光调制器制造技术

本发明专利技术提供一种在按设置于1个基板的多个光调制部中的每个光调制部将不同的调制信号施加于调制电极来进行光调制的情况下抑制了基板尺寸增大的光调制器。本发明专利技术所涉及的光调制器至少具有第1光调制部和第2光调制部，所述第1光调制部和所述第2光调制部为对该调制电极施加调制信号来进行光调制的光调制部，所述第1光调制部和所述第2光调制部彼此使用不同的调制信号。并且，受光元件配置于基板，在该受光元件中设有从传播来自所述第1光调制部的信号光的第1波导部检测信号光的第1受光部。另外，在该受光元件中还设有从传播来自所述第2光调制部的信号光的第2波导部检测信号光的第2受光部。

【技术实现步骤摘要】
光调制器
本专利技术涉及一种光调制器，尤其涉及一种具备具有电光效应的基板、形成于该基板的光波导及用于对在该光波导中传播的光波进行调制的调制电极的光调制器。
技术介绍
在光通信领域或光测量领域中，使用具有马赫-曾德尔(MachZehnder)型光波导的强度调制器或相位调制器等各种光调制器。从马赫-曾德尔型光波导输出的光的强度变化相对于施加于调制电极的电压例如表现出正弦函数的特性。根据光调制器的用途，为了得到最佳的输出光的强度，需要将施加于调制电极的调制信号设定于适当的工作偏置点。因此，以往，将从光调制器输出的信号光的一部分或从马赫-曾德尔型光波导的合波部放射的放射光作为监视光，利用如光检测器那样的受光元件进行检测，并监视光调制器的输出光的强度的状态。并且，根据受光元件的检测值(监视输出)来对施加于调制电极的调制信号的工作偏置点进行调整(偏置控制)。关于这种光调制器，到目前为止提出有各种专利技术。例如，专利文献1中公开有如下光调制器，该光调制器即使在同时接收监视来自马赫-曾德尔型光波导的合波部的2束放射光的情况下，也抑制受光元件的频带下降。并且，专利文献2中公开有如下光调制器，该光调制器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光调制器，其具有：基板，具有电光效应；光波导，形成于该基板；以及调制电极，用于对在该光波导中传播的光波进行调制，所述光调制器的特征在于，至少具有第1光调制部和第2光调制部，所述第1光调制部和所述第2光调制部为对该调制电极施加调制信号来进行光调制的光调制部，所述第1光调制部和所述第2光调制部彼此使用不同的调制信号，受光元件配置于该基板，在该受光元件中设有：第1受光部，从传播来自所述第1光调制部的信号光的第1波导部检测信号光；以及第2受光部，从传播来自所述第2光调制部的信号光的第2波导部检测信号光。

【技术特征摘要】
2016.03.25 JP 2016-0611991.一种光调制器，其具有：基板，具有电光效应；光波导，形成于该基板；以及调制电极，用于对在该光波导中传播的光波进行调制，所述光调制器的特征在于，至少具有第1光调制部和第2光调制部，所述第1光调制部和所述第2光调制部为对该调制电极施加调制信号来进行光调制的光调制部，所述第1光调制部和所述第2光调制部彼此使用不同的调制信号，受光元件配置于该基板，在该受光元件中设有：第1受光部，从传播来自所述第1光调制部的信号光的第1波导部检测信号光；以及第2受光部，从传播来自所述第2光调制部的信号光的第2波导部检测信号光。2.根据权利要求1所述的光调制器，其特征在于，所述第1波导部和所述第2波导部形成为在到达所述第1受光部和所述第2受光部的区域之前波导间的间隔变窄。3.根据权利要求1或2所述的光调制器，其特征在于，所述第1波导部和所述第2波导部在所述第1受光部和所述第2受光部...

【专利技术属性】
技术研发人员：加藤圭，宫崎德一，清水亮，
申请(专利权)人：住友大阪水泥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本,JP