一种显示面板的老化测试系统及方法技术方案

技术编号:16218375 阅读:55 留言:0更新日期:2017-09-16 00:47
本发明专利技术公开了一种显示面板的老化测试系统及方法。该老化测试系统包括真空腔体、点灯机构、至少一个光谱仪和至少一个相机,其中,真空腔体用于老化显示面板,并且真空腔体设置点灯机构、光谱仪和相机;点灯机构用于点亮显示面板;光谱仪用于检测显示面板的色坐标和亮度;相机用于检测显示面板的子像素的暗点缺陷。因此,本发明专利技术能够节约检测的时长,提高检测效率,并且简化了显示面板的量产线的设计,节省检测设备,从而降低检测成本。

Aging test system and method for display panel

The invention discloses an aging test system and method for a display panel. The aging test system includes a vacuum chamber, the lighting mechanism, at least one spectrometer and at least one camera, the vacuum chamber for aging display panel, and the vacuum cavity is arranged lighting mechanism, spectrometer and camera; lighting mechanism for light display panel; spectral instrument for detecting the color coordinates and brightness of the display panel; a camera for detecting display the dark spot defect of sub-pixel panel. Therefore, the invention can save the detection time and improve the detection efficiency, and simplifies the design of the production line of the display panel, saves the detection equipment, thereby reducing the detection cost.

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板的老化测试系统及方法
本专利技术涉及显示
,尤其是涉及一种显示面板的老化测试系统及方法。
技术介绍
有机电激发光二极管(OLED)由于同时具备自发光,不需背光源、对比度高、厚度薄、视角广、反应速度快、可用于挠曲性面板、使用温度范围广、构造及制程较简单等优异之特性,被认为是下一代的平面显示器新兴应用技术。OLED器件结构是由阳极、阴极以及夹在阳极和阴极之间的有机功能层构成。其中的有机功能层包括HIL(空穴注入层)、HTL(空穴传输层)、EML(发光层)、ETL(电子传输层)、EIL(电子注入层)等层构成。为了扩大有机发光器件的应用范围并将有机发光器件商业化,已经发展增加该有机发光器件的效率和降低驱动电压的技术。OLED已经在中小尺寸得到广泛应用,大尺寸OLED电视已经开始商品化。和中小尺寸OLED相比,大尺寸OLED电视由于面积大,良率更难提升,生产时容易出现暗点、亮点等缺陷,在低灰阶下,暗点引起的mura(不均匀,有斑点)更明显。为解决上述缺陷,需要在OLED制程中加入在线老化工艺,通过在线老化来减少暗点等缺陷,提高大尺寸OLED面板良率。现有技术中,OLED显示面本文档来自技高网...
一种显示面板的老化测试系统及方法

【技术保护点】
一种显示面板的老化测试系统,其特征在于,所述老化测试系统包括真空腔体、点灯机构、至少一个光谱仪和至少一个相机,其中:所述真空腔体设置有用于老化所述显示面板的老化设备,并且所述真空腔体设置所述点灯机构、光谱仪和相机;所述点灯机构与所述显示面板电连接,用于点亮所述显示面板;所述至少一个光谱仪位于所述显示面板发出的光的光路上,用于检测所述显示面板的亮度和色坐标;所述至少一个相机位于所述显示面板发出的光的光路上,用于检测显示面板的子像素的暗点缺陷。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的老化测试系统,其特征在于,所述老化测试系统包括真空腔体、点灯机构、至少一个光谱仪和至少一个相机,其中:所述真空腔体设置有用于老化所述显示面板的老化设备,并且所述真空腔体设置所述点灯机构、光谱仪和相机;所述点灯机构与所述显示面板电连接,用于点亮所述显示面板;所述至少一个光谱仪位于所述显示面板发出的光的光路上,用于检测所述显示面板的亮度和色坐标;所述至少一个相机位于所述显示面板发出的光的光路上,用于检测显示面板的子像素的暗点缺陷。2.根据权利要求1所述的老化测试系统,其特征在于,所述老化测试系统还包括支撑台,用于支撑所述显示面板。3.根据权利要求2所述的老化测试系统,其特征在于,所述支撑台上设置有对位系统,所述对位系统用于对所述显示面板的位置进行调整。4.根据权利要求2所述的老化测试系统,其特征在于,所述真空腔体用于收容所述显示面板、点灯机构和支撑台,所述光谱仪和相...

【专利技术属性】
技术研发人员:涂爱国方俊雄吴聪原李金川姜亮魏锋
申请(专利权)人:深圳市华星光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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