测定方法及光插座技术

准备具有设置平面(141)、光学平面、以及基准平面(147)的光插座(140)。基准平面(147)相对于设置平面(141)的倾斜角度小于光学平面相对于设置平面(141)的倾斜角度。接着，测定作为基准平面(147)相对于设置平面(141)的倾斜角度的第一倾斜角度θ1、以及作为光学平面相对于基准平面(147)的倾斜角度的第二倾斜角度θ2。接着，将第一倾斜角度θ1与第二倾斜角度θ2加和来计算作为光学平面相对于设置平面(141)的倾斜角度的第三倾斜角度θ3。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测定方法及光插座
本专利技术涉及光插座中的、光学平面相对于设置平面的倾斜角度的测定方法、以及能够用该测定方法对光学平面的倾斜角度进行测定的光插座。
技术介绍
以往，在使用了光纤或光波导等光传输体的光通信中，使用具备面发射激光器(例如，VCSEL：VerticalCavitySurfaceEmittingLaser，垂直腔面发射激光器)等发光元件的光模块。光模块具有使从发光元件射出的包含通信信息的光向光传输体的端面入射的光插座。另外，光模块有时以相对于温度变化的发光元件的输出特性的稳定化或光输出的调整为目的，具有用于对从发光元件射出的光的强度或光量进行监视(monitor)的检测元件(例如，参照专利文献1)。专利文献1中记载了一种光模块，该光模块具有：光电转换装置，其包含发光元件和检测元件(受光元件)；以及光插座，其使发光元件与光传输体(光纤)的端面光学连接。另外，专利文献1中记载的光插座具有：第一面，其使从发光元件射出的光入射，且使监视光朝向受光元件射出；第一反射面，其使从发光元件射出并由第一面入射的光反射；光分离部，其将由第一反射面反射的光分离为朝向第一面的监视光和应耦合到光纤的端本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测定方法，使用激光探头以非接触式对光插座中的、光学平面相对于设置平面的倾斜角度进行测定，包括以下工序：准备具有设置平面、光学平面、以及基准平面的光插座的工序，所述基准平面相对于所述设置平面的倾斜角度小于所述光学平面相对于所述设置平面的倾斜角度；测定作为所述基准平面相对于所述设置平面的倾斜角度的第一倾斜角度的工序；测定作为所述光学平面相对于所述基准平面的倾斜角度的第二倾斜角度的工序；以及将所述第一倾斜角度和所述第二倾斜角度加和来计算作为所述光学平面相对于所述设置平面的倾斜角度的第三倾斜角度的工序。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.12.25 JP 2014-2633931.一种测定方法，使用激光探头以非接触式对光插座中的、光学平面相对于设置平面的倾斜角度进行测定，包括以下工序：准备具有设置平面、光学平面、以及基准平面的光插座的工序，所述基准平面相对于所述设置平面的倾斜角度小于所述光学平面相对于所述设置平面的倾斜角度；测定作为所述基准平面相对于所述设置平面的倾斜角度的第一倾斜角度的工序；测定作为所述光学平面相对于所述基准平面的倾斜角度的第二倾斜角度的工序；以及将所述第一倾斜角度和所述第二倾斜角度加和来计算作为所述光学平面相对于所述设置平面的倾斜角度的第三倾斜角度的工序。2.如权利要求1所述的测定方法，其中，在测定所述第一倾斜角度的工序与测定所述第二倾斜角度的工序之间，还包括使从所述光插座与从所述激光探头射出的激光的光轴相对地旋转的工序。3.如权利要求1或2所述的测定方法，其中，所述第三倾斜角度大于40°。4.如权利要求3所述的测定方法，其中，所述第三倾斜角度大于48°。5.如权利要求1至4中任意一项所述的测定方法，其中，所述第一倾斜角度和所述第二倾斜角度都为40°以下。6.一种光插座，其设置于光电转换装置与一个或两个以上的光传输体...

【专利技术属性】
技术研发人员：森冈心平，齐藤悠生，新见忠信，
申请(专利权)人：恩普乐股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本,JP