显示设备和短路测试方法技术

技术编号:16325822 阅读:49 留言:0更新日期:2017-09-29 18:16
本发明专利技术涉及一种显示设备和短路测试方法。该显示设备包括:基板;在基板上的一条线,该一条线从周围区域延伸穿过显示区域;在显示区域上的像素,像素被连接到该一条线;在周围区域上的外部线,在检测短路缺陷的位置的短路测试过程期间,外部线被连接到该一条线;在周围区域上的静电保护电阻器,静电保护电阻器被连接到外部线;在周围区域上的焊盘,焊盘通过静电保护电阻器被连接到外部线,在短路测试过程期间,短路测试信号被施加到焊盘;以及旁路线,将焊盘和静电保护电阻器之间的节点连接到外部线。

【技术实现步骤摘要】
显示设备和短路测试方法
示例实施例大体涉及显示设备。更具体地,本专利技术构思的实施例涉及短路缺陷的位置被检测的显示设备和检测短路缺陷的位置的短路测试方法。
技术介绍
当在诸如有机发光二极管(OLED)显示设备、液晶显示(LCD)设备等显示设备中产生导线被不期望地连接的短路缺陷,因此产生电流通过其绕过一电路的意想不到的低阻路径时,可使用显微镜检测短路缺陷的位置,并且可在检测到的缺陷位置处修复导线。然而,当在不同层的导线被垂直连接时,不能通过显微镜检测到该短路缺陷的位置。该短路缺陷可被称为隐藏的短路缺陷,并且需要一种能检测隐藏的短路缺陷的位置的技术。
技术实现思路
一些示例实施例提供了一种容易检测短路缺陷的显示设备。一些示例实施例提供了一种容易检测短路缺陷的短路测试方法。根据示例实施例,提供了一种显示设备,包括:基板,包括显示图像的显示区域和与显示区域相邻的周围区域;在基板上的至少一条线,该至少一条线从周围区域延伸穿过显示区域;在显示区域上的多个像素,像素被连接到该至少一条线;在周围区域上的外部线,在检测短路缺陷的位置的短路测试过程期间,外部线被连接到该至少一条线;在周围区域上的静电保护电阻本文档来自技高网...
显示设备和短路测试方法

【技术保护点】
一种显示设备,包括:基板,包括显示图像的显示区域和与所述显示区域相邻的周围区域;在所述基板上的至少一条线,所述至少一条线从所述周围区域延伸穿过所述显示区域;在所述显示区域上的多个像素,所述像素被连接到所述至少一条线;在所述周围区域上的外部线,在检测短路缺陷的位置的短路测试过程期间,所述外部线被连接到所述至少一条线;在所述周围区域上的静电保护电阻器,所述静电保护电阻器被连接到所述外部线;在所述周围区域上的焊盘,所述焊盘通过所述静电保护电阻器被连接到所述外部线,在所述短路测试过程期间,短路测试信号被施加到所述焊盘;以及旁路线,在所述短路测试过程期间,所述旁路线将所述焊盘和所述静电保护电阻器之间的节...

【技术特征摘要】
2016.03.21 KR 10-2016-00334751.一种显示设备,包括:基板,包括显示图像的显示区域和与所述显示区域相邻的周围区域;在所述基板上的至少一条线,所述至少一条线从所述周围区域延伸穿过所述显示区域;在所述显示区域上的多个像素,所述像素被连接到所述至少一条线;在所述周围区域上的外部线,在检测短路缺陷的位置的短路测试过程期间,所述外部线被连接到所述至少一条线;在所述周围区域上的静电保护电阻器,所述静电保护电阻器被连接到所述外部线;在所述周围区域上的焊盘,所述焊盘通过所述静电保护电阻器被连接到所述外部线,在所述短路测试过程期间,短路测试信号被施加到所述焊盘;以及旁路线,在所述短路测试过程期间,所述旁路线将所述焊盘和所述静电保护电阻器之间的节点连接到所述外部线,使得所述短路测试信号绕过所述静电保护电阻器。2.根据权利要求1所述的显示设备,其中,在所述短路测试过程期间,所述短路测试信号通过所述旁路线和所述外部线被施加到所述至少一条线,并且其中,由所述短路测试信号在所述至少一条线处产生的热能通过热检测器被测量,以检测所述短路缺陷的位置。3.根据权利要求2所述的显示设备,其中,所述至少一条线在所述短路缺陷的位置处被断开,并且用于连接断开的线的连接线使用激光化学气相沉积工艺被形成。4.一种...

【专利技术属性】
技术研发人员:朴庆泰
申请(专利权)人:三星显示有限公司
类型:发明
国别省市:韩国,KR

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1