粒子检测传感器制造技术

提供能够降低因漫射光的光噪声的粒子检测传感器。所述粒子检测传感器具备：投光元件(10)，向检测区域DA射出光；受光元件(20)，接受散射光，该散射光是来自投光元件(10)的光因检测区域DA的粒子而散射的光；第一反射体(30)，反射散射光，并引导到受光元件(30)；以及光衰减部(60)，用于使从第一反射体(30)排出的光衰减，在第一反射体(30)设置有用于将投光元件(10)的光导入到第一反射体(30)的内部的光导入孔(31)(第一孔)，从第一反射体(30)排出的光穿过的光排出孔(32)(第二孔)，在光衰减部(60)设置有从第一反射体(30)的光排出孔(32)排出的光穿过的贯通孔(61)，贯通孔(61)的开口面积比光排出孔(32)的开口面积小。

Particle detection sensor

A particle detection sensor that can reduce the light noise due to diffuse light is provided. \u6240\u8ff0\u7c92\u5b50\u68c0\u6d4b\u4f20\u611f\u5668\u5177\u5907\uff1a\u6295\u5149\u5143\u4ef6(10)\uff0c\u5411\u68c0\u6d4b\u533a\u57dfDA\u5c04\u51fa\u5149\uff1b\u53d7\u5149\u5143\u4ef6(20)\uff0c\u63a5\u53d7\u6563\u5c04\u5149\uff0c\u8be5\u6563\u5c04\u5149\u662f\u6765\u81ea\u6295\u5149\u5143\u4ef6(10)\u7684\u5149\u56e0\u68c0\u6d4b\u533a\u57dfDA\u7684\u7c92\u5b50\u800c\u6563\u5c04\u7684\u5149\uff1b\u7b2c\u4e00\u53cd\u5c04\u4f53(30)\uff0c\u53cd\u5c04\u6563\u5c04\u5149\uff0c\u5e76\u5f15\u5bfc\u5230\u53d7\u5149\u5143\u4ef6(30)\uff1b\u4ee5\u53ca\u5149\u8870\u51cf\u90e8(60)\uff0c\u7528\u4e8e\u4f7f\u4ece\u7b2c\u4e00\u53cd\u5c04\u4f53(30)\u6392\u51fa\u7684\u5149\u8870\u51cf\uff0c\u5728\u7b2c\u4e00\u53cd\u5c04\u4f53(30)\u8bbe\u7f6e\u6709\u7528\u4e8e\u5c06\u6295\u5149\u5143\u4ef6(10)\u7684\u5149\u5bfc\u5165\u5230\u7b2c\u4e00\u53cd\u5c04\u4f53(30)\u7684\u5185\u90e8\u7684\u5149\u5bfc\u5165\u5b54(31)(\u7b2c\u4e00\u5b54)\uff0c\u4ece\u7b2c\u4e00\u53cd\u5c04\u4f53(30)\u6392\u51fa\u7684\u5149\u7a7f\u8fc7\u7684\u5149\u6392\u51fa\u5b54(32)(\u7b2c\u4e8c\u5b54)\uff0c\u5728\u5149\u8870\u51cf\u90e8(60)\u8bbe\u7f6e\u6709\u4ece\u7b2c\u4e00\u53cd\u5c04\u4f53(30)\u7684\u5149\u6392\u51fa\u5b54(32)\u6392\u51fa\u7684\u5149\u7a7f\u8fc7\u7684\u8d2f\u901a\u5b54(61)\uff0c\u8d2f\u901a\u5b54(61)\u7684\u5f00\u53e3\u9762\u79ef\u6bd4\u5149\u6392\u51fa\u5b54(32)\u7684\u5f00\u53e3\u9762\u79ef\u5c0f\u3002

【技术实现步骤摘要】
粒子检测传感器
本技术涉及粒子检测传感器。
技术介绍
作为粒子检测传感器，已知有光散射式粒子检测传感器，该光散射式粒子检测传感器，根据粒子的散射光来检测大气中浮游的粒子(气溶胶)。光散射式粒子检测传感器是具备投光元件和受光元件的光电式传感器，根据向获取的测量对象的气体照射投光元件的光而产生的粒子的散射光，检测气体中包含的粒子。这样，能够检测例如大气中浮游的尘埃、花粉、烟雾、PM2.5(微小粒子状物质)等的粒子。在光散射式粒子检测传感器存在这样的问题，从投光元件射出的光的一部分成为漫射光(不需要的光)而到达受光元件，从而检测精度降低。于是，提出了如下技术，在与投光元件或者受光元件相对的位置设置光阱构造(漫射光阱)，从而抑制漫射光(例如参考专利文献1、2)。专利文献1：日本特开平11-248629号公报专利文献2：日本特开2000-235000号公报近几年，粒子检测传感器中，为了使检测效率提高，正在研究设置反射体(镜子)。在这个情况下，用反射体反射粒子的散射光，并聚光到受光元件从而使检测效率提高。然而，反射体的聚光能力非常高，即使一点光从光阱构造泄漏，这个泄漏的光成为漫射光射入到受光元件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种粒子检测传感器，其特征在于，具备：投光元件，向检测区域射出光；受光元件，接受散射光，所述散射光是来自所述投光元件的光因所述检测区域的粒子而散射的光；第一反射体，反射所述散射光，并引导到所述受光元件；以及光衰减部，用于使从所述第一反射体排出的光衰减，在所述第一反射体设置有第一孔以及第二孔，所述第一孔是将所述投光元件的光导入到该第一反射体的内部的孔，所述第二孔是从该第一反射体排出的光穿过的孔，在所述光衰减部设置有第三孔，所述第三孔是从所述第一反射体的所述第二孔排出的光穿过的孔，所述第三孔的开口面积比所述第二孔的开口面积小。

【技术特征摘要】
2015.12.21 JP 2015-2487991.一种粒子检测传感器，其特征在于，具备：投光元件，向检测区域射出光；受光元件，接受散射光，所述散射光是来自所述投光元件的光因所述检测区域的粒子而散射的光；第一反射体，反射所述散射光，并引导到所述受光元件；以及光衰减部，用于使从所述第一反射体排出的光衰减，在所述第一反射体设置有第一孔以及第二孔，所述第一孔是将所述投光元件的光导入到该第一反射体的内部的孔，所述第二孔是从该第一反射体排出的光穿过的孔，在所述光衰减部设置有第三孔，所述第三孔是从所述第一反射体的所述第二孔排出的光穿过的孔，所述第三孔的开口面积比所述第二孔的开口面积小。2.如权利要求1所述的粒子检测传感器，其特征在于，在连接所述第二孔和所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：林真太郎，北冈信一，松浪弘贵，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：新型
国别省市：日本,JP