一种EL测试机构制造技术

本发明专利技术涉及了一种EL测试机构。一种EL测试机构，它包括暗室箱体；暗室箱体的顶部设有函数信号发生器、功率放大器、数显电流表、数显电压表和数显亮度表；暗室箱体内侧底面上设有绝缘支撑板；绝缘支撑板的左端设有EL接插件；EL接插件与功率放大器的输出端连接；函数信号发生器输出端连接功率放大器的输入端；数显电流表与功率放大器输出端串联连接；数显电压表与功率放大器输出端并联连接；绝缘支撑板上方设有亮度测试探头；亮度测试探头与数显亮度表连接。本发明专利技术的一种EL测试机构，能测产品亮度，也能测量产品功率及频率，结构简单，操作方便，操作时间短，测量结果真实有效，造价低，适合工厂检验及制程中的现场半成品检验。

A EL testing mechanism

The invention relates to a EL testing mechanism. A test of EL mechanism, it includes the darkroom darkroom box; the top of the box body are provided with a function signal generator, power amplifier, digital ammeter, digital voltage meter and digital display brightness table; the insulating support plate is arranged on the bottom surface of the inside of the box chamber; an insulation supporting board whose left end is provided with a EL connector and EL connector; the output of the power amplifier is connected function signal generator; the output end is connected with the input terminal of the power amplifier; the output digital ammeter and the power amplifier output end connected in series; digital voltage meter and power amplifier end connected in parallel; insulating supporting plate is arranged above the brightness test probe; brightness test probe and display brightness table connection. A EL test mechanism of the present invention, can measure the product brightness, can measure the power and frequency of products, simple structure, convenient operation, short operation time, measurement results are real and effective, low cost, suitable for on-site inspection in the factory and process of semi-finished product inspection.

【技术实现步骤摘要】
一种EL测试机构
本专利技术涉及EL产品生产领域，特别是涉及一种EL测试机构。
技术介绍
EL冷光片以其新颖、轻薄、时尚、美观、节能、环保等特点在电脑及电脑零配件、手机及手机零配件、汽车及汽车零配件、户外广告等领域得到了广泛的应用，在生产过程中，确定EL冷光片的性能成为不可或缺的环节，目前市面上的测试仪一般都只能测量产品的亮度，却不能测试产品的功耗率，不能提供全面的测试需求，影响产品的最终质量。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种EL测试机构，不仅能够测量产品的亮度，同时能够测量产品的功率及频率，结构简单，操作方便，操作时间短，测量结果真实有效，造价低，适合工厂做进料检验及制程中的现场半成品检验。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种EL测试机构，它包括暗室箱体；所述暗室箱体的顶部设置有函数信号发生器、功率放大器、数显电流表、数显电压表和数显亮度表；所述暗室箱体内侧的底面上设置有绝缘支撑板；所述绝缘支撑板的上表面的左端设置有EL接插件；所述EL接插件与功率放大器的输出端连接；所述函数信号发生器的输出端连接功率放大器的输入端；所述数显电流表与功率放大器的输出端串联连接；所述数显电压表与功率放大器的输出端并联连接；所述绝缘支撑板的上表面的中间位置的上方设置有亮度测试探头；所述亮度测试探头与数显亮度表连接。所述绝缘支撑板的上表面铺设有待测EL片；所述待测EL片的左端与EL接插件连接；所述亮度测试探头贴在待测EL片上表面的中间位置。所述函数信号发生器的正面的面板上设置有电源开关、频率表和电压表；所述频率表的下方设置有频率调整旋钮；所述电压表的下方设置有电压调整旋钮。本专利技术的有益效果：本专利技术的一种EL测试机构，不仅能够测量产品的亮度，同时能够测量产品的功率及频率，结构简单，操作方便，操作时间短，测量结果真实有效，造价低，适合工厂做进料检验及制程中的现场半成品检验。附图说明图1为本实施的一种EL测试机构的示意图；图2为本实施的一种EL测试机构的函数信号发生器的面板的放大示意图。具体实施方式为了加深对本专利技术的理解，下面将结合附图和实施例对本专利技术做进一步详细描述，该实施例仅用于解释本专利技术，并不对本专利技术的保护范围构成限定。实施例如图1和图2所示，本实施提供了一种EL测试机构，它包括暗室箱体1；所述暗室箱体1的顶部设置有函数信号发生器2、功率放大器3、数显电流表4、数显电压表5和数显亮度表6；所述暗室箱体1内侧的底面上设置有绝缘支撑板9；所述绝缘支撑板9的上表面的左端设置有EL接插件7；所述EL接插件7与功率放大器3的输出端连接；所述函数信号发生器2的输出端连接功率放大器3的输入端；所述数显电流表4与功率放大器3的输出端串联连接；所述数显电压表5与功率放大器3的输出端并联连接；所述绝缘支撑板9的上表面的中间位置的上方设置有亮度测试探头8；所述亮度测试探头8与数显亮度表6连接；所述绝缘支撑板9的上表面铺设有待测EL片10；所述待测EL片10的左端与EL接插件7连接；所述亮度测试探头8贴在待测EL片10上表面的中间位置；所述函数信号发生器2的正面的面板上设置有电源开关11、频率表12和电压表13；所述频率表12的下方设置有频率调整旋钮；所述电压表13的下方设置有电压调整旋钮。本实施的一种EL测试机构，在使用时，将待测EL片置于绝缘支撑板上，并与接插件相连接；调节函数信号发生器上的频率旋率和电压旋钮调速到所需要的数值，调节好后，接通功率放大器的电源给待测EL片通电，然后，记录数显电流表、数显电压表和数显亮度表的值，以数显亮度表的值为分子、以数显电流表的值与数显电压表的值的积为分母，所得的比值即是功耗数比，数值越大说明性能越好。本实施的一种EL测试机构，不仅能够测量产品的亮度，同时能够测量产品的功率及频率，结构简单，操作方便，操作时间短，测量结果真实有效，造价低，适合工厂做进料检验及制程中的现场半成品检验。上述实施例不应以任何方式限制本专利技术，凡采用等同替换或等效转换的方式获得的技术方案均落在本专利技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种EL测试机构，其特征在于：它包括暗室箱体；所述暗室箱体的顶部设置有函数信号发生器、功率放大器、数显电流表、数显电压表和数显亮度表；所述暗室箱体内侧的底面上设置有绝缘支撑板；所述绝缘支撑板的上表面的左端设置有EL接插件；所述EL接插件与功率放大器的输出端连接；所述函数信号发生器的输出端连接功率放大器的输入端；所述数显电流表与功率放大器的输出端串联连接；所述数显电压表与功率放大器的输出端并联连接；所述绝缘支撑板的上表面的中间位置的上方设置有亮度测试探头；所述亮度测试探头与数显亮度表连接。

【技术特征摘要】
1.一种EL测试机构，其特征在于：它包括暗室箱体；所述暗室箱体的顶部设置有函数信号发生器、功率放大器、数显电流表、数显电压表和数显亮度表；所述暗室箱体内侧的底面上设置有绝缘支撑板；所述绝缘支撑板的上表面的左端设置有EL接插件；所述EL接插件与功率放大器的输出端连接；所述函数信号发生器的输出端连接功率放大器的输入端；所述数显电流表与功率放大器的输出端串联连接；所述数显电压表与功率放大器的输出端并联连接；所述绝缘支撑板的上表面的中间...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宝兵，顾德新，
申请(专利权)人：奇华光电昆山股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32