一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置，该方法，包括：预先设置内存参数的调整规则；S1：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息；S2：调试端根据待调试信息，向调试模块发送内存参数调试指令；S3：调试模块在接收到内存参数调试指令后，获取待调试设备的当前内存参数，发送给调试端；S4：调试端判断当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据当前内存参数和内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将调整后的内存参数发送给调试模块；S5：调试模块接收调整后的内存参数，将调整后的内存参数作为当前内存参数，重新启动待调试设备，返回步骤S1。本发明专利技术能够更加简单地调整内存参数。

Method and device for adjusting memory parameters of domestic processor

The present invention provides a method and device, a memory parameter adjustment of domestic processors of the method, including adjusting the rules set in advance the memory parameter; S1: to be deployed in the debugging module in equipment to send debugging information to the debugging terminal; S2: debugging end according to debugging information, to send a memory debugging module parameter debugging instructions; S3: debugging module in the memory receive parameter debugging instructions, the memory parameter acquisition to be sent to the equipment debugging, debugging terminal; S4: the current memory parameters in debugging terminal determines whether there is abnormal, if it is adjusted according to the adjustment rules of the current memory parameters and memory parameters, memory parameter generation after the adjustment, the memory parameters adjusted to send debug module; S5: debug memory module receives the adjusted parameters, the memory parameters adjusted As the current memory parameter, restart the device to be debugged, and return to step S1. The invention can adjust the memory parameter more simply.

【技术实现步骤摘要】
一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置
本专利技术涉及计算机
，特别涉及一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置。
技术介绍
随着国产处理器的技术进步与行业发展加速，目前涉及国产处理器的设计研发厂商越来越多。由于国产处理器的架构与X86架构的处理器存在较大差异，国产处理器平台在内存子系统方面无法像X86平台一样做到即插即用，在硬件调试完成后，需要进行内存参数的调整工作，并将调整后的内存参数写入固件中，才能使内存子系统正常工作。现有技术中，在进行内存参数的调整适配时，需要通过人工来实现，实现过程比较复杂。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法及装置，能够更加简单地调整内存参数。一方面，本专利技术实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的方法，包括：预先设置内存参数的调整规则；S1：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；S2：所述调试端根据所述待调试信息，向所述调试模块发送内存参数调试指令；S3：所述调试模块在接收到所述内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；S4：所述调试端判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块；S5：所述调试模块接收所述调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。进一步地，当所述内存参数为内存阻抗时，所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令；所述当前内存参数为当前内存阻抗；所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则；所述S3，包括：所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，根据所述内存阻抗调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗，将所述当前内存阻抗发送给所述调试端；所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，进一步包括：对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第一测试结果，将所述当前第一测试结果发送给所述调试端；所述S4，包括：所述调试端根据所述当前第一测试结果，判断所述当前内存阻抗是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块；所述S5，包括：所述调试模块接收所述调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。进一步地，当所述内存参数为内存电压时，所述内存参数调试指令为内存电压调试指令；所述当前内存参数为当前内存电压；所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则；所述S3，包括：所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，根据所述内存电压调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存电压，将所述当前内存电压发送给所述调试端；所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，进一步包括：对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第二测试结果，将所述当前第二测试结果发送给所述调试端；所述S4，包括：所述调试端根据所述当前第二测试结果，判断所述当前内存电压是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存电压和所述内存电压的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压发送给所述调试模块；所述S5，包括：所述调试模块接收所述调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压作为所述当前内存电压，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。进一步地，当所述调试端判断出所述当前内存参数中不存在异常时，执行：A1：所述调试端向所述调试模块发送正常启动指令，以使所述待调试设备根据所述当前内存参数进入操作系统；A2：当所述待调试设备成功进入所述操作系统时，所述调试模块向所述调试端发送系统启动成功的信息；A3：所述调试端在接收到所述系统启动成功的信息时，判断系统启动成功的次数是否为预设值，如果是，则根据所述当前内存参数生成所述待调试设备的固件，否则，执行A1。进一步地，当所述内存参数为内存时序时，所述内存参数调试指令为内存时序调试指令；所述当前内存参数为当前内存时序；所述内存参数的调整规则为内存时序的调整规则。进一步地，所述调试模块部署在所述待调试设备的BIOS(BasicInputOutputSystem，基本输入输出系统)中。进一步地，所述S5中，所述将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，包括：将所述调整后的内存参数写入所述待调试设备的FLASH中，使得所述待调试设备利用所述FLASH中的所述调整后的内存参数启动。另一方面，本专利技术实施例提供了一种调整国产处理器的内存参数的装置，包括：调试模块和调试端；所述调试模块部署在待调试设备中，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；所述调试模块，用于向所述调试端发送待调试信息；在接收到所述调试端发来的内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；在接收到所述调试端发来的调整后的内存参数后，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端发送待调试信息；所述调试端，用于保存内存参数的调整规则，在接收到所述调试模块发来的所述待调试信息后，向所述调试模块发送所述内存参数调试指令；在接收到所述调试模块发来的所述当前内存参数后，判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块。进一步地，当所述内存参数为内存阻抗时，所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令；所述当前内存参数为当前内存阻抗；所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则；所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述内存阻抗调试指令后，根据所述内存阻抗调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗，将所述当前内存阻抗发送给所述调试端；所述调试模块，进一步用于在接收到所述调试端发来的所述内存阻抗调试指令后，对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第一测试结果，将所述当前第一测试结果发送给所述调试端；所述调试端，用于当接收到所述调试模块发来的所述当前内存阻抗和所述当前第一测试结果后，根据所述当前第一测试结果，判断所述当前内存阻抗是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块；所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述调整后的内存阻抗后，将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗，重新启动所述待调试设备，返回所述向所述调试端发送待调试信息。进一步地，当所述内存参数为内存电压时，所述内存参数调试指令为内存电压调试指令；所述当前内存参数为当前内存电压；所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则；所述调试模块，用于在接收到所述调试端发来的所述内存电压调试指令后，根据所述内存电压调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存电压，将所述当前内存电压发送给所述调试端；所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种调整国产处理器的内存参数的方法，其特征在于，包括：预先设置内存参数的调整规则；S1：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；S2：所述调试端根据所述待调试信息，向所述调试模块发送内存参数调试指令；S3：所述调试模块在接收到所述内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；S4：所述调试端判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块；S5：所述调试模块接收所述调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。

【技术特征摘要】
1.一种调整国产处理器的内存参数的方法，其特征在于，包括：预先设置内存参数的调整规则；S1：部署在待调试设备中的调试模块向调试端发送待调试信息，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；S2：所述调试端根据所述待调试信息，向所述调试模块发送内存参数调试指令；S3：所述调试模块在接收到所述内存参数调试指令后，根据所述内存参数调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存参数，将所述当前内存参数发送给所述调试端；S4：所述调试端判断所述当前内存参数中是否存在异常，如果是，根据所述当前内存参数和所述内存参数的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数发送给所述调试模块；S5：所述调试模块接收所述调整后的内存参数，将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述内存参数为内存阻抗时，所述内存参数调试指令为内存阻抗调试指令；所述当前内存参数为当前内存阻抗；所述内存参数的调整规则为内存阻抗的调整规则；所述S3，包括：所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，根据所述内存阻抗调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存阻抗，将所述当前内存阻抗发送给所述调试端；所述调试模块在接收到所述内存阻抗调试指令后，进一步包括：对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第一测试结果，将所述当前第一测试结果发送给所述调试端；所述S4，包括：所述调试端根据所述当前第一测试结果，判断所述当前内存阻抗是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存阻抗和所述内存阻抗的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗发送给所述调试模块；所述S5，包括：所述调试模块接收所述调整后的内存阻抗，将所述调整后的内存阻抗作为所述当前内存阻抗，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述内存参数为内存电压时，所述内存参数调试指令为内存电压调试指令；所述当前内存参数为当前内存电压；所述内存参数的调整规则为内存电压的调整规则；所述S3，包括：所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，根据所述内存电压调试指令，获取所述待调试设备的所述当前内存电压，将所述当前内存电压发送给所述调试端；所述调试模块在接收到所述内存电压调试指令后，进一步包括：对所述待调试设备的内存进行读写测试，确定读写测试的当前第二测试结果，将所述当前第二测试结果发送给所述调试端；所述S4，包括：所述调试端根据所述当前第二测试结果，判断所述当前内存电压是否存在异常，如果是，则根据所述当前内存电压和所述内存电压的调整规则进行调整处理，生成调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压发送给所述调试模块；所述S5，包括：所述调试模块接收所述调整后的内存电压，将所述调整后的内存电压作为所述当前内存电压，重新启动所述待调试设备，返回步骤S1。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述调试端判断出所述当前内存参数中不存在异常时，执行：A1：所述调试端向所述调试模块发送正常启动指令，以使所述待调试设备根据所述当前内存参数进入操作系统；A2：当所述待调试设备成功进入所述操作系统时，所述调试模块向所述调试端发送系统启动成功的信息；A3：所述调试端在接收到所述系统启动成功的信息时，判断系统启动成功的次数是否为预设值，如果是，则根据所述当前内存参数生成所述待调试设备的固件，否则，执行A1。5.根据权利要求1-4中任一所述的方法，其特征在于，当所述内存参数为内存时序时，所述内存参数调试指令为内存时序调试指令；所述当前内存参数为当前内存时序；所述内存参数的调整规则为内存时序的调整规则；和/或，所述调试模块部署在所述待调试设备的基本输入输出系统BIOS中；和/或，所述S5中，所述将所述调整后的内存参数作为所述当前内存参数，包括：将所述调整后的内存参数写入所述待调试设备的FLASH中，使得所述待调试设备利用所述FLASH中的所述调整后的内存参数启动。6.一种调整国产处理器的内存参数的装置，其特征在于，包括：调试模块和调试端；所述调试模块部署在待调试设备中，其中，所述待调试设备按照当前内存参数运行；所述调试...

【专利技术属性】
技术研发人员：张雁鹏，于晓艳，
申请(专利权)人：济南浪潮高新科技投资发展有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37