Some aspects of Fu Liye overlap associated faults photography system and method for plane wave illumination from different angles of the light passes through the thick samples acquired based on the multiple unique lighting intensity measurements, and used to determine the three-dimensional tomography data measurement and unique lighting Fu Liye domain through the self consistent iteratively, 3D tomography data to construct thick sample.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】傅立叶重叠关联断层摄影相关申请的交叉引用本申请要求享有于2015年1月21日提交且题为“Ptychographicreconstructionofvolumetricsamples”的第62/106,133号的美国临时专利申请的优先权和权益,以其整体并且针对全部目的通过引用的方式并入本文。领域本文描述的某些实施例通常涉及数字成像。更具体地,某些实施例涉及用于对厚样品进行高分辨率成像的傅立叶重叠关联断层摄影(Fourierptychographictomography)系统和方法。背景傅立叶重叠关联(FP)是最近引入的一种技术,其从在不同照明条件下捕捉的一系列低分辨率强度图像中获取高分辨率样品的幅度和相位测量。常规的FP技术的细节可以在2013年G.Zheng、R.Horstmeyer和C.Yang在NaturePhotonics发表的“Wide-field,high-resolutionFourierptychographicmicroscopy”中和在2013年10月28日提交且题为“FourierPtychographicImagingSystems,Devic ...
【技术保护点】
一种傅立叶重叠关联断层摄影系统,包括:可变照明源,所述可变照明源被配置成在不同的照明角度处依次向正在被成像的厚样品提供平面波照明;光学系统,所述光学系统被配置成收集来自所述可变照明源的穿过所述厚样品的光,并聚焦所收集的光;图像传感器,所述图像传感器被配置成接收来自所述光学系统的聚焦光,并且获取与所述不同的照明角度相关联的一系列唯一地照明的强度测量;以及处理器,所述处理器用于通过迭代地确定与所述唯一地照明的强度测量自相一致的在傅立叶域中的三维断层摄影数据,来构建所述厚样品的三维断层摄影数据。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.01.21 US 62/106,1331.一种傅立叶重叠关联断层摄影系统,包括:可变照明源,所述可变照明源被配置成在不同的照明角度处依次向正在被成像的厚样品提供平面波照明;光学系统,所述光学系统被配置成收集来自所述可变照明源的穿过所述厚样品的光,并聚焦所收集的光;图像传感器,所述图像传感器被配置成接收来自所述光学系统的聚焦光,并且获取与所述不同的照明角度相关联的一系列唯一地照明的强度测量;以及处理器,所述处理器用于通过迭代地确定与所述唯一地照明的强度测量自相一致的在傅立叶域中的三维断层摄影数据,来构建所述厚样品的三维断层摄影数据。2.根据权利要求1所述的傅立叶重叠关联断层摄影系统,其中,所述处理器通过采用所述唯一地照明的强度测量来更新与所述傅立叶域中的三维样品频谱中的重叠的表面区域相交的立体像素,来构建所述三维断层摄影数据。3.根据权利要求2所述的傅立叶重叠关联断层摄影系统,其中,所述重叠的表面区域重叠了至少70%。4.根据权利要求2所述的傅立叶重叠关联断层摄影系统,其中,所述重叠的表面区域重叠了至少80%。5.根据权利要求1所述的傅立叶重叠关联断层摄影系统,其中,所述可变照明源是LED矩阵。6.根据权利要求5所述的傅立叶重叠关联断层摄影系统,其中,所述LED矩阵是二维矩阵。7.根据权利要求5所述的傅立叶重叠关联断层摄影系统,其中,所述LED矩阵包括多个同心环,每个同心环具有多个LED。8.根据权利要求1所述的傅立叶重叠关联断层摄影系统,其中,所述光学系统是物镜。9.根据权利要求1所述的傅立叶重叠关联断层摄影系统,还包括用于使用所述三维断层摄影数据显示所述样品的图像的显示器。10.一...
【专利技术属性】
技术研发人员:罗克·W·霍斯特迈耶,杨昌辉,
申请(专利权)人:加州理工学院,
类型:发明
国别省市:美国,US
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