The invention discloses a test area in shielding acquisition method, device and detection system, wherein the method comprises: obtaining a first image of an object to be measured X-ray taken by electromagnetic radiation; on the two value of the image processing; the left and right edge edge points to obtain the first image after binarization processing according to the coordinates of the left edge point coordinates and the right edge of the first line fitting; the first line according to the preset direction translation first preset distance to form a second line and second line corresponding to the pixel of the first line according to the preset preset distance to form the city shifted pixels according to the new; the new generation of the first pixel masking threshold curve, and obtain the first object to be measured in the shield area under the curve. This method can accurately acquire the shielding area of the detected object, and reduce the detection dead angle to the maximum extent.
【技术实现步骤摘要】
待测物中屏蔽区域的获取方法、装置以及检测系统
本专利技术涉及计算机
,尤其涉及一种待测物中屏蔽区域的获取方法、装置以及检测系统。
技术介绍
由于罐装物料的边缘处通常较厚(尤其是顶部区域),透过X光对该罐装物料进行异物检测时,往往会将该边缘较厚处误判为异物。例如,如图1(a)所示,为罐装物料的原图,通过X光对该罐装物料进行异物检测时,得到异物识别结果图,如图1(b)所示,可以看出,由于罐装物料的瓶口处较厚,导致将该区域误判为异物。相关技术中,通常通过屏蔽方法将影响异物检测结果的区域进行屏蔽,以避免发生上述罐装物料的边缘处被误判的情况,例如,如图2所示,为某公司在对待测瓶子进行异物检测时对待测瓶子进行屏蔽处理的示例图,如图2所示,黑线以上区域作为屏蔽区域,不做异物识别处理,以防止该屏蔽区域影响异物识别结果。但是,如果如图2所示标示为斜线的三角区域存在异物则不能识别,则会存在检测死角,导致异物识别结果不准确。因此,如何能够精确地获取待测物中屏蔽区域、又能最大程度的减少检测死角已经成为亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技 ...
【技术保护点】
一种待测物中屏蔽区域的获取方法,其特征在于,包括以下步骤:获取通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的第一图像,其中,所述待测物包括罐装物或桶装物;对所述第一图像进行二值化处理;获取经过二值化处理的所述第一图像的左边缘点和右边缘点,并根据所述左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线;将所述第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线,并将所述第二直线上对应于所述第一直线上像素点按照所述预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点;根据所述新的像素点生成第一屏蔽阈值曲线,并根据所述第一图像以及所述第一屏蔽阈值曲线获取所述待测物中的第一屏蔽区域。
【技术特征摘要】
1.一种待测物中屏蔽区域的获取方法,其特征在于,包括以下步骤:获取通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的第一图像,其中,所述待测物包括罐装物或桶装物;对所述第一图像进行二值化处理;获取经过二值化处理的所述第一图像的左边缘点和右边缘点,并根据所述左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线;将所述第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线,并将所述第二直线上对应于所述第一直线上像素点按照所述预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点;根据所述新的像素点生成第一屏蔽阈值曲线,并根据所述第一图像以及所述第一屏蔽阈值曲线获取所述待测物中的第一屏蔽区域。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取经过二值化处理的所述第一图像的左边缘点,包括:从上至下、从左至右扫描所述经过二值化处理后的第一图像,获取所述经过二值化处理后的第一图像中的左边缘,并记录所述左边缘中所包含的所有像素点的坐标;遍历所述左边缘中所包含的所有像素点的坐标,以判断是否存在连续的多个像素点的坐标满足预设条件;如果存在连续的多个像素点的坐标满足所述预设条件,则将所述多个像素点中纵坐标值最大的像素点作为所述左边缘点。3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取经过二值化处理的所述第一图像的右边缘点,包括:从上至下、从右至左扫描所述经过二值化处理后的第一图像,获取所述经过二值化处理后的第一图像中的右边缘,并记录所述右边缘中所包含的所有像素点的坐标;遍历所述右边缘中所包含的所有像素点的坐标,以判断是否存在连续的多个像素点的坐标满足预设条件;如果存在连续的多个像素点的坐标满足所述预设条件,则将所述多个像素点中纵坐标值最大的像素点作为所述右边缘点。4.如权利要求2或3所述的方法,其特征在于,其中,所述多个为5个。5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述预设条件为:|P1.x+P2.x+P3.x+P4.x-5*P.x|<θ其中,P1.x为像素点P1的X坐标值,P2.x为像素点P2的X坐标值,P3.x为像素点P3的X坐标值,P4.x为像素点P4的X坐标值,P.x为像素点P的X坐标值,θ的取值范围为3~7。6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设城市距离通过以下步骤获得:从所述左边缘点至所述右边缘点、从上至下扫描所述经过二值化处理后的第一图像,获取所述经过二值化处理后的所述第一图像中的上边缘,并记录所述上边缘中所包含的各个像素点的坐标;根据所述上边缘中所包含的各个像素点的坐标、以及所述第一直线上各个像素点的坐标计算所述第一直线上各个像素点到所述上边缘的城市距离,并将所述城市距离作为所述预设城市距离。7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中,所述预设方向为沿着所述第一直线上所述左边缘点垂线的方向向下,或者,沿着所述第一直线上所述左边缘点的Y轴的负方向向下。8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一图像以及所述第一屏蔽阈值曲线获取所述待测物中的第一屏蔽区域,包括:对于所述第一图像中的每列像素点,将纵坐标值大于所述第一屏蔽阈值曲线在所述每列的纵坐标值的像素点所在区域作为所述第一屏蔽区域。9.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:从左至右、从下至上扫描所述第一图像,获取所述第一图像中所述待测物的底部边缘点,并将所述底部边缘点进行线连接以形成底部边缘曲线;将所述底部边缘曲线沿着所述第一图像中所述待测物的内侧平移第二预设距离以形成第二屏蔽阈值曲线,并将所述第一图像中所述第二屏蔽阈值曲线的下方区域作为第二屏蔽区域。10.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:从下至上、从左至右扫描所述第一图像,获取所述第一图像中所述待测物的左边缘点,并将所述左边缘点进行线连接以形成左边缘曲线;将所述左边缘曲线沿着所述第一图像中所述待测物的内侧平移第三预设距离以形成第三屏蔽阈值曲线,并将所述第一图像中所述第三屏蔽阈值曲线的左方区域作为第三屏蔽区域。11.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:从下至上、从右至左扫描所述第一图像,获取所述第一图像中所述待测物的右边缘点,并将所述右边缘点进行线连接以形成右边缘曲线;将所述右边缘曲线沿着所述第一图像中所述待测物的内侧平移第四预设距离以形成第四屏蔽阈值曲线,并将所述第一图像中所述第四屏蔽阈值曲线的右方区域作为第四屏蔽区域。12.一种待测物中屏蔽区域的获取装置,其特征在于,包括:第一获取模块,用于获取通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的第一图像,其中,所述待测物包括罐装物或桶装物;二值化处理模块,用于对所述第一图像进行二值化处理;第二获取模块,用于获取经过二值化处理的所述第一图像的左边缘点和右边缘点,并根据所述左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线;平移模...
【专利技术属性】
技术研发人员:疏义桂,刘松,张凯,杨逃,汪庆花,李建峰,朱维宁,
申请(专利权)人:合肥美亚光电技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:安徽,34
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