低温系统和方法技术方案
Cryogenic systems and methods
The present invention provides an analysis system of low temperature sample, the low temperature sample analysis system includes: the system can directly contact with the physical system of shell surrounding environment; in the sample system shell; and the resonant frequency between the sample table and shell in the operation of the isolated joint components. Also provides a low temperature sample analysis system, including: system casing in contact with the direct physical support and surrounding environment of system; the sample stage cold head connected in the system and in the operation and system; and the isolation component, wherein the isolation component in the operation of a bond between the environment and / or by the cold head produced by resonant frequency, the isolation assembly includes a mass suspension.
【技术实现步骤摘要】
低温系统和方法相关申请的交叉引用本申请主张2016年3月11提出申请的美国临时专利申请第62/307,303号的优先权益，其中该申请的整个内容通过引用在此并入供参考。
本公开涉及低温系统和方法。本公开的具体实施例涉及阶段抽样的低温系统和方法中的样品台结构。本专利技术涉及到用于低温研究的系统和方法。更具体地，本专利技术涉及用于低温冷却样品的显微镜学和能谱学的系统和方法。
技术介绍
与低温显微镜学相关联的问题有很多。冷却系统使样品振动；保持样品的恒定温度同样具有挑战。曾试图解决这些问题，但是没有解决方案提供了在不振动且同时保持样品温度的情况下支撑样品的可靠系统。一直需要一种使低温冷却样品有效地隔离冷却系统的振动同时将样品保持在稳定温度下的系统。
技术实现思路
提供了一种低温样品分析系统，所述低温样品分析系统可以包括：与系统周围的环境直接物理接触的系统壳体；在系统壳体内的样品台；和在样品台与壳体之间在操作上接合的谐振频率隔离组件。还提供了一种低温样品分析系统，其可以包括：与支撑和包围系统的环境直接物理接触的系统壳体；在系统内并在操作上联接到系统的冷头的样品台；和隔离组件，所...
【技术保护点】
一种低温样品分析系统，包括：与所述系统周围的环境直接物理接触的系统壳体；在系统壳体内的样品台；和谐振频率隔离组件，所述谐振频率隔离组件在操作上接合在样品台与壳体之间。
【技术特征摘要】
2016.03.11 US 62/307,3031.一种低温样品分析系统，包括：与所述系统周围的环境直接物理接触的系统壳体；在系统壳体内的样品台；和谐振频率隔离组件，所述谐振频率隔离组件在操作上接合在样品台与壳体之间。2.根据权利要求1所述的低温样品分析系统，其中，频率隔离组件包括悬挂重锤式构件的偏置机构，所述重锤式构件限定比样品台的质量大得多的质量。3.根据权利要求2所述的低温样品分析系统，其中，偏置机构包括一个或多个盘簧。4.根据权利要求3所述的低温样品分析系统，其中，重锤式构件通过一个或多个弹簧从系统壳体悬挂。5.根据权利要求2所述的低温样品分析系统，其中，偏置机构包括一个或多个板簧。6.根据权利要求5所述的低温样品分析系统，其中，重锤式构件通过一个或多个板簧被支撑在壳体内。7.根据权利要求1所述的低温样品分析系统，其中，样品台在操作上联接到冷头。8.根据权利要求7所述的低温样品分析系统，还包括围绕所述冷头的隔离壁。9.根据权利要求7所述的低温样品分析系统，还包括在样品台与谐振频率...
【专利技术属性】
技术研发人员：卡力伯·施赖贝斯，本·林肯霍克，卢克·马里特森，
申请(专利权)人：蒙大纳仪器公司，
类型：发明
国别省市：美国,US
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