用于扫描器头的间隙和位移磁性传感器系统技术方案
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于造纸机或其它系统中的扫描器头的间隙和位移磁性传感器系统对相关申请的交叉引用和优先权本申请要求在35U.S.C.§119（e）之下享有对2014年11月3日提交的题为“GAPANDDISPLACEMENTMAGNETICSENSORSYSTEMFORSCANNERHEADSINPAPERMACHINESOROTHERSYSTEMS”的美国临时专利申请序列号62/074,186的主题的优先权。以上标识的专利文献的内容通过引用并入本文。
本公开一般地涉及扫描系统。更具体地，本公开涉及用于造纸机或其它系统中的扫描器头的间隙和位移磁性传感器系统。
技术介绍
材料的片材或其它带状物（web）在各种工业中并且以各种方式来使用。这些材料可以包括纸张、多层纸板和以长带状物制造或处理的其它产品。作为特定示例，长纸片可以以辊进行制造和收集。通常必要或合期望的是在制造或处理带状物时测量材料带状物的一个或多个性质。然后可以对制造或处理系统做出调节以确保性质保持在期望的范围内。测量通常使用扫描器来进行，所述扫描器跨带状物的宽度而来回移动包含传感器的扫描器头。扁平带状物扫描器典型地利用两个...
【技术保护点】
一种方法，包括：生成磁场（550、552）；通过多个磁场取向传感器（514x‑514z）通过以下来捕获（910）磁场的测量：通过第一磁场取向传感器（514x）测量参照参考场角度的第一方向上的磁场的场角度，其中第一磁场取向传感器被布置成与其中第一磁场取向传感器感测参考场角度的磁场的中心线（552）大体对准，通过第二磁场取向传感器（514z）测量由第一方向（X方向）和第二方向（Z方向）定义的平面（716）中的磁场的场角度，其中第二磁场取向传感器被布置成从磁场的中心线偏移，使得来自至少一个磁场取向传感器的输出测量间隙间隔和第一方向上的位移的组合，其中第一方向和第二方向与彼此正交；...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.03 US 62/074186;2014.12.22 US 14/5799781.一种方法，包括：生成磁场（550、552）；通过多个磁场取向传感器（514x-514z）通过以下来捕获（910）磁场的测量：通过第一磁场取向传感器（514x）测量参照参考场角度的第一方向上的磁场的场角度，其中第一磁场取向传感器被布置成与其中第一磁场取向传感器感测参考场角度的磁场的中心线（552）大体对准，通过第二磁场取向传感器（514z）测量由第一方向（X方向）和第二方向（Z方向）定义的平面（716）中的磁场的场角度，其中第二磁场取向传感器被布置成从磁场的中心线偏移，使得来自至少一个磁场取向传感器的输出测量间隙间隔和第一方向上的位移的组合，其中第一方向和第二方向与彼此正交；使用磁场的测量标识（915）（i）第一扫描传感器头（414a）和第二扫描传感器头（414b）在第一方向上的位移以及（ii）第一扫描传感器头和第二扫描传感器头在第二方向上的间隙间隔。2.根据权利要求1所述的方法，其中：第一磁场取向传感器和第二磁场取向传感器被布置在相同平面（716）中或由第一方向和第二方向定义的平行平面中。3.根据权利要求1所述的方法，还包括：跨材料的带状物（102）的表面移动第一扫描传感器头和第二扫描传感器头并且捕获（910）与带状物相关联的测量。4.根据权利要求3所述的方法，还包括：基于以下中的至少一个而调节（955）与带状物相关联的测量：第一扫描传感器头和第二扫描传感器头在第一方向上的位移第一扫描传感器头和第二扫描传感器头在第二方向上的间隙间隔。5.一种系统，包括：第一扫描传感器头（414a），其包括被配置成生成磁场（550、552）的磁体（512）；第二扫描传感器头（414b），其包括多个磁场取向传感器，所述多个磁场取向传感器被配置成捕获磁场的测量以便标识（i）第一扫描传感器头和第二扫描传感器头在第一方向（X方向）上的位移以及（ii）第一扫描传感器头和第二扫描传感器头在第二方向（Z方向）上的间隙间隔，所述多个磁场取向传感器包括：第一磁场取向传感器，其被配置成测量参照参考场角度的第一方向上的磁场的场角度，其中第一磁场取向传感器被布置成与其中第一磁场取向传感器感测参考场角度的磁场的中心线（552）大体对准，第二磁场取向传感器，其被配置成测量由第一方向和第二方向定义的平面（716）中的磁场的场角度，其中第二磁场取向...
【专利技术属性】
技术研发人员：RE贝塞尔特，
申请(专利权)人：霍尼韦尔有限公司，
类型：发明
国别省市：加拿大,CA
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。