具上，通过气缸推动顶针向下运动将板卡压紧以使板卡的焊点与探针可靠接触。而为了便于自动化操作，将测试盒设置了上料/卸料工位和测试工位，并由气缸驱动测试盒在这两个工位之间往复运动，但是，现有的测试盒的探针是通过导线与测试装置连接的，当测试盒在那两个工位之间往复运动时，导线也会受到测试盒的拉扯而随之运动，导线拉扯频繁会使导线与探针的连接处疲劳导致接触不良，影响检测结果；同时，导线也会容易被扯断而频繁的更换，影响板卡的测试效率。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种导线不会随着测试盒运动的接触供电测试装置，以避免导线被测试盒拉扯的现象发生，以提高测试盒的探针与测试装置连接的稳定性，并同是提高板卡的测试效率。为了实现上述目的，本技术提供了一种接触供电测试装置，包括底座、架设在所述底座上的龙门架、板卡测试组件以及设置在所述龙门架顶部的，用于压紧板卡的压紧组件；所述底座上设有导轨及第一驱动机构，所述板卡测试组件设置在所述导轨上，所述第一驱动机构驱动所述板卡测试组件沿所述导轨移动；所述龙门架的下端设有测试引脚接收端口，在所述板卡测试组件上与所述测试引脚接收端口相向的侧部上设有与所述测试引脚接收端口相对应的测试引脚输入端口；当所述第一驱动机构驱动所述板卡测试组件移进所述龙门架时，所述测试引脚输入端口与所述测试引脚接收端口对应插接。作为优选方案，所述龙门架的下端设有横板，所述横板的两端分别跨接在所述龙门架的两个相对的立柱上；所述测试引脚接收端口包括引脚集成块和多个第一引脚，所述引脚集成块固定在所述横板的中部，多个所述第一引脚排列在所述引脚集成块上，且所述第一引脚的两端从所述引脚集成块中穿出。作为优选方案，所述测试引脚输入端口包括多个第二引脚，多个所述第二引脚排列在所述侧部上，且所述第二引脚的一端伸入到所述板卡测试组件内，所述第二引脚的另一端露出所述板卡测试组件；当所述第一驱动机构驱动所述板卡测试移进所述龙门架时，所述第一引脚与所述第二引脚对应连接。作为优选方案，所述板卡测试组件的所述侧部上设有与所述引脚集成块位置相对应的插接口；当所述第一驱动机构驱动所述板卡测试移进所述龙门架时，所述引脚集成块对应插接在所述插接口内。作为优选方案，所述板卡测试组件包括测试盒以及由底板和侧壁围成的上部开口的测试盒固定壳；所述测试盒固定壳的底部连接在所述导轨上，所述测试盒固定壳与所述测试引脚接收端口相向的侧壁上设有供所述测试引脚接收端口的引脚集成块对应插接的插接口；所述测试盒固定壳的侧壁的内侧设有压紧组件，所述压紧组件的压紧块的至少一部分可从所述测试盒固定壳的侧壁的内侧伸出和退回；当测试盒从所述测试盒固定壳的开口插入所述测试盒固定壳时，所述压紧块抵靠在所述测试盒的侧壁上。作为优选方案，所述压紧组件包括第一弹性件、所述压紧块及固定块，所述第一弹性件的一端连接在所述壳体的侧壁的内侧上，所述第一弹性件的另一端连接所述压紧块；所述固定块的中部设有过孔，所述测试盒固定壳的侧壁内侧设有收容槽；所述固定块固定在所述收容槽内，所述压紧块的外侧部轮廓与所述过孔内侧部轮廓形状配合，且所述压紧块可沿所述通孔的轴向移动。作为优选方案，所述压紧块伸出所述测试盒固定壳的侧壁的端面上设有自所述测试盒固定壳的开口向所述测试盒固定壳底部倾斜设置的导向部以及承接在所述导向部末端的压紧部。作为优选方案，所述测试盒包括上端开口的壳体、外围尺寸大于所述壳体的开口的外围尺寸的上盖以及板卡固定板，所述上盖可拆卸地固定在所述壳体的上端，且所述上盖的靠近其外围的区域伸出所述壳体的侧壁外侧，所述板卡固定板可浮动地设于所述上盖的上表面；所述板卡固定板上设有多个与板卡的焊锡点位置相对应的第一通孔，所述上盖与所述第一通孔相对应的位置上设有第三引脚，所述第三引脚的下端与所述测试引脚输入端口的引脚电连接，所述第三引脚的上端伸出所述上盖的上表面且与所述第一通孔相对应。作为优选方案，所述测试盒固定壳的侧壁的上端设有定位销，所述上盖的伸出所述测试盒固定壳的侧壁外侧的区域内设有与所述定位销相匹配的定位孔；当所述测试盒插接于所述测试盒固定壳内时，所述定位孔对应套接于所述定位销上。作为优选方案，所述上盖上设有多个弹性定位件，所述弹性定位件包括套筒、定位杆和第三弹性件，在所述板卡固定板与所述弹性定位件相对应的位置处设有第二通孔，所述套筒垂直地固定在所述上盖上，所述第三弹性件设于所述套筒内，所述定位杆的一端可滑动地套接于所述套筒内，所述定位杆的另一端设有锥形定位部，且该锥形定位部穿出所述第二通孔。本技术的接触供电测试装置，在龙门架的下端设有测试引脚接收端口，在板卡测试组件上与测试引脚接收端口相向的侧部上设有与测试引脚接收端相对应的测试引脚输入端口；当第一驱动机构驱动板卡测试组件移进龙门架(即测试盒位于测试工位)时，测试引脚输入端口与测试引脚接收端口对应插接，可实现测试盒与测试装置良好电连接，而当第一驱动机构驱动板卡测试组件移出龙门架(即测试盒位于上料/卸料工位)时测试引脚输入端口与测试引脚接收端口断开，此时，由于板卡不需要测试，测试引脚输入端口与测试引脚接收端口断开不影响测试进程，因此，不需要导线将测试盒与测试装置连接，从而可以避免导线被测试盒拉扯的现象发生，以提高测试盒的探针与测试装置连接的稳定性，并同时提高板卡的测试效率。附图说明图1是本技术优选实施例的接触供电测试装置的整体结构简图；图2是本技术优选实施例的接触供电测试装置测试引脚输入端口与测试引脚接收端口的连接结构示意图；图3是本技术优选实施例的测试盒固定壳的整体结构简图；图4是本技术优选实施例的测试盒的整体结构简图。其中，1、底座；11、导轨；12、第一驱动机构；2、龙门架；3、板卡测试组件；31、测试盒固定壳；310、插接口；311、测试盒固定壳侧壁；312、压紧块；313、第一弹性件；314、收容槽；315、固定块；316、过孔；317、导向部；318、压紧部；319、定位销；32、测试盒；320、壳体、321、测试盒侧壁；322、上盖；323、板卡固定板；324、第一通孔；325、弹性支撑件；3251、导向筒；3252、支撑杆；326、第三引脚；327、定位孔；328、弹性定位件；3281、套筒；3282、定位杆；3283、锥形定位部；329、第二通孔；4、压紧组件；41、第二驱动机构；42、下压板；5、横板；50、引脚穿过孔；6、测试引脚接收端口；61、引脚集成块；62、第一引脚；7、测试引脚输入端口；70、第二引脚。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不用来限制本技术的范围。结合图1及图4所示，示意性地显示了本技术实施例的接触供电测试装置，其包括底座1、架设在底座1上的龙门架2、板卡测试组件3以及设置在龙门架2顶部本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种接触供电测试装置，其特征在于，包括底座、架设在所述底座上的龙门架、板卡测试组件以及设置在所述龙门架顶部的，用于压紧板卡的压紧组件；所述底座上设有导轨及第一驱动机构，所述板卡测试组件设置在所述导轨上，所述第一驱动机构驱动所述板卡测试组件沿所述导轨移动；所述龙门架的下端设有测试引脚接收端口，在所述板卡测试组件上与所述测试引脚接收端口相向的侧部上设有与所述测试引脚接收端口相对应的测试引脚输入端口；当所述第一驱动机构驱动所述板卡测试组件移进所述龙门架时，所述测试引脚输入端口与所述测试引脚接收端口对应插接。

【技术特征摘要】
1.一种接触供电测试装置，其特征在于，包括底座、架设在所述底座上的龙门架、板卡测试组件以及设置在所述龙门架顶部的，用于压紧板卡的压紧组件；所述底座上设有导轨及第一驱动机构，所述板卡测试组件设置在所述导轨上，所述第一驱动机构驱动所述板卡测试组件沿所述导轨移动；所述龙门架的下端设有测试引脚接收端口，在所述板卡测试组件上与所述测试引脚接收端口相向的侧部上设有与所述测试引脚接收端口相对应的测试引脚输入端口；当所述第一驱动机构驱动所述板卡测试组件移进所述龙门架时，所述测试引脚输入端口与所述测试引脚接收端口对应插接。2.根据权利要求1所述的接触供电测试装置，其特征在于，所述龙门架的下端设有横板，所述横板的两端分别跨接在所述龙门架的两个相对的立柱上；所述测试引脚接收端口包括引脚集成块和多个第一引脚，所述引脚集成块固定在所述横板的中部，多个所述第一引脚排列在所述引脚集成块上，且所述第一引脚的两端从所述引脚集成块中穿出。3.根据权利要求2所述的接触供电测试装置，其特征在于，所述测试引脚输入端口包括多个第二引脚，多个所述第二引脚排列在所述侧部上，且所述第二引脚的一端伸入到所述板卡测试组件内，所述第二引脚的另一端露出所述板卡测试组件；当所述第一驱动机构驱动所述板卡测试移进所述龙门架时，所述第一引脚与所述第二引脚对应连接。4.根据权利要求2或3所述的接触供电测试装置，其特征在于，所述板卡测试组件的所述侧部上设有与所述引脚集成块位置相对应的插接口；当所述第一驱动机构驱动所述板卡测试移进所述龙门架时，所述引脚集成块对应插接在所述插接口内。5.根据权利要求1所述的接触供电测试装置，其特征在于，所述板卡测试组件包括测试盒以及由底板和侧壁围成的上部开口的测试盒固定壳；所述测试盒固定壳的底部连接在所述导轨上，所述测试盒固定壳与所述测试引脚接收端口相向的侧壁上设有供所述测试引脚接收端口的引脚集成块对应插接的插接口；所述测试盒固定壳的侧壁的内侧设有压紧组件，所述压紧组件的压紧块的至少一部分可从所述测试盒固定壳的侧壁的内侧伸出和退回；当测试盒从所述测试盒固定壳的开...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨建新，谯修理，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44