一种双控存储系统的可靠性测试方法及系统技术方案

技术编号:16326986 阅读:100 留言:0更新日期:2017-09-29 18:57
本发明专利技术公开了一种双控存储系统的可靠性测试方法及系统,所述方法包括的步骤为:设定执行测试的次数;在存储系统状态正常的情况下,检测单个存储控制器工作时的状态;生成测试记录文件。系统包括计数单元,用于设定测试次数并判断测试次数变量是否达到设定的测试次数;状态检测单元,用于检测存储控制器的状态;重启单元,用于重启存储控制器;存储单元,用于记录并保存测试信息。与现有技术相比,本发明专利技术实现自动测试,测试效率高,对测试结果的查看方便快捷,节省成本。

【技术实现步骤摘要】
一种双控存储系统的可靠性测试方法及系统
本专利技术涉及计算机存储
,具体地说是一种双控存储系统的可靠性测试方法及系统。
技术介绍
随着IT(Informationtechnology,信息技术)行业的高速发展,信息化、大数据及云计算的发展对存储系统的稳定性及可靠性要求越来越高。双控存储系统是保障数据可靠性的有效方式,当一个存储控制器出现故障时,另外一个控制器仍然可以提供服务。是当前中小企业数据存储的首选方案。基于此,需要对双控存储系统在一个控制器工作时进行可靠性测试。传统的测试方法有插拔控制器、断开链路等方式。但均是手动操作,不能一直保持某种测试强度,且效率低下。手动操作的测试仅仅会在测试过程中了解到双控存储系统是否可靠,后续想再次获知时需重复测试,十分不便。
技术实现思路
为克服上述现有技术存在的不足,本专利技术的目的在于提供一种自动测试、测试结果可查且可靠的双控存储系统的可靠性测试方法及系统。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种双控存储系统的可靠性测试方法,包括以下步骤:设定执行测试的次数;在存储系统状态正常的情况下,检测单个存储控制器工作时的状态;生成测试记录文件本文档来自技高网...
一种双控存储系统的可靠性测试方法及系统

【技术保护点】
一种双控存储系统的可靠性测试方法,其特征是:包括以下步骤:设定执行测试的次数;在存储系统状态正常的情况下,检测单个存储控制器工作时的状态;生成测试记录文件。

【技术特征摘要】
1.一种双控存储系统的可靠性测试方法,其特征是:包括以下步骤:设定执行测试的次数;在存储系统状态正常的情况下,检测单个存储控制器工作时的状态;生成测试记录文件。2.根据权利要求1所述的一种双控存储系统的可靠性测试方法,其特征是:所述存储系统包括两个存储控制器,所述存储系统状态正常的情况为两个存储控制器的当前状态均为active。3.根据权利要求2所述的一种双控存储系统的可靠性测试方法,其特征是:所述在存储系统状态正常的情况下,检测单个存储控制器工作时的状态的具体步骤为:检测存储系统的状态是否正常;如果存储系统的状态不正常,则退出测试;如果存储系统的状态正常,则重启两个存储控制器中的其中一个存储控制器,并检测另一个存储控制器的工作状态,判断存储系统的可靠性。4.根据权利要求3所述的一种双控存储系统的可靠性测试方法,其特征是:所述重启两个存储控制器中的其中一个存储控制器,并检测另一个存储控制器的工作状态,判断存储系统的可靠性的具体步骤为:S231,调用存储控制器重启命令,重启任一存储控制器,重启次数变量加1;S232,在等待重启的存储控制器恢复...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵伟
申请(专利权)人:郑州云海信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:河南,41

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